一种光模块温度校准方法与装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及光通信技术领域，特别涉及一种光模块温度校准方法与装置，其中方法包括：通过测温模块中的多温度传感器阵列，实时测定待测光模块指定测温区域内的温度；每隔预设时间根据实测的温度值计算平均温度，并判断待测光模块是否进入温度稳定状态；通过稳定后的平均温度来校准待测光模块的上报温度；判断校准后的上报温度与稳定后的平均温度间的差值是否满足规定值，若满足则温度校准成功，若不满足则重新校准。本发明专利技术提供的方案操作简单，能够快速实现光模块上报温度的自动校准，使输出的上报温度精准地反应出光模块的实际温度，减少人为因素的干扰，从而提高光模块上报温度的准确性和可靠性。

A Method and Device for Temperature Calibration of Optical Module

The invention relates to the field of optical communication technology, in particular to an optical module temperature calibration method and device, which includes: real-time measurement of temperature in the designated temperature measurement area of the optical module through a multi-temperature sensor array in the temperature measurement module; calculating average temperature according to the measured temperature value at each preset time, and judging whether the optical module to be measured enters a temperature stable state; The reported temperature of the photometric module is calibrated by means of the average temperature after stabilization, and the difference between the reported temperature after calibration and the average temperature after stabilization is judged to satisfy the specified value. If it is satisfied, the temperature will be calibrated successfully and if it is not satisfied, the calibration will be re-calibrated. The scheme provided by the invention is simple in operation, and can quickly realize the automatic calibration of the temperature reported by the optical module, so that the output temperature reported accurately reflects the actual temperature of the optical module, and reduces the interference of human factors, thereby improving the accuracy and reliability of the temperature reported by the optical module.

【技术实现步骤摘要】
一种光模块温度校准方法与装置
本专利技术涉及光通信
，特别涉及一种光模块温度校准方法与装置。
技术介绍
通过查看各种类型光模块的协议可以发现，协议都对光模块的上报温度和实际CASE温度(即封装外壳表面的温度)有着比较严格的规定，全温范围内仅允许两者的温度差别在±3℃内；由此可知，温度的准确度对光模块来说有着比较重要的作用。而目前在光模块领域，普遍的温度校准做法是使用点温计将双绞线贴在模块表面读取温度，再手动写入校准值的方式来校准。但此种校准温度的方法精度受双绞线的质量以及双绞线接触点与待测模块管壳的接触紧密度影响较大，而且操作复杂；同时，在反复点温过程中，也容易出现较大误差。鉴于此，克服上述现有技术所存在的缺陷是本
