【技术实现步骤摘要】
一种抗氧化膜后电性能测试治具
本技术涉及PCB检测领域,具体为一种抗氧化膜后电性能测试治具。
技术介绍
随着印制线路板的发展,越来越多的板子表面处理方式由喷锡、镀金,更改为镀防氧化膜。PCB产品表面经过镀防氧化膜处理后,普通治具探针扎不透防氧化膜,造成测试开路,形成误测,从而导致测试效率低下。行业内80%高阶客户的产品都是抗氧化后进行测试,但是使用普通的测试治具效果难以达到理想的状态。为了改善抗氧化膜板的测试效率,需加强测试探针对抗氧化膜的穿透力,以便探针可与铜面充分接触,从而提高测试效率,但是在提升治具测试良率的同时也要保证镀膜的保护层不被严重损坏。常用的抗氧化膜后电性能测试治具针头锥度多为45度,穿透效果不好,容易破坏镀膜,且长度往往不可调节,检测效果不好,使用不便。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种抗氧化膜后电性能测试治具,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种抗氧化膜后电性能测试治具,包括针杆,所述针杆下端设置有针头座,所述针头座中安装有针头,所述针杆远离针头座一端外表面上套设有外管,所述外管下端固定连接有夹紧座,所 ...
【技术保护点】
1.一种抗氧化膜后电性能测试治具,包括针杆(1),其特征在于:所述针杆(1)下端设置有针头座(11),所述针头座(11)中安装有针头(5),所述针杆(1)远离针头座(11)一端外表面上套设有外管(2),所述外管(2)下端固定连接有夹紧座(4),所述夹紧座(4)包括安装座(401)、弹簧座(402)以及若干夹紧爪(403),所述夹紧爪(403)外表面上套设有夹紧套(3),所述夹紧套(3)的套头(301)安装在弹簧座(402)中。
【技术特征摘要】
1.一种抗氧化膜后电性能测试治具,包括针杆(1),其特征在于:所述针杆(1)下端设置有针头座(11),所述针头座(11)中安装有针头(5),所述针杆(1)远离针头座(11)一端外表面上套设有外管(2),所述外管(2)下端固定连接有夹紧座(4),所述夹紧座(4)包括安装座(401)、弹簧座(402)以及若干夹紧爪(403),所述夹紧爪(403)外表面上套设有夹紧套(3),所述夹紧套(3)的套头(301)安装在弹簧座(402)中。2.根据权利要求1所述的一种抗氧化膜后电性能测试治具,其特征在于:所述安装座(401)与外管(2)下端固定连接,所述弹簧座(402)下端圆周外表面上阵列分布有若干挡块(404),所述挡块(404)上方设置安装有环形的弹簧垫(405),所述弹簧垫(405)的上表面与弹簧座(402)的内部顶端之间设置安装有弹簧(406),所述弹簧(406)套在弹簧座(402)上。3.根据权利要求2所述的一种抗氧化膜后电性能测试治具,其特征在于:所述套头(301)圆周内表面上阵...
【专利技术属性】
技术研发人员:苏军梅,
申请(专利权)人:苏州市高威电子有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏,32
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