一种线损点检系统及方法技术方案

一种线损点检方法，包括以下步骤：通过线损设置策略调整频段对应的配置线损值，进行金机制作；利用所述金机对环境线损进行点检；增加频段的功率修正参数，消除调整频段对应的配置线损值带来的影响，获得点检环境下的真实功率。本发明专利技术还提供一种线损点检系统，克服了现有技术中存在的不同仪表间差异和测量精度问题，有效规避了金机点检小线损为负值问题，提高了工厂生产效率，节省了工厂及客户生产成本。

A Line Loss Point Inspection System and Method

A line loss point detection method includes the following steps: adjusting the allocation line loss value corresponding to the frequency band through the line loss setting strategy, making a gold machine; using the gold machine to point out the environmental line loss; increasing the power correction parameters of the frequency band, eliminating the impact of the allocation line loss value corresponding to the adjustment frequency band, and obtaining the real power in the spot detection environment. The invention also provides a line loss point detection system, which overcomes the difference between different instruments and the problem of measuring accuracy in the prior art, effectively avoids the problem of negative value of small line loss in spot inspection of gold machines, improves the production efficiency of the factory, and saves the production costs of the factory and customers.

【技术实现步骤摘要】
一种线损点检系统及方法
本专利技术涉及通信数据类产品生产校准
，特别是涉及一种生产校准站位的线损点检系统及方法。
技术介绍
目前通讯数据类产品在生产校准流程中，通常在校准站位执行前都需要先用对应的金机进行环境线损点检，避免环境异常造成校准数据不准确问题。在正式生产前都会制作相应型号机型的金机，在金机flash里面保存了某个固定PA控制字(功率控制字)的功率值Pa。在金机点检时发送已存固定PA的控制字，获取点检环境下的功率，之后通过算法计算环境线损并将线损填写到校准站位。在环境点检时功率与线损之间的公式：P＝Pa+Ls-L。公式说明如下，P：环境点检时从仪表获取的功率；Pa：固定PA控制字发送的功率值，即是金机保存的功率值；Ls：点检环境时软件工具界面配置的线损；L为点检环境真实的线损。从公式可以得到环境真实线损L＝Pa+Ls-P。一般如果点检环境线损比较小的情况下，因不同的仪表存在差异及功率测量精度问题，就会导致金机点检线损计算出来的线损值为负值。通常在这种情况下需要更换大线损的射频线进行重做金机再进行重新点检，这对工厂使用射频线材料有一定的要求，效率低下，且提高了工厂成本和客户生产成本。或者点检出的线损在一定负值范围内(比如-0.1到-0.2以内)，直接将站位线损设置为0，这样做又牺牲了一些校准精度。如果直接将环境线损设置为负值进行校准生产，容易引起困惑。采用本专利技术所述系统及方法，即可以有效解决金机点检线损为负值的问题，又不增加客户或工厂成本。
技术实现思路
为了解决现有技术存在的不足，本专利技术的目的在于提供一种线损点检系统及方法，在保证校准值准确的同时，有效规避金机点检小线损为负值问题。为实现上述目的，本专利技术提供的线损点检系统，包括，线损配置单元、金机制作单元、校准单元，以及点检单元，其中，所述线损配置单元，其通过线损设置策略调整频段对应的配置线损值；所述金机制作单元，其根据所述配置线损值，进行金机制作；所述校准单元，其针对校准的每个频段设置一功率修正参数；所述点检单元，其根据发送与金机制作时相同的PA控制字，对环境线损进行点检补偿。进一步地，所述线损配置单元，其在金机制作时，根据频段对应的外部线损真实值的大小，确定是否调整频段对应的配置线损值。进一步地，所述线损配置单元，当频段对应的外部线损真实值大于等于1dBm，对配置线损值不调整；当频段对应的外部线损真实值小于1dBm，调整配置线损值为：外部线损真实值+配置线损调整值。进一步地，当频段对应的外部线损真实值小于等于0.3dBm，配置线损调整值为：3倍外部线损真实值；当频段对应的外部线损真实值大于0.3dBm且小于0.6dBm，配置线损调整值为：2倍外部线损真实值；当频段对应的外部线损真实值大于0.6dBm且小于1dBm，配置线损调整值为：0.4dBm。更进一步地，所述校准单元，其将功率修正参数设置为配置线损调整值。为实现上述目的，本专利技术提供的线损点检方法，包括以下步骤：通过线损设置策略调整频段对应的配置线损值，进行金机制作；利用所述金机对环境线损进行点检；增加频段的功率修正参数，消除调整频段对应的配置线损值带来的影响，获得点检环境下的真实功率。进一步地，所述通过线损设置策略调整频段对应的配置线损值的步骤，进一步包括：当频段对应的外部线损真实值大于等于1dBm，对配置线损值不调整；当频段对应的外部线损真实值小于1dBm，调整配置线损值为：外部线损真实值+配置线损调整值。进一步地，所述当频段对应的外部线损真实值小于1dBm，调整配置线损值为：外部线损真实值+配置线损调整值的步骤，进一步包括，当频段对应的外部线损真实值小于等于0.3dBm，配置线损调整值为：3倍外部线损真实值；当频段对应的外部线损真实值大于0.3dBm且小于0.6dBm，配置线损调整值为：2倍外部线损真实值；当频段对应的外部线损真实值大于0.6dBm且小于1dBm，配置线损调整值为：0.4dBm。更进一步地，所述增加频段的功率修正参数，消除调整频段对应的配置线损值带来的影响，获得点检环境下的真实功率的步骤，进一步包括，增加频段的功率修正参数并将其设置为配置线损调整值，消除配置线损调整值带来的影响，获得点检环境下的真实功率。本专利技术提供的线损点检系统及方法，克服了现有技术中存在的不同仪表间差异和测量精度问题，有效规避了金机点检小线损为负值问题，提高了工厂生产效率，节省了工厂及客户生产成本。本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。附图说明附图用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，并与本专利技术的实施例一起，用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的限制。在附图中：图1为根据本专利技术的线损点检系统框图；图2为根据本专利技术的线损点检方法流程图。具体实施方式以下结合附图对本专利技术的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。本专利技术的线损点检系统及方法，从如下公式得到环境的真实线损：L＝Pa+Ls-P，其中，L为点检环境真实的线损；Pa为固定PA控制字发送的功率值，即金机保存的功率值；Ls为点检环境时软件工具界面配置的线损；P为环境点检时从仪表获取的功率。为了有效规避金机点检小线损为负值问题，本专利技术的线损点检系统及方法，首先，需要在金机制作时预先配置线损值Ls，为Ls增加一个配置线损调整值；其次，进行金机点检；在点检结束后，校准站位通过修正参数，消除第一步金机制作线损调整的影响。图1为根据本专利技术的线损点检系统框图，如图1所示，本专利技术的本专利技术的线损点检系统，包括，线损配置单元101、金机制作单元102、点检单元103，以及校准单元104，其中，线损配置单元101，其通过线损设置策略调整各个频段对应的配置线损值Ls，根据配置线损值Ls，可以提高制作金机时对应已知小线损频段的功率测试值Pa。制作金机时各个频段对应的配置线损值Ls，根据如下线损设置策略来调整：(1)如频段对应的外部线损真实值L大于等于1dBm，则配置线损值Ls不调整；(2)如频段对应的外部线损真实值L小于等于0.3dBm，则配置线损值Ls在真实线损值L上增加ΔL(ΔL为配置线损调整值，其取值为3倍外部线损真实值)；(3)如频段对应的外部线损真实值L大于0.3dBm且小于0.6dBm，则配置线损值Ls在真实线损值L上增加ΔL(ΔL取值为2倍外部线损真实值)；(4)如频段对应的外部线损真实值L大于0.6dBm且小于1dBm，则配置线损值Ls在真实线损值L上增加ΔL(ΔL取值为0.4dBm)。采用上述线损设置策略，为真实线损值L增加一个配置线损调整值ΔL，用于调整配置线损值Ls；金机制作单元102，其根据调整后的配置线损值Ls，利用公式P＝Pa+Ls-L，进行金机的制作,这样金机制作时获取的功率P会增大，即保存到金机里的Pa会增大，在点检时利用公式L＝Pa+Ls-P，点检出来的线损为负值的概率就减小了，也就规避了点检小线损为负值的问题。校准单元103，其针对校准的每个频段增加一个功率修正参数P-offset(正值代表提高功率，负值代表降低功率)，并将该功率修正参数值设置为配置线损值调整值ΔL，通过校准功率修正参数来消除本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种线损点检系统，包括，线损配置单元、金机制作单元、校准单元，以及点检单元，其特征在于，所述线损配置单元，其通过线损设置策略调整频段对应的配置线损值；所述金机制作单元，其根据所述配置线损值，进行金机制作；所述校准单元，其针对校准的每个频段设置一功率修正参数；所述点检单元，其根据发送与金机制作时相同的PA控制字，对环境线损进行点检补偿。

