The present invention provides an integrated circuit data screening method based on normalization method combined with Euclidean distance function, which includes the following steps: normalizing the parameters of integrated circuit multi-station test data; and (2) calculating the Euclidean distance of each station from the normalized test data, if the Euclidean distance of one station test data is measured with all stations. If the deviation of the average Euclidean distance of the test data exceeds the set threshold, the error of the test data of the workstation is considered to be large. For the workstation which is identified as having a large error of the test data, the parameters of the test data of the workstation are analyzed by Euclidean distance. The invention solves the problem of stability analysis of multi-station test based on high-end test system.
【技术实现步骤摘要】
基于归一法结合欧式距离函数的集成电路数据筛选方法
本专利技术涉及一种集成电路测试方法,尤其是一种基于归一法结合欧式距离函数的集成电路数据筛选方法。
技术介绍
在集成电路日益成熟的今天,集成电路测试已经逐渐成为整条产业链中必不可少的环节。为了增加测试效率,减少测试时间,节省成本。测试公司常常将单工位测试拓展成多工位并行测试,每增加一个测试工位,需要增加测试针卡资源、测试系统资源及连接线资源,当进行工程化测试生产的时候,随着测试针卡不断使用,针尖上可能会出现沾染灰层、针尖损耗、折损等故障,这就会造成由于针卡和管芯的接触问题导致测试数据不准确;随着测试系统的持续生产使用,测试系统的电源板、通道板等板卡会出现老化故障,使得测试数据不准确。当多工位并行测试的工位数较少的时候,可以人为简洁、快速的分析出来,但随着测试系统朝着高端化的方向发展,多工位并行测试可拓展到128工位甚至更多,人为的数据分析能力有限,为了保证测试数据的准确性,需要对各工位的测试数据进行自动化分析,对测试数据不稳定的管芯所对应的工位,进行硬件故障检查。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术中存在的不足,提供一种基于归一法结合欧式距离函数的集成电路数据筛选方法,解决了基于高端测试系统的多工位测试的各工位测试稳定性分析问题。本专利技术采用的技术方案是:一种基于归一法结合欧式距离函数的集成电路数据筛选方法,包括以下步骤:步骤S1,将集成电路多工位测试数据的各参数值进行归一化预处理;步骤S2,将归一化处理后的测试数据进行各工位的欧式距离计算,若某工位测试数据的欧式距离与所有工位测试数据欧式距离的平均 ...
【技术保护点】
1.一种基于归一法结合欧式距离函数的集成电路数据筛选方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1,将集成电路多工位测试数据的各参数值进行归一化预处理;步骤S2,将归一化处理后的测试数据进行各工位的欧式距离计算,若某工位测试数据的欧式距离与所有工位测试数据欧式距离的平均值的偏差超过设定阈值,则认为该工位测试数据的误差较大;步骤S3,对于认定为测试数据误差较大的工位,则将该工位测试数据的各参数进行欧式距离分析,若该工位某个参数的欧式距离与所有参数欧式距离的平均值的偏差超过设定阈值,则认为该参数测试有问题。
【技术特征摘要】
1.一种基于归一法结合欧式距离函数的集成电路数据筛选方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1,将集成电路多工位测试数据的各参数值进行归一化预处理;步骤S2,将归一化处理后的测试数据进行各工位的欧式距离计算,若某工位测试数据的欧式距离与所有工位测试数据欧式距离的平均值的偏差超过设定阈值,则认为该工位测试数据的误差较大;步骤S3,对于认定为测试数据误差较大的工位,则将该工位测试数据的各参数进行欧式距离分析,若该工位某个参数的欧式距离与所有参数欧式距离的平均值的偏差超过设定阈值,则认为该参数测试有问题。2.如权利要求1所述的基于归一法结合欧式距离函数的集成电路数据筛选方法,其特征在于,归一化预处理的计算公式为:X*=(X-Min)/(Max-Min)(1)X*为归一化预处理后的测试数据参数值;X为一个参数多次测试中的测试值,Max为该参数多个测试值中的最...
【专利技术属性】
技术研发人员:奚留华,张凯虹,
申请(专利权)人:无锡中微腾芯电子有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
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