数字测试装置及系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种数字测试装置及系统，涉及集成电路测试技术领域。该数字测试装置包括控制器、信号发生器、至少两个接口单元、脉冲发生器、比较器及存储器，其中，所述存储器预先存储有激励信号。所述信号发生器与所述控制器连接；所述至少两个接口单元与所述控制器连接；所述脉冲发生器与所述控制器连接；所述比较器与所述控制器连接；所述存储器与所述控制器连接。本方案提供的数字测试装置及系统结构简单，易于实现，利用至少两个接口单元，可同时对多个待测芯片进行测试，进而有助于提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
数字测试装置及系统
本技术涉及集成电路测试
，具体而言，涉及一种数字测试装置及系统。
技术介绍
随着科技智能化的发展，越来越多企业加大了对集成电路芯片的研究力度，使得国内集成电路芯片的供应逐渐摆脱对进口的依赖。例如，当前在很多智能手机上得到大量应用的触摸屏控制芯片便为国内企业完成研发设计的。而在一个芯片由设计到最终成熟产品完成的过程中，为保证芯片的质量和性能，集成电路芯片的研发企业及生产厂家则需要对大量的芯片进行相关测试。在大多数测试场合中，均由人工进行测试。比如，在芯片的批量生产过程中，由于设备和操作者的各种可能的因素(比如设备器件之间的尺寸差异、性能差异等)，无法保证生产出来的芯片全部都是完好品。也就是在生产的末端需要加入各种的测试设备和测试工具，以保证出厂的所有实装电路板或芯片与设计的各种规格和参数完全一致。一般由于工厂生产量大，而目前国内测试设备测试速率和通道数有限(100MHz/256通道以下),难以实现同时测量多颗高速数字芯片，因此只能降频率小批量测试,使得良率和生产效率都很差，难以做到高效的测试。
技术实现思路
为了克服上述现有技术中的不足，本技术提供一种结构简单实用的数本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种数字测试装置，用于测试待测芯片，其特征在于，包括控制器、信号发生器、至少两个接口单元、脉冲发生器、比较器及存储器，其中，所述存储器预先存储有激励信号；所述信号发生器与所述控制器连接；所述至少两个接口单元与所述控制器连接；所述脉冲发生器与所述控制器连接；所述比较器与所述控制器连接；所述存储器与所述控制器连接。

【技术特征摘要】
1.一种数字测试装置，用于测试待测芯片，其特征在于，包括控制器、信号发生器、至少两个接口单元、脉冲发生器、比较器及存储器，其中，所述存储器预先存储有激励信号；所述信号发生器与所述控制器连接；所述至少两个接口单元与所述控制器连接；所述脉冲发生器与所述控制器连接；所述比较器与所述控制器连接；所述存储器与所述控制器连接。2.根据权利要求1所述的数字测试装置，其特征在于，所述数字测试装置还包括总线单元，所述控制器通过所述总线单元与所述至少两个接口单元连接。3.根据权利要求1所述的数字测试装置，其特征在于，所述数字测试装置还包括：用于固定所述待测芯片的固定部；与所述固定部传动连接以带动所述固定部运动的第一驱动部，其中，所述固定部在所述第一驱动部的带动下，用于将所述待测芯片插接在所述接口单元上，或用于将所述待测芯片从所述接口单元拔出。4.根据权利要求3所述的数字测试装置，其特征在于，所述固定部开设有用于卡持所述待测芯片的卡槽。5.根据权利要求4所述的数字测试装置，其特征在于，所述卡槽中设...

【专利技术属性】
技术研发人员：张悦，
申请(专利权)人：北京悦芯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11