【技术特征摘要】
1.一种线损点检系统，包括，线损配置单元、金机制作单元、校准单元，以及点检单元，其特征在于，所述线损配置单元，其通过线损设置策略调整频段对应的配置线损值；所述金机制作单元，其根据所述配置线损值，进行金机制作；所述校准单元，其针对校准的每个频段设置一功率修正参数；所述点检单元，其根据发送与金机制作时相同的PA控制字，对环境线损进行点检补偿。2.根据权利要求1所述的线损点检系统，其特征在于，所述线损配置单元，其在金机制作时，根据频段对应的外部线损真实值的大小，确定是否调整频段对应的配置线损值。3.根据权利要求2所述的线损点检系统，其特征在于，所述线损配置单元，当频段对应的外部线损真实值大于等于1dBm，对配置线损值不调整；当频段对应的外部线损真实值小于1dBm，调整配置线损值为：外部线损真实值+配置线损调整值。4.根据权利要求3所述的线损点检系统，其特征在于，当频段对应的外部线损真实值小于等于0.3dBm，配置线损调整值为3倍外部线损真实值；当频段对应的外部线损真实值大于0.3dBm且小于0.6dBm，配置线损调整值为2倍外部线损真实值；当频段对应的外部线损真实值大于0.6dBm且小于1dBm，配置线损调整值为0.4dBm。5.根据权利要求3所述的线损点检系统，其特征在于，所述校准单元，其将功率修正参数设置为配置线损调整值...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗良萌，
申请(专利权)人：深圳市中兴微电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44