一种测试座及其寿命监控方法技术

本申请提供了一种测试座及其寿命监控方法，该测试座包括测试座主体，用于对电子产品进行测试；计数装置，连接测试座主体，在测试座主体输出测试结果时，计数装置输出计数，且每次输出的计数相对于前次输出的计数加一。本申请的有益效果是：本申请提供的测试座及其寿命监控方法中，将测试座中配备计数装置，在测试座输出结果时，计数装置同时输出计数，并且计数装置每次输出的计数会加一，从而通过此计数便可得知测试座的使用次数，从而得知测试座的使用寿命，能够对测试座的使用寿命进行监控，以方便进行及时的更换或者停用，方便快捷，并且十分适合应用于自动化工厂。

A Testing Base and Its Life Monitoring Method

This application provides a test seat and its life monitoring method. The test seat includes the main body of the test seat for testing electronic products. The counting device connects the main body of the test seat. When the main body of the test seat outputs the test results, the counting device outputs the counting, and the counting of each output is one more than the counting of the previous output. The beneficial effect of this application is that the test seat and its life monitoring method provided in this application are equipped with a counting device. When the test seat outputs the results, the counting device outputs the counting at the same time, and the counting device outputs the counting number one at a time. Through this counting, the number of times of use of the test seat can be known, so as to know the service life of the test seat and to be able to measure. The service life of the test stand is monitored to facilitate timely replacement or shutdown, convenient and fast, and is very suitable for application in automation plants.