亟待解决的问题。
技术实现思路
本专利技术需要解决的技术问题是：目前在光模块领域，通常使用点温计将双绞线贴在模块表面读取温度，再手动写入校准值的方式来校准温度，校准精度低，操作复杂；同时在反复点温过程中，容易出现较大误差。本专利技术通过如下技术方案达到上述目的：第一方面，本专利技术提供了一种光模块温度校准方法，包括：通过测温模块中的多温度传感器阵列，实时测定待测光模块指定测温区域内的温度；每隔预设时间根据实测的温度值计算平均温度，并判断待测光模块是否进入温度稳定状态；通过稳定后的平均温度来校准待测光模块的上报温度；判断校准后的上报温度与稳定后的平均温度间的差值是否满足规定值；其中，若满足则温度校准成功；若不满足则重新校准。优选的，在通过测温模块测定温度之前，所述方法还包括：启动测温模块中的各温度传感器分别测定标准光模块表面的温度，并计算平均温度；计算各温度与平均温度间的偏差，将偏差小于第一阈值的一个或多个对应温度传感器标记为优选温度传感器，和/或，将偏差大于第二阈值和/或无法工作的一个或多个对应温度传感器标记为故障温度传感器；其中，第一阈值小于第二阈值；则所述通过测温模块中的多温度传感器阵列，实时测定待测光模块指定测温区域内的温度，具体为：启动测温模块中的所述优选温度传感器，或者除所述故障温度传感器以外的其他温度传感器，实时测定待测光模块指定测温区域内的温度，进而得到一个或多个温度值。优选的，所述方法还包括：在实时测定待测光模块温度的过程中，对所述一个或多个优选温度传感器进行周期性的校对，当发现其中任一优选温度传感器的实测温度偏差超出第一阈值时，关闭对应的温度传感器，并重新选择温度偏差小于第一阈值的另一温度传感器作为优选温度传感器。优选的，不同待测光模块指定有不同的测温区域，则所述通过测温模块中的多温度传感器阵列，实时测定待测光模块指定测温区域内的温度，具体为：根据当前待测光模块的指定测温区域，启动测温模块中相应图形区域的一个或多个温度传感器作为实际工作对象，实时测定待测光模块指定测温区域内的温度。优选的，在通过测温模块测定温度之前，所述方法还包括：将光模块的温度校准装置搭建完成后，调整所述测温模块的位置正对待测光模块，使得所述测温模块能够感应所述待测光模块指定测温区域内的温度；将待测光模块上电预热后固定在温度校准装置中。优选的，所述每隔预设时间根据实测的温度值计算平均温度，并判断待测光模块是否进入温度稳定状态，具体为：测试软件实时读取每个温度传感器的实测温度值，每隔预设时间根据读取的各实测温度值计算平均温度，并进而计算平均温度间的变化量；判断变化量是否小于预设值，若变化量小于预设值，则待测光模块进入温度稳定状态，停止计算；若变化量大于预设值，则继续计算并判断，直至待测光模块进入温度稳定状态。第二方面，本专利技术还提供了一种光模块温度校准装置，用于完成第一方面所述的光模块温度校准方法，所述装置包括测试治具板1、温度校准台2、测温模块3、误码仪5和PC主机6，所述测试治具板1用于固定待测光模块，所述测温模块3包括多个温度传感器，用于感应待测光模块指定测温区域的温度；所述测温模块3与所述测试治具板1相对设置，且分别固定在所述温度校准台2的上下端；其中，所述温度校准台2上端用于固定所述测温模块3的部分可前后上下移动，以便使所述温度传感器对准待测光模块的指定测温区域；所述误码仪5与所述测试治具板1连接，用于温度校准时提供发射信号给待测光模块；所述PC主机6分别与所述测温模块3和所述测试治具板1连接，且所述PC主机6中安装有测试软件。优选的，所述装置还包括高低温循环箱4，用于稳定外界环境温度，所述测试治具板1、所述温度校准台2与所述测温模块3均位于所述高低温循环箱4中，所述误码仪5与所述PC主机6均位于所述高低温循环箱4以外。优选的，所述测试治具板1设置多个不同的型号，分别用于固定安装不同封装的光模块；相应地，所述温度校准台2上端可兼容固定不同型号的测试治具板1。优选的，所述温度校准台2包括第一滑块9、上支架10、侧边支架11、第二滑块12、底座13以及固定件14，所述第一滑块9耦合连接在所述上支架10上，并可沿所述上支架10左右滑动；所述第二滑块12耦合连接在所述底座13上，并可沿所述底座13前后滑动；所述上支架10通过所述侧边支架11与所述第二滑块12固定连接，所述底座13上设置所述固定件14；其中，所述第一滑块9用于固定安装所述测温模块3，所述固定件14用于固定安装所述测试治具板1。与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：本专利技术通过测温模块与测试软件获取待测光模块温度稳定后的平均温度，将稳定后的平均温度通过测试软件写入相应寄存器中来校准温度，并比对实测平均温度与校准后的上报温度是否满足规定的温度偏差要求。本方案操作简单，能够快速实现光模块上报温度的自动校准，使输出的上报温度精准地反应出光模块的实际温度，减少人为因素的干扰，从而提高光模块上报温度的准确性和可靠性。