高精度激光测长仪制造技术

本实用新型专利技术涉及了一种高精度激光测长仪，包括多层绝缘试件架，在所述绝缘试件架的两侧设有绝缘导轨，在所述绝缘导轨的一端设有金属固定挡板，另一端设有金属活动挡板，在所述金属固定挡板上对称设有一组高精度激光测距器，在所述高精度激光测距器上连接有数据显示屏，在所述绝缘导轨上开有金属固定挡板插槽、绝缘试件架插槽和金属活动挡板插槽。本实用新型专利技术具有直接获取试件长度数据，严格限制了试件测长时的位置及角度，避免了人为因素造成的干扰；采用一对激光测距装置，可消除由于一对挡板之间微小的不平行所造成的影响；采用电子闭合回路来保证试件的两端与挡板紧密接触；结构可靠，成本合理的优点。

High Precision Laser Length Measuring Instrument

The utility model relates to a high-precision laser length measuring instrument, which comprises a multi-layer insulated test stand, two sides of which are provided with insulated guideways, one end of which is provided with a metal fixed baffle, the other end with a metal movable baffle, and a set of high-precision laser rangefinders symmetrically arranged on the metal fixed baffle, which are connected with the high-precision laser rangefinder. A data display screen is connected, and a metal fixed baffle slot, an insulated specimen rack slot and a metal movable baffle slot are arranged on the insulated guide rail. The utility model has the advantages of direct acquisition of the length data of the test piece, strict restriction of the position and angle of the test piece in length measurement, avoidance of interference caused by human factors, adoption of a pair of laser ranging devices, elimination of the influence caused by a small non-parallel between the two baffles, adoption of electronic closed loop to ensure close contact between the two ends of the test piece and the baffle, reliable structure and reasonable cost. Advantages.

【技术实现步骤摘要】
高精度激光测长仪
本技术涉及一种测长装置，特别是一种水泥胶砂试件用高精度激光测长仪。
技术介绍
传统的水泥胶砂试件测长仪由底座、支杆、千分表、标准杆组成，虽然结构简单，但在测长时对试件缺乏必要的约束，加之试验要求精确至微米级别，试件的测量方向、测量时的旋转角度、试验人员操作手法的差异等都会对检测结果产生较大影响，如试件测长过程中的摆放角度稍有不同，测量数据便会剧烈浮动，检测数据的重复性和再现性很差。总之，操作耗时费力，且精确度无法保证。
技术实现思路
本技术的目的是为了克服以上的不足，涉及一种结构合理、避免干扰、测量精准的高精度激光测长仪。本技术的目的通过以下技术方案来实现：一种高精度激光测长仪，包括多层绝缘试件架，在所述绝缘试件架的两侧设有绝缘导轨，在所述绝缘导轨的一端设有金属固定挡板，另一端设有金属活动挡板，在所述金属固定挡板上对称设有一组高精度激光测距器，在所述高精度激光测距器上连接有数据显示屏，在所述绝缘导轨上开有金属固定挡板插槽、绝缘试件架插槽和金属活动挡板插槽。本技术与现有技术相比具有的优点：1.摒弃了传统的标准杆，直接获取试件长度数据，不需要每次测量前进行校准；2.严格限制了试件测长时的位置及角度，避免了人为因素造成的干扰；3.采用一对激光测距装置，可消除由于一对挡板之间微小的不平行所造成的影响；4.采用电子闭合回路来保证试件的两端与挡板紧密接触；结构可靠，成本合理。附图说明：图1为本技术的结构示意图；图2为绝缘导轨侧视图；图3为金属活动挡板侧视图；图中标号：1-绝缘导轨、2-金属活动挡板、3-金属固定挡板、4-绝缘试件架、5-高精度激光测距器、6-数据显示屏、2-1-金属活动挡板插槽、3-1-金属固定挡板插槽、4-1-绝缘试件架插槽、7-待测试件。具体实施方式：为了加深对本技术的理解，下面将结合实施例和附图对本专利技术作进一步详述，该实施例仅用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术保护范围的限定。如图1-3示出了本技术一种高精度激光测长仪的具体实施方式：包括多层绝缘试件架4，在所述绝缘试件架4的两侧设有绝缘导轨1，在所述绝缘导轨1的一端设有金属固定挡板3，另一端设有金属活动挡板2，在所述金属固定挡板3上对称设有一组高精度激光测距器5，在所述高精度激光测距器5上连接有数据显示屏6，在所述绝缘导轨1上开有金属固定挡板插槽3-1、绝缘试件架插槽4-1和金属活动挡板插槽2-1。本技术摒弃了传统的标准杆，直接获取试件长度数据，不需要每次测量前进行校准；严格限制了试件测长时的位置及角度，避免了人为因素造成的干扰；采用一对激光测距装置，可消除由于一对挡板之间微小的不平行所造成的影响；采用电子闭合回路来保证试件的两端与挡板紧密接触；结构可靠，成本合理。测长时需将试件放置于试件架上，使试件一端的铜质测头与金属固定挡板相接触，然后移动金属活动挡板使之与试件另一端的铜质测头相接触，此时由于电路闭合，显示屏提示接触良好，并显示一对高精度激光测距器所测得的两个数据及其平均值，该平均值即为试件真实长度。申请人又一声明，本技术通过上述实施例来说明本技术的实现方法及装置结构，但本技术并不局限于上述实施方式，即不意味着本技术必须依赖上述方法及结构才能实施。所属
的技术人员应该明了，对本技术的任何改进，对本技术所选用实现方法等效替换及步骤的添加、具体方式的选择等，均落在本技术的保护范围和公开的范围之内。本技术并不限于上述实施方式，凡采用和本技术相似结构及其方法来实现本技术目的的所有方式，均在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高精度激光测长仪，其特征在于：包括多层绝缘试件架（4），在所述绝缘试件架（4）的两侧设有绝缘导轨（1），在所述绝缘导轨（1）的一端设有金属固定挡板（3），另一端设有金属活动挡板（2），在所述金属固定挡板（3）上对称设有一组高精度激光测距器（5），在所述高精度激光测距器（5）上连接有数据显示屏（6），在所述绝缘导轨（1）上开有金属固定挡板插槽（3‑1）、绝缘试件架插槽（4‑1）和金属活动挡板插槽（2‑1）。

【技术特征摘要】
1.一种高精度激光测长仪，其特征在于：包括多层绝缘试件架（4），在所述绝缘试件架（4）的两侧设有绝缘导轨（1），在所述绝缘导轨（1）的一端设有金属固定挡板（3），另一端设有金属活动挡板（2），在所述金属固定挡...

【专利技术属性】
技术研发人员：王雁飞，龚燕华，陈成，朱益祥，许志伟，翟小勇，陆俊，李甜，
申请(专利权)人：南通市建设工程质量检测站有限公司，南通市建筑科学研究院有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32