The present invention relates to the field of material research, and a device for neutron scattering experiment, including gas chamber, pressure device, high pressure chamber, sample, flat convex lens, bracket, diaphragm I, window, beam splitter, convex lens I, camera, diaphragm II, convex lens II, light emitting diode and neutron detector. High pressure chamber includes high pressure chamber, pressure piston, fixed end, sapphire I and sapphire detector. Gemstone sheet II, high pressure cavity is a hollow cube structure, including through hole I, central groove and through hole II. Both through hole I and through hole II are circular through holes. The special high pressure cavity is used to make the sample suitable for neutron scattering experiment while exerting pressure. It has high neutron transmittance and optical transmittance. The specially designed optical imaging method makes it possible to make the sample more suitable for neutron scattering experiment. Samples can be imaged with high resolution outside the gas chamber to monitor the state of the sample. The process of changing the sample is simple. The in-situ pressure regulation procedure is simple, reliable and has a long service life.
【技术实现步骤摘要】
一种用于中子散射实验的装置
本专利技术涉及材料研究领域,尤其是一种用于高压下样品的中子散射实验的一种用于中子散射实验的装置。
技术介绍
研究材料的某些特性随外加压力的变化具有重要意义,通常采用顶砧、活塞等压力施加设备对待测材料样品施加压力,同时结合其他技术对材料进行相关测量,如X射线衍射、X射线吸收谱、中子散射等实验方法,特别是与小角度的中子散射技术相结合,能够用于原位研究晶体生长、纳米颗粒的形态学、多孔陶瓷材料的烧结过程等。现有技术缺陷一:现有技术中的装置样品更换过程较为复杂,且进行原位压力调节的步骤繁琐;现有技术缺陷二:某些实验需要通过光学方法实时地观测样品的形态,在现有技术的装置中,由于低温杜瓦、气体腔等元件的体积限制,光学元件的工作距离通常较大,导致光收集效率较低,对样品的成像分辨率较低,较难判断样品的状态,所述一种用于中子散射实验的装置能够解决问题。
技术实现思路
为了解决上述问题,本专利技术采用特制的高压腔来使得在对样品施加压力的同时能够较好地适用于中子散射实验,具有较大的中子透过率及光学透过率,另外采用特殊设计的光学成像方法,使得能够在气体腔外对样品进行分辨率较高的成像。本专利技术所采用的技术方案是:所述一种用于中子散射实验的装置包括气体腔、加压设备、高压腔、样品、平凸透镜、支架、光阑I、窗口、分束器、凸透镜I、摄像机、光阑II、凸透镜II、发光二极管和中子探测器,xyz为三维空间坐标系,气体腔中能够充入氦气、氖气或氩气,压强范围为100巴到600巴,高压腔位于气体腔中,平凸透镜和光阑I通过支架安装于气体腔内的高压腔下方,平凸透镜位于光阑I上方, ...
【技术保护点】
1.一种用于中子散射实验的装置,包括气体腔(1)、加压设备(2)、高压腔(3)、样品(4)、平凸透镜(5)、支架(6)、光阑I(7)、窗口(8)、分束器(9)、凸透镜I(10)、摄像机(11)、光阑II(12)、凸透镜II(13)、发光二极管(14)和中子探测器,xyz为三维空间坐标系,气体腔(1)中能够充入氦气、氖气或氩气,压强范围为100巴到600巴,高压腔(3)位于气体腔(1)中,平凸透镜(5)和光阑I(7)通过支架(6)安装于气体腔(1)内的高压腔(3)下方,平凸透镜(5)位于光阑I(7)上方,通过支架(6)能够调节平凸透镜(5)和光阑I(7)的位置,高压腔(3)上面具有活塞孔,与活塞孔对应位置的气体腔(1)上面具有通孔,气体腔(1)下面具有窗口(8),窗口(8)能够透光,气体腔(1)的侧面具有透射窗口,中子束能够通过所述透射窗口进入或离开气体腔(1),分束器(9)、凸透镜I(10)、摄像机(11)、光阑II(12)、凸透镜II(13)和发光二极管(14)均位于气体腔(1)外的下方,发光二极管(14)、凸透镜II(13)、光阑II(12)、分束器(9)、窗口(8)、光阑I(7) ...
【技术特征摘要】
1.一种用于中子散射实验的装置,包括气体腔(1)、加压设备(2)、高压腔(3)、样品(4)、平凸透镜(5)、支架(6)、光阑I(7)、窗口(8)、分束器(9)、凸透镜I(10)、摄像机(11)、光阑II(12)、凸透镜II(13)、发光二极管(14)和中子探测器,xyz为三维空间坐标系,气体腔(1)中能够充入氦气、氖气或氩气,压强范围为100巴到600巴,高压腔(3)位于气体腔(1)中,平凸透镜(5)和光阑I(7)通过支架(6)安装于气体腔(1)内的高压腔(3)下方,平凸透镜(5)位于光阑I(7)上方,通过支架(6)能够调节平凸透镜(5)和光阑I(7)的位置,高压腔(3)上面具有活塞孔,与活塞孔对应位置的气体腔(1)上面具有通孔,气体腔(1)下面具有窗口(8),窗口(8)能够透光,气体腔(1)的侧面具有透射窗口,中子束能够通过所述透射窗口进入或离开气体腔(1),分束器(9)、凸透镜I(10)、摄像机(11)、光阑II(12)、凸透镜II(13)和发光二极管(14)均位于气体腔(1)外的下方,发光二极管(14)、凸透镜II(13)、光阑II(12)、分束器(9)、窗口(8)、光阑I(7)、平凸透镜(5)和固定端(3-3)组成照明光路,发光二极管(14)发射的照明光能够依次通过凸透镜II(13)、光阑II(12)、分束器(9)、窗口(8)、光阑I(7)、平凸透镜(5)和固定端(3-3)后,射到样品(4)上,固定端(3-3)、平凸透镜(5)、光阑I(7)、窗口(8)、分束器(9)、凸透镜I(10)和摄像机(11)组成样品(4)的成像光路,样品(4)发出的光能够依次通过固定端(3-3)、平凸透镜(5)、光阑I(7)和窗口(8),并经过分束器(9)偏向后,通过凸透镜I(10)进入摄像机(11),其特征是:高压腔(3)包括高压腔体(3-1)、压力活塞(3-2)、固定端(3-3)、蓝宝石片I(3-4)和蓝宝石片II(3-5),压力活塞(3-2)穿出气体腔(1)上面的通孔并能够上下移动,且压力活塞(3-2)与气体腔(1)之间具有气密性;高压腔体(3-1)是边长为十二毫米的中空立方体结构,包括通孔I、中心槽和通孔II三部分,通孔I...
【专利技术属性】
技术研发人员:张向平,方晓华,赵永建,
申请(专利权)人:金华职业技术学院,
类型:发明
国别省市:浙江,33
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