有效原子序数计算方法、装置和存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种有效原子序数计算方法、装置和存储介质。该方法包括：基于目标X射线扫描设备，确定待测物质在第一射线能量对应的第一目标衰减值以及第二射线能量对应的第二目标衰减值，其中第一射线能量低于第二射线能量；基于预设有效原子序数计算公式，根据第一目标衰减值、第二目标衰减值、计算参数对应的目标参数值以及纯水对应的有效原子序数，确定待测物质对应的有效原子序数，其中目标参数值根据与目标X射线扫描设备对应的样本数据预先对计算参数进行校准确定。通过本发明专利技术实施例的技术方案，可以提高有效原子序数计算的准确度。

Effective Atomic Ordinal calculation method, device and storage medium

The embodiment of the present invention discloses an effective atomic number calculation method, device and storage medium. The method includes: determining the first target attenuation value corresponding to the first ray energy and the second target attenuation value corresponding to the second ray energy of the substance to be measured based on the target X-ray scanning equipment, in which the first ray energy is lower than the second ray energy, and calculating the corresponding parameters according to the first target attenuation value, the second target attenuation value and the preset effective atomic number calculation formula. The target parameters and the effective atomic number corresponding to pure water are determined, and the effective atomic number corresponding to the substance to be measured is determined. The target parameters are calibrated accurately in advance according to the sample data corresponding to the target X-ray scanning equipment. The technical scheme of the embodiment of the present invention can improve the accuracy of effective atomic number calculation.

【技术实现步骤摘要】
有效原子序数计算方法、装置和存储介质
本专利技术实施例涉及医疗领域，尤其涉及一种有效原子序数计算方法、装置和存储介质。
技术介绍
原子序数是指在元素周期表中的序号，用于反映原子核的电荷数。当X射线与化合物或混合物进行相互作用时，可以等效为X射线与某种单质进行相互作用，这种等效的单质的原子序数就是化合物或混合物的有效原子序数。在不同的领域中，往往可以通过计算物质的有效原子序数来识别不同的物质。目前，在计算物质的有效原子序数时，通常将已知元素(原子序数为整数)在不同能量衰减系数的比值与有效原子序数之间的对应关系拟合成一条曲线，将待测物质在不同能量衰减系数的比值代入拟合的曲线中，便可确定待测物质对应的有效原子序数。现有的拟合曲线方式计算有效原子序数是由元素的理论值拟合而成，然而实际计算中还受到X射线扫描设备不同、物质成分多样性等因素影响结果存在较大误差导致准确度较低，并且该方法参数调节不方便。可见当前急需一种可以准确地计算有效原子序数的方法。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种有效原子序数计算方法、装置和存储介质，以提高有效原子序数计算的准确度。第一方面，本专利技术实施例提供了一种有效原本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种有效原子序数计算方法，其特征在于，包括：基于目标X射线扫描设备，确定待测物质在第一射线能量对应的第一目标衰减值以及第二射线能量对应的第二目标衰减值，其中所述第一射线能量低于所述第二射线能量；基于预设有效原子序数计算公式，根据所述第一目标衰减值、所述第二目标衰减值、计算参数对应的目标参数值以及纯水对应的有效原子序数，确定所述待测物质对应的有效原子序数，其中所述目标参数值根据与所述目标X射线扫描设备对应的样本数据预先对所述计算参数进行校准确定。

【技术特征摘要】
1.一种有效原子序数计算方法，其特征在于，包括：基于目标X射线扫描设备，确定待测物质在第一射线能量对应的第一目标衰减值以及第二射线能量对应的第二目标衰减值，其中所述第一射线能量低于所述第二射线能量；基于预设有效原子序数计算公式，根据所述第一目标衰减值、所述第二目标衰减值、计算参数对应的目标参数值以及纯水对应的有效原子序数，确定所述待测物质对应的有效原子序数，其中所述目标参数值根据与所述目标X射线扫描设备对应的样本数据预先对所述计算参数进行校准确定。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于目标X射线扫描设备，确定待测物质在第一射线能量对应的第一目标衰减值以及第二射线能量对应的第二目标衰减值，包括：基于目标X射线扫描设备，获得待测物质在第一照射能量下对应的第一原始扫描图像以及在第二照射能量下对应的第二原始扫描图像；基于物质分解算法，对所述第一原始扫描图像和所述第二原始扫描图像进行分解重建，确定第一射线能量对应的第一单能量扫描图像和第二射线能量对应的第二单能量扫描图像；根据所述第一单能量扫描图像确定所述待测物质在所述第一射线能量对应的第一目标衰减值，以及根据所述第二单能量扫描图像确定所述第二射线能量对应的第二目标衰减值。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算参数包括与电子密度相关的第一计算参数、与所述目标X射线扫描设备相关的第二计算参数、以及用于调整修正的第三计算参数和第四计算参数。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述预设有效原子序数计算公式为：其中，Z是所述待测物质对应的有效原子序数；H1是所述第一目标衰减值；H2是所述第二目标衰减值；Zw是纯水对应的有效原子序数；λ是所述第一计算参数；β是所述第二计算参数；A是所述第三计算参数；B是所述第四计算参数。5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，根据与所述目标X射线扫描设备对应的样本数据对所述计算参数进行校准确定所述目标参数值，包括：基于所述目标X射线扫描设备，确定多个样...

【专利技术属性】
技术研发人员：于文义，
申请(专利权)人：上海联影医疗科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31