一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备制造技术

本实用新型专利技术提供一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，包括一测试台装置，测试台装置包括一测试平台、点光源以及遮光围挡；点光源安装在测试平台的上方；遮光围挡安装在测试平台的上方，遮光围挡的中央为一上下贯穿的镂空区域，点光源位于镂空区域；还包括一待测膜夹片装置，待测膜夹片装置覆盖在遮光围挡的上方；待测膜夹片装置包括一用于承载待检测光学膜的载膜片以及用于压设在待检测光学膜上方的压膜片，载膜片设置在压膜片的下方。通过测试台装置与待测膜夹片装置，使待检测光学膜与点光源之间保持确定的间距，从而在待测光学膜的上方呈现出特定的圆形光斑，通过测量圆形光斑的直径尺寸或者圆度，来判断待检测光学膜中是否合格。

【技术实现步骤摘要】
一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备
本技术涉及检测
，具体涉及光学检测装置。
技术介绍
目前，人们已经能够制作出直径非常小的透镜与透镜阵列，这种透镜与透镜阵列通常是不能被人眼识别的，只有用显微镜、扫描电镜、原子力显微镜等设备才能观察到，这就是微透镜和微透镜阵列。3D动态立体显示防伪光学膜片，是一类微透镜阵列与阵列图像或文字相结合的防伪用光学膜片产品。产品突破了传统的微缩技术，利用莫尔放大-焦平面成像原理，通过构筑有序的微透镜阵列，使膜片呈现出独特的3D立体景深效果。光学膜片移动时，图形神似水面滑动，左右运动时图形在垂直方向做反向正交滑动，上下转动时图形左右运动，实现了动态立体显示。然而，在现实生产过程中，用于生产3D动态立体显示防伪光学膜片的微透镜阵列微结构光学膜，并没有很好的检测手段，来判断其内部微透镜阵列是否合格，采用放大镜只能逐个观察细微结构，并不能很好的确定宏观上微透镜阵列里面的微透镜是否畸变，阵列是否均匀一致；只能采用小批量试制的方法，试制成3D动态立体显示防伪光学膜片，通过成品的视觉观察，来判断该批次微透镜阵列微结构光学膜是否合格，再来组织批量生产。而微透镜阵列微结构光学膜的生产过程中存在诸多不确定因素，如果仅能通过采用试制的方式来判断微透镜阵列微结构光学膜的质量好坏，显然对微透镜阵列微结构光学膜的生产企业存在着太大的风险。因此，急需开发出一种微透镜阵列微结构光学膜检测设备，来宏观的、快捷的判断膜内微透镜阵列的结构好坏、及微结构畸变趋势，用来反馈生产过程，及时进行在产产品的调整，提高成品率，降低质量风险。
技术实现思路
针对现有技术存在的问题，本技术提供一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，已解决上述至少一个技术问题。本技术的技术方案是：一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，其特征在于，包括一测试台装置，所述测试台装置包括一测试平台、点光源以及遮光围挡；所述点光源安装在所述测试平台的上方，所述点光源的发光方向朝上；所述遮光围挡安装在所述测试平台的上方，所述遮光围挡的中央为一上下贯穿的镂空区域，所述点光源位于所述镂空区域；还包括一待测膜夹片装置，所述待测膜夹片装置覆盖在所述遮光围挡的上方，所述待测膜夹片装置、所述遮光围挡以及所述测试平台三者围成一容纳所述点光源的空腔；所述待测膜夹片装置包括一用于承载待检测光学膜的载膜片以及用于压设在待检测光学膜上方的压膜片，所述载膜片设置在所述压膜片的下方。本专利通过测试台装置与待测膜夹片装置共同作用，可以使待检测光学膜与所述点光源之间保持确定的间距，及平行，从而在待测光学膜的上方呈现出特定的圆形光斑，通过测量所述圆形光斑的直径尺寸，或者圆度，可以来判断所述待检测光学膜中微结构的形状及一致性是否合格。待检测光学膜包括一PET基材以及涂布在PET基材表面的微透镜阵列结构。检测时，PET基材位于微投资阵列结构的下方进行放置。进一步优选为，所述遮光围挡是遮光材料制成的遮光围挡。也可以是，所述遮光围挡包括环状基体以及涂覆在环状基体内侧或者外侧的遮光涂层。进而实现遮光性，避免外界光源的干扰。进一步优选为，所述遮光围挡包括一固定子遮光围挡，所述固定子遮光围挡固定安装在所述测试平台的上方。所述遮光围挡还包括至少一个活动子遮光围挡，活动子遮光围挡堆叠在所述固定子遮光围挡的上方。便于根据多个活动子遮光围挡，进而实现不同的待检测光学膜与点光源的距离需求。所述固定子遮光围挡或活动子遮光围挡的外缘设有向上延伸的限位装置。便于实现堆叠时的相互限位。活动子遮光围挡的外缘设有向上延伸的限位装置。便于实现多个活动子遮光围挡的堆叠时的限位，也可以实现当活动子遮光围挡的外轮廓、载膜片的外轮廓以及压膜片的外轮廓三者一致的情况下，对载膜片、压膜片安装的限位。所述压膜片上设置有合格的待测光学膜经点光源照射构成的圆形光斑的外圆形状相匹配的圆形轮廓标识。便于通过圆形轮廓标识与实际测试的圆形光斑做比较，判断样品是否合格。所述压膜片上还设置有经过圆形轮廓标识的圆心的直线状标识。进一步提高比较效果。不同的压膜片上设有特定待检测光学膜在特定距离下经点光源照射后，形成的特定圆形光斑的圆形轮廓标识及直线状标识。便于针对不同的检测条件，更换不同的压膜片作为标准参照片。