【附图说明】为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对本专利技术实施例中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种光模块温度校准装置的平面示意图；图2为本专利技术实施例提供的一种温度校准台的立体结构视图；图3为本专利技术实施例提供的测温模块与待测光模块的位置关系图；图4为本专利技术实施例提供的不同封装光模块的不同测温区域；图5为本专利技术实施例提供的一种光模块温度校准方法的流程图。【具体实施方式】为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。在本专利技术的描述中，术语“内”、“外”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“顶”、“底”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术而不是要求本专利技术必须以特定的方位构造和操作，因此不应当理解为对本专利技术的限制。在本专利技术各实施例中，符号“/”表示同时具有两种功能的含义，而对于符号“A和/或B”则表明由该符号连接的前后对象之间的组合包括“A”、“B”、“A和B”三种情况。此外，下面所描述的本专利技术各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。下面就参考附图和实施例结合来详细说明本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光模块温度校准方法，其特征在于，包括：通过测温模块中的多温度传感器阵列，实时测定待测光模块指定测温区域内的温度；每隔预设时间根据实测的温度值计算平均温度，并判断待测光模块是否进入温度稳定状态；通过稳定后的平均温度来校准待测光模块的上报温度；判断校准后的上报温度与稳定后的平均温度间的差值是否满足规定值；其中，若满足则温度校准成功；若不满足则重新校准。

【技术特征摘要】
1.一种光模块温度校准方法，其特征在于，包括：通过测温模块中的多温度传感器阵列，实时测定待测光模块指定测温区域内的温度；每隔预设时间根据实测的温度值计算平均温度，并判断待测光模块是否进入温度稳定状态；通过稳定后的平均温度来校准待测光模块的上报温度；判断校准后的上报温度与稳定后的平均温度间的差值是否满足规定值；其中，若满足则温度校准成功；若不满足则重新校准。2.根据权利要求1所述的光模块温度校准方法，其特征在于，在通过测温模块测定温度之前，所述方法还包括：启动测温模块中的各温度传感器分别测定标准光模块表面的温度，并计算平均温度；计算各温度与平均温度间的偏差，将偏差小于第一阈值的一个或多个对应温度传感器标记为优选温度传感器，和/或，将偏差大于第二阈值和/或无法工作的一个或多个对应温度传感器标记为故障温度传感器；其中，第一阈值小于第二阈值；则所述通过测温模块中的多温度传感器阵列，实时测定待测光模块指定测温区域内的温度，具体为：启动测温模块中的所述优选温度传感器，或者除所述故障温度传感器以外的其他温度传感器，实时测定待测光模块指定测温区域内的温度，进而得到一个或多个温度值。3.根据权利要求2所述的光模块温度校准方法，其特征在于，所述方法还包括：在实时测定待测光模块温度的过程中，对所述一个或多个优选温度传感器进行周期性的校对，当发现其中任一优选温度传感器的实测温度偏差超出第一阈值时，关闭对应的温度传感器，并重新选择温度偏差小于第一阈值的另一温度传感器作为优选温度传感器。4.根据权利要求1所述的光模块温度校准方法，其特征在于，不同待测光模块指定有不同的测温区域，则所述通过测温模块中的多温度传感器阵列，实时测定待测光模块指定测温区域内的温度，具体为：根据当前待测光模块的指定测温区域，启动测温模块中相应图形区域的一个或多个温度传感器作为实际工作对象，实时测定待测光模块指定测温区域内的温度。5.根据权利要求1所述的光模块温度校准方法，其特征在于，在通过测温模块测定温度之前，所述方法还包括：将光模块的温度校准装置搭建完成后，调整所述测温模块的位置正对待测光模块，使得所述测温模块能够感应所述待测光模块指定测温区域内的温度；将待测光模块上电预热后固定在温度校准装置中。6.根据权利要求1所述的光模块温度校准方法，其特征在于，所述每隔预设时间根据实测的温度值计算平均温度，并判断待测光模块是否进入...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘磊，张少杰，吴卫，潘罡，穆磊，
申请(专利权)人：武汉光迅科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42