【技术实现步骤摘要】
一种太赫兹时域光谱检测装置
本申请涉及光谱技术相关领域，具体涉及一种太赫兹时域光谱检测装置。
技术介绍
现有的太赫兹时域光谱仪一般采用单一激光器，因此只能输出一组太赫兹信号，从而检测单组的被测样品。当需要检测多组被测样品，只能分步检测，无法同时检测多组被测样品。
技术实现思路
本申请提供一种太赫兹时域光谱检测装置，以解决现有技术中太赫兹时域光谱仪无法同时检测多组被测样品的问题。为解决上述技术问题，本申请提供了一种太赫兹时域光谱检测装置，所述太赫兹时域光谱检测装置包括：激励源，用于产生输出光束；第一光纤耦合器，与所述激励源耦接，用于将所述输出光束分为第一输出光束和第二输出光束；至少一个第二光纤耦合器，与所述第一光纤耦合器耦接，用于接收所述第一太赫兹信号，并将所述第一输出光束分为第一发射光束和第二发射光束；发射电路，与所述第二光纤耦合器耦接，用于从所述第二光纤耦合器接收到所述第一发射光束和第二发射光束，根据所述第一发射光束产生所述第一太赫兹发射信号，并发射至第一样品表面；根据所述第二发射光束产生所述第一太赫兹发射信号，并发射至第二样品表面；至少一个第三光纤耦合器，与所述第...
【技术保护点】
1.一种太赫兹时域光谱检测装置，其特征在于，所述太赫兹时域光谱检测装置包括：激励源，用于产生输出光束；第一光纤耦合器，与所述激励源耦接，用于将所述输出光束分为第一输出光束和第二输出光束；至少一个第二光纤耦合器，与所述第一光纤耦合器耦接，用于接收所述第一太赫兹信号，并将所述第一输出光束分为第一发射光束和第二发射光束；发射电路，与所述第二光纤耦合器耦接，用于从所述第二光纤耦合器接收到所述第一发射光束和第二发射光束，根据所述第一发射光束产生所述第一太赫兹发射信号，并发射至第一样品表面；根据所述第二发射光束产生所述第一太赫兹发射信号，并发射至第二样品表面；至少一个第三光纤耦合器，与...
【技术特征摘要】
1.一种太赫兹时域光谱检测装置，其特征在于，所述太赫兹时域光谱检测装置包括：激励源，用于产生输出光束；第一光纤耦合器，与所述激励源耦接，用于将所述输出光束分为第一输出光束和第二输出光束；至少一个第二光纤耦合器，与所述第一光纤耦合器耦接，用于接收所述第一太赫兹信号，并将所述第一输出光束分为第一发射光束和第二发射光束；发射电路，与所述第二光纤耦合器耦接，用于从所述第二光纤耦合器接收到所述第一发射光束和第二发射光束，根据所述第一发射光束产生所述第一太赫兹发射信号，并发射至第一样品表面；根据所述第二发射光束产生所述第一太赫兹发射信号，并发射至第二样品表面；至少一个第三光纤耦合器，与所述第一光纤耦合器耦接，用于接收所述第二输出光束，并将所述第二输出光束分为第一接收光束和第二接收光束；接收电路，与所述第三光纤耦合器耦接，用于接收通过所述第一样品表面的第一太赫兹发射信号和通过所述第二样品表面的第二太赫兹发射信号。2.根据权利要求1所述的太赫兹时域光谱检测装置，其特征在于，所述发射电路包括：第一光电导发射天线，与所述第二光纤耦合器耦接，用于从所述第二光纤耦合器接收到所述第一发射光束，并根据所述第一发射光束产生所述第一太赫兹发射信号，将所述第一太赫兹发射信号发射至所述第一样品表面；第二光电导发射天线，与所述第二光纤耦合器耦接，用于从所述第二光纤耦合器接收到所述第二发射光束，并根据所述第二发射光束产生所述第二太赫兹发射信号，将所述第二太赫兹发射信号发射至所述第二样品表面。3.根据权利要求2所述的太赫兹时域光谱检测装置，其特征在于，所述发射电路进一步包括：偏置电路，分别与所述第一光电导发射天线和所述第二光电导发射天线耦接，用于产生第一偏置电场；所述第一发射光束激发出所述第一光电导发射天线的第一载流子，所述第一载流子在所述第一偏置电场的作用下加速，形成第一光电流，所述第一光电流辐射出第一太赫兹发射信号；所述第一光电导发射天线进一步将所述第一太赫兹发射信号发射至所述第一样品表面；所述第二发射光束激发出所述第二光电导发射天线的第二载流子，所述第二载流子在所述第一偏置电场的作用下加速，形成第二光电流，所述第二光电流辐射出第二太赫兹发射信号；所述第二光电导发射天线进一步将所述第二太赫兹发射信号发射至所述第二样品表面。4.根据权利要求3所述的太赫兹时域光谱检测装置，其特征在于，所述接收电路包括：...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨正华，祁春超，谭信辉，
申请(专利权)人：深圳市华讯方舟太赫兹科技有限公司，华讯方舟科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44
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