进一步优选为，所述点光源为单点LED光源，所述点光源的照度大于1000勒克斯。进一步优选为，所述载膜片是聚碳酸脂板材制成载膜片。所述载膜片的厚度为0.05cm。不会对光照射待检测光学膜产生光学影响。进一步优选为，还包括一CCD装置，所述CCD装置位于所述待测膜夹片装置的正上方，所述CCD装置的采集方向朝下。便于捕获待测光学膜的上方呈现出的圆形光斑，通过连接计算机后进行处理分析，对该圆形光斑的形状进行判断，是否符合标准要求。附图说明图1为本技术的一种结构示意图；图2为本技术测试台装置的一种结构示意图；图3为本技术一种分解图；图4为本技术圆形光斑的一种呈现效果示意图。图中：1为测试台装置，2为待测膜夹片装置，3为待测光学膜，11为测试平台，12为固定子遮光围挡，13为点光源，14为活动子遮光围挡，15为限位部件，21为载膜片，22为压膜片，23为外圆形状，24为直径轨迹线，31为圆形光斑，32为超出光斑区域。具体实施方式下面结合附图对本技术做进一步的说明。参见图1，一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，包括测试台装置1，及待测膜夹片装置2。参见图2，测试台装置包括一测试平台、点光源以及遮光围挡；点光源安装在测试平台的上方，点光源的发光方向朝上；遮光围挡安装在测试平台的上方，且围设在点光源的外围。遮光围挡包括一固定子遮光围挡12，固定子遮光围挡12固定安装在测试平台的上方。点光源13的驱动电源、散热元件均设置在测试平台11上。根据测试要求，点光源13距固定子遮光围挡12的上边缘距离设置为特定值，本实施例中，点光源13距固定子遮光围挡12的上边缘距离设置为0.95cm。遮光围挡还包括至少一个活动子遮光围挡14，活动子遮光围挡14堆叠在固定子遮光围挡的上方。图2展示的是一个固定子遮光围挡以及一个活动子遮光围挡的形式。活动子遮光围挡14的截面形状与固定子遮光围挡12的截面形状一致；活动子遮光围挡14的四侧面上设有限位部件15；当根据测试要求，待测膜需要距离点光源的距离加大时，可以在固定子遮光围挡12上加设活动子遮光围挡14，限位部件15将活动子遮光围挡14固定在固定子遮光围挡12上。本实施例中，活动子遮光围挡14的厚度为1cm，可根据检测需要，叠加一个或若干个。限位部件可以是固定子遮光围挡，或活动子遮光围挡的外缘向上延伸的限位装置。便于实现堆叠时的相互限位。遮光围挡是遮光材料制成的遮光围挡。遮光材料可以是不透明材料。可以是金属、不透明材料或者其他遮光材料。也可以是，遮光围挡包括环状基体以及涂覆在环状基体内侧或者外侧的遮光涂层。进而实现遮光性，避免外界光源的干扰。如图4所示，测试时，在测试台装置1上设置待测膜夹片装置2，待测膜夹片装置2包括设置在测试台装置1上的载膜片21及压膜片22。载膜片21的长度大于测试台装置1上固定子遮光围挡12，或活动子遮光围挡14的镂空区域的长度。载膜片21的宽度大于固定本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，其特征在于，包括一测试台装置，所述测试台装置包括一测试平台、点光源以及遮光围挡；所述点光源安装在所述测试平台的上方，所述点光源的发光方向朝上；所述遮光围挡安装在所述测试平台的上方，所述遮光围挡的中央为一上下贯穿的镂空区域，所述点光源位于所述镂空区域；还包括一待测膜夹片装置，所述待测膜夹片装置覆盖在所述遮光围挡的上方，所述待测膜夹片装置、所述遮光围挡以及所述测试平台三者围成一容纳所述点光源的空腔；所述待测膜夹片装置包括一用于承载待检测光学膜的载膜片以及用于压设在待检测光学膜上方的压膜片，所述载膜片设置在所述压膜片的下方。

【技术特征摘要】
1.一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，其特征在于，包括一测试台装置，所述测试台装置包括一测试平台、点光源以及遮光围挡；所述点光源安装在所述测试平台的上方，所述点光源的发光方向朝上；所述遮光围挡安装在所述测试平台的上方，所述遮光围挡的中央为一上下贯穿的镂空区域，所述点光源位于所述镂空区域；还包括一待测膜夹片装置，所述待测膜夹片装置覆盖在所述遮光围挡的上方，所述待测膜夹片装置、所述遮光围挡以及所述测试平台三者围成一容纳所述点光源的空腔；所述待测膜夹片装置包括一用于承载待检测光学膜的载膜片以及用于压设在待检测光学膜上方的压膜片，所述载膜片设置在所述压膜片的下方。2.根据权利要求1所述的一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，其特征在于：所述遮光围挡是遮光材料制成的遮光围挡。3.根据权利要求1所述的一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，其特征在于：所述遮光围挡包括环状基体以及涂覆在环状基体内侧或者外侧的遮光涂层。4.根据权利要求1所述的一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，其特征在于：所述遮光围挡包括一固定子遮光围挡...

【专利技术属性】
技术研发人员：周永南，冯煜，
申请(专利权)人：江阴通利光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32