【技术实现步骤摘要】
一种测试座及其寿命监控方法
本本申请涉及电学
，特别是涉及一种测试座及其寿命监控方法。
技术介绍
在一些电子产品的生产测试环节中，通常会使用测试座来对电子产品进行测试。测试座的可靠接触关系到生产良率的稳定性，每种测试座都有标准的使用寿命，如果超过了使用寿命就会导致生产良率不可预测性地降低，由此带来巨大的经济损失。现有对测试座的管控一般都是采取人工管控的方式，无规律性，效率低。若是由于更换测试种类而导致测试座与主板分离，更加无法管控。而例如，现有测试座的寿命管控方式只能通过人工目检的方式，比如看到警示灯等方式来进行更换，这个对24小时循环工作的自动化工厂来说是不可接受的低效率。
技术实现思路
为解决上述问题，本申请提供了一种测试座及其寿命监控方法，通过在测试座中添加计数装置，以智能的确定测试座的寿命，实现测试座的自动化管控。为解决上述技术问题，本申请采用的第一个技术方案为：提供一种测试座，该测试座包括：测试座主体，用于对电子产品进行测试；计数装置，连接测试座主体，在测试座主体输出测试结果时，计数装置输出计数，且每次输出的计数相对于前次输出的计数加一。其中，计数装置为IC芯片。其中，测试座主体包括下针板，下针板用于连接电子产品并对电子产品进行测试，IC芯片通信连接下针板。其中，测试座主体还包括上针板，上针板与下针板连接，并覆盖下针板，上针板在对应下针板连接电子产品的位置上形成有第一开口。其中，测试座主体进一步包括底框与座头，底框连接上针板，且与第一开口对应的位置上形成有第二开口，座头的一端与底框的一端转动连接，座头的另一端与底框的另一端可拆卸连接，IC芯片设置于底框与座头之间。其中，测试座主体进一步包括限位框，底框的中部设置有容纳槽，限位框设置于容纳槽中，IC芯片设置于限位框中。其中，下针板上设置有多个探针，探针穿过上针板以及限位框，与IC芯片连接。其中，限位框朝向座头的一侧设置有凹槽，IC芯片设置于凹槽中，测试座主体进一步包括压板，压板与限位框连接并覆盖凹槽。为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案为：提供一种测试座寿命监控方法，该方法包括：获取测试座的测试结果以及使用计数，其中，使用计数每输出一次便计数加一；判断使用计数是否达到预设数字；若达到，则发送警报信号，或发送停用该测试座的指令至测试座或其控制系统。为解决上述技术问题，本申请采用的又一个技术方案为：提供一种测试座寿命监控方法，该方法包括：获取测试座的测试结果以及使用计数，其中，使用计数每输出一次便计数加一；将使用计数发送至云端；根据云端反馈的结果，判断测试座的是否到达预定寿命。本申请的有益效果是：本申请提供的测试座及其寿命监控方法中，将测试座中配备计数装置，在测试座输出结果时，计数装置同时输出计数，并且计数装置每次输出的计数会加一，从而通过此计数便可得知测试座的使用次数，从而得知测试座的使用寿命，能够对测试座的使用寿命进行监控，以方便进行及时的更换或者停用，方便快捷，并且十分适合应用于自动化工厂。附图说明图1是本申请测试座的第一实施例的分解结构示意图；图2是本申请测试座寿命监控方法的第一实施方式的流程图；图3是本申请测试座寿命监控方法的第二实施方式的流程图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，均属于本专利技术保护的范围。为克服相关技术中存在的测试座的寿命需要人工进行监控的问题，本申请提供一种测试座及其寿命监控方法。请参阅图1，图1是本申请测试座的第一实施例的分解结构示意图。在本实施方式中，测试座包括测试座主体以及计数装置。计数装置连接测试座主体，在测试座主体输出测试结果时，计数装置输出计数，且每次输出的计数相对于前次输出的计数加一。例如，测试座主体第一次输出测试结果时，计数装置输出计数为1，测试座第二次输出测试结果时，计数装置输出计数为2……测试座主体第n此输出测试结果时，计数装置输出计数为n。也就是说，计数装置输出的计数，代表着测试座进行测试的次数。在本实施方式中，计数装置为IC(IntegratedCircuit，集成电路)芯片(未图示)。并且，是非易失存储的IC芯片。测试座主体包括下针板1、上针板5、底框6、座头10以及限位框7。其中，下针板1、上针板5、底框6与座头10依次排列。下针板1用于连接电子产品3并对电子产品3进行测试，IC芯片通信连接下针板1。上针板5与下针板1连接，并覆盖下针板1，上针板5在对应下针板1连接电子产品3的位置上形成有第一开口51。下针板1上设置有第一定位销4，上针板上对应设置有第一定位孔13，第一定位销4与第一定位孔13配合，完成上针板5与下针板1的连接并固定。其中，下针板1对应电子产品3的位置设置有双头针，双头针用于连接下针板1以及电子产品3，以使下针板1对电子产品3进行测试或固定。实际上，测试座的寿命主要体现在双头针的寿命上，当测试座的寿命到达时，可仅对双头针进行更换。底框6连接上针板5，且与第一开口51对应的位置上形成有第二开口61。座头10的一端与底框6的一端转动连接，座头10的另一端与底框6的另一端可拆卸连接。IC芯片设置于底框6与座头10之间。具体的，上针板5的相对两侧设置有内凹结构，底框6的相对两侧设置有凸出结构12，凸出结构12与内凹结构相配合，以使底框6夹持上针板5。该凸出结构12沿底框6的相对两侧向远离座头10的方向延伸。另外，在上针板5上设置有第二定位销14，底框6上设置有第二定位孔，通过第二定位销14与第二定位孔的配合将上针板5与底框6连接并固定。底框6的中部设置有容纳槽，限位框7设置于容纳槽中，IC芯片设置于限位框7中。限位框7可以卡置于容纳槽中，也可通过第一固定螺丝11与底框6螺接，从而设置于底框6的容纳槽中。第二开口61位于容纳槽的中间位置，且限位框7相对于第二开口61的位置处设置有第三开口71。需要进行测试的电子产品3通过第三开口71、第二开口61以及第一开口51后放置于下针板1上进行测试。在本实施方式中，下针板1上设置有多个探针9，探针9穿过上针板5以及限位框7，与IC芯片连接。图中所示的探针9有8个，上针板5及限位框7中对应探针9的位置设置有针孔，以使探针9连接IC芯片，从而实现IC芯片与下针板1的数据互通，在下针板1对电子产品3进行测试输出结果时，能够同步输出IC芯片的计数。而在其他实施方式中，还可采用其他的方式将IC芯片与下针板1通信连接，例如通过预设的导线，并且探针9的数量也并非一定要有8个，可以根据IC芯片的不同来确定不同数量的探针9。为了进一步对IC芯片进行保护，限位框7朝向座头10的一侧设置有凹槽，IC芯片设置于凹槽中。测试座主体进一步包括压板8，压板8与限位框7连接并覆盖凹槽。在本实施方式中，压板8通过第二螺丝与限位框7螺接。而在其他实施方式中，则压板8可通过卡合等方式与限位框7进行可拆卸连接。其中，限位框7的针孔连通该凹槽。在测试座工作时，将待测试的电子芯片通过第三开口71、第二开口61以及第一开口51后放置于下针板1上进行测试，然后本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试座，其特征在于，所述测试座包括：测试座主体，用于对电子产品进行测试；计数装置，连接所述测试座主体，在所述测试座主体输出测试结果时，所述计数装置输出计数，且每次输出的计数相对于前次输出的计数加一。

【技术特征摘要】
1.一种测试座，其特征在于，所述测试座包括：测试座主体，用于对电子产品进行测试；计数装置，连接所述测试座主体，在所述测试座主体输出测试结果时，所述计数装置输出计数，且每次输出的计数相对于前次输出的计数加一。2.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，所述计数装置为IC芯片。3.根据权利要求2所述的测试座，其特征在于，所述测试座主体包括下针板，所述下针板用于连接所述电子产品并对所述电子产品进行测试，所述IC芯片通信连接所述下针板。4.根据权利要求3所述的测试座，其特征在于，所述测试座主体还包括上针板，所述上针板与所述下针板连接，并覆盖所述下针板，所述上针板在对应所述下针板连接所述电子产品的位置上形成有第一开口。5.根据权利要求4所述的测试座，其特征在于，所述测试座主体进一步包括底框与座头，所述底框连接所述上针板，且与所述第一开口对应的位置上形成有第二开口，所述座头的一端与所述底框的一端转动连接，所述座头的另一端与所述底框的另一端可拆卸连接，所述IC芯片设置于所述底框与所述座头之间。6.根据权利要求5...

【专利技术属性】
技术研发人员：程振，钟衍徽，伍永青，
申请(专利权)人：深圳市江波龙电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44