一种电路板电性能测试装置制造方法及图纸

本申请公开了一种电路板电性能测试装置，测试装置包括飞针座、支架座、两个飞针支架、两个测试件。所述支架座固定于所述飞针座上。所述两个飞针支架间隔设置且分别固定于所述支架座上，其中所述两个飞针支架之间的距离在远离所述支架座的方向上逐渐减小。所述两个测试件分别固定于所述两个飞针支架的远离所述支架座的一端上，所述两个测试件用于一同接触所述电路板。通过上述方式，本申请能够增强测试装置的结构稳定性。

【技术实现步骤摘要】
一种电路板电性能测试装置
本申请涉及电路板测试
，特别是涉及一种电路板电性能测试装置。
技术介绍
随着电子技术的迅猛发展，PCB印制电路板的制作层数越来越高、线路密度越来越密、焊盘尺寸越做越小，集成度的要求越来越高。通常情况下，PCB的开短路测试测试参数值中的开路阻抗设为25Ω，线路阻值大于25Ω时机器判断为开路，小于25Ω时机器判断为合格，对于阻值小于25Ω的线路则无法精确测试出其实际电阻值，25Ω以下的线路成为测试盲区。在实际生产中发现PCB的某些缺陷，如孔内无铜、空洞、铜薄、线幼、线路缺口等问题均会影响到线路阻值。因此飞针测试是重要的一个环节。现有的测试设备，结构复杂、结构可靠性低，难以进行有效的测试。
技术实现思路
本申请主要解决的技术问题是提供一种电路板电性能测试装置，能够解决现有技术中测试装置结构复杂、结构性能较差等问题。为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种电路板电性能测试装置，包括飞针座、支架座、两个飞针支架、两个测试件。所述支架座固定于所述飞针座上。所述两个飞针支架间隔设置且分别固定于所述支架座上，其中所述两个飞针支架之间的距离在远离所述支架座的方向本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电路板电性能测试装置，其特征在于，包括：飞针座；支架座，所述支架座固定于所述飞针座上；两个飞针支架，所述两个飞针支架间隔设置且分别固定于所述支架座上，其中所述两个飞针支架之间的距离在远离所述支架座的方向上逐渐减小；两个测试件，所述两个测试件分别固定于所述两个飞针支架的远离所述支架座的一端上，所述两个测试件用于一同接触所述电路板。

【技术特征摘要】
1.一种电路板电性能测试装置，其特征在于，包括：飞针座；支架座，所述支架座固定于所述飞针座上；两个飞针支架，所述两个飞针支架间隔设置且分别固定于所述支架座上，其中所述两个飞针支架之间的距离在远离所述支架座的方向上逐渐减小；两个测试件，所述两个测试件分别固定于所述两个飞针支架的远离所述支架座的一端上，所述两个测试件用于一同接触所述电路板。2.根据权利要求1所述的电路板电性能测试装置，其特征在于：所述两个飞针支架固定于所述支架座彼此相背且呈楔形设置的两侧面上，其中每个所述飞针支架呈框形设置，每个所述飞针支架包括围设成所述框形的第一支架臂、第二支架臂、第一连接臂和第二连接臂，其中所述第一支架臂和所述第二支架臂相对设置，所述第一连接臂和所述第二连接臂相对设置且分别连接于所述第一支架臂和所述第二支架臂之间，所述第一支架臂与所述第一连接臂的连接位置处邻近所述支架座，所述第二支架臂与所述第二连接臂的连接位置处邻近所述测试件。3.根据权利要求2所述的电路板电性能测试装置，其特征在于：所述第一支架臂和所述第二支架臂上分别开设有多个减重孔，其中所述第一支架臂上开设的所述减重孔的数量少于所述第二支架臂上开设的所述减重孔的数量。4.根据权利要求2所述的电路板电性能测试装置，其特征在于：所述装置进一步包括光电感应器，设置于所述飞针座上，用于在所述测试件接触所述电路板时对所述飞针支架产生的位移进行检测。5.根据权利要求4所述的电路板电性能测试装置，其特征在于：所述装置进一步包括感应器座，所述感应器座固定于所述飞针座上，所述光电感应器设置于所述感应器座上，且所述光电感应器邻近所述两个飞针支架中的一个设置，以对其所邻近的所述飞针支架的位移进行检测。6.根据权利要求5所述的电路板电性能测试装置，其特征在于：所述光电感应器进...

【专利技术属性】
技术研发人员：金章，王成勇，何娟，王双林，
申请(专利权)人：深南电路股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44