一种适用于边界扫描测试的通用电路板制造技术

本发明专利技术涉及一种适用于边界扫描测试的通用电路板,作为边界扫描仿真器的JTAG接口与多个不同针数JTAG接口和多个电平转换芯片形成并联结构，并连接的多个电平转换电路，实现对复杂电路板进行边界扫描测试时，经过电平转换、驱动、跳线等方式实现链路灵活配置，同时解决不同芯片之间JTAG链路的兼容问题，以及解决待测电路板接口信号无法进行测试的问题。

A General Purpose Circuit Board for Boundary Scan Testing

The invention relates to a general circuit board suitable for boundary scan test. As a boundary scan simulator, JTAG interface forms a parallel structure with multiple JTAG interfaces with different pin numbers and multiple level conversion chips, and multiple level conversion circuits are connected to realize flexible link configuration through level conversion, drive, jump-line and so on when boundary scan test is carried out on complex circuit board. At the same time, it solves the compatibility of JTAG links between different chips and the problem that the interface signal of the circuit board to be tested can not be tested.

【技术实现步骤摘要】
一种适用于边界扫描测试的通用电路板
本专利技术属于集成电路测试领域，涉及一种适用于边界扫描测试的通用电路板,解决在电路板边界扫描测试时，不同电平、不同针脚JTAG接口之间配置的问题。
技术介绍
随着电子技术的飞速发展以及PCB生产工艺水平的不断提高，数字电路集成度越来越高、尺寸越来越小，尤其是表面帖装技术SMT(SurfaceMountedTechnology)的出现，使传统的测试技术即对系统内部节点访问的测试方法已经无法实施，带来了前所未有的测试难题。传统的针床测试，通过探头与测试点接触获取测试点信息的方法，不仅费用高、耗时长，而且已经很难满足当前的测试需求。为解决该问题，JTAG组织和IEEE组织共同推出了一种标准的边界扫描结构及其测试接口，即IEEE1149.1边界扫描标准。其主要思想是：通过在芯片管脚和芯片内部逻辑电路之间增加边界扫描单元(BSC)，实现对芯片管脚状态的串行设定和读取，从而提供芯片级、板级、系统级的标准测试框架。
技术实现思路
要解决的技术问题为了避免现有技术的不足之处，本专利技术提出一种适用于边界扫描测试的通用电路板,解决在电路板边界扫描测试时，不同电平、不同针脚JTAG接口之间配置的问题。技术方案一种适用于边界扫描测试的通用电路板，其特征在于包括作为边界扫描仿真器的JTAG接口、多个不同针数JTAG接口和多个电平转换芯片；相同针脚的JTAG接口的TCK信号端、TMS信号端和TRST信号端形成并联结构，上一级的TDO信号端通过匹配电阻和跳线孔与下一级的TDI信号端连接；边界扫描仿真器为输入接口，输入前端有跳线孔，输出端的TCK信号端通过4.7K电阻连接GND，并与每个并联结构的TCK信号端并联；输出端的TMS信号端通过4.7K电阻连接VCC，并与每个并联结构的TMS信号端并联；输出端的TDI信号端通过4.7K电阻连接VCC，并与每个并联结构的TDI信号端通过跳线孔并联；输出端的TRST信号端通过4.7K电阻连接VCC，并与每个并联结构的TRST信号端并联；多个电平转换芯片成对设置，将末端JTAG接口的TMS信号端、TCK信号端、TDO信号端和TRST信号端与其中一个电平转换芯片输入端连接，其中TDO信号端与电平转换芯片之间设有跳线孔，电平转换芯片的输出连接JTAG接口的输入端的TMS信号端、TCK信号端、TDI信号端和TRST信号端，该JTAG接口的TDO信号端连接另一个电平转换芯片，另一个电平转换芯片输出端设有跳线孔；所述电平转换芯片后连接的JTAG接口与芯片之前的JTAG接口针数相同；所述成对设置电平转换芯片为：两个电压之间的相互转换。在边界扫描仿真器的JTAG接口的前端设有信号驱动芯片。在边界扫描仿真器的JTAG接口的输出端设有信号驱动芯片。所述边界扫描仿真器的JTAG接口采用10针2.54间距的JTAG接口。有益效果本专利技术提出的一种适用于边界扫描测试的通用电路板,通过选取电路板常用的JTAG接口，对复杂电路板进行边界扫描测试时，经过电平转换、驱动、跳线等方式实现链路灵活配置，同时解决不同芯片之间JTAG链路的兼容问题，以及解决待测电路板接口信号无法进行测试的问题。本项专利技术的优点在于：1、链路配置灵活；2、可配置不同电平的JTAG接口；3、可对同一个链路上的多个边扫器件提供驱动；4、可对待测电路板上的各型连接器以及对外输出信号进行测试。附图说明图1：电平转换设计图2：JTAG接口跳线设计图3：JTAG转接板设计a：实施例电路图；b：应用原理图具体实施方式现结合实施例、附图对本专利技术作进一步描述：每个JTAG接口按照标准设置上下拉电阻，并在TDO管脚上串联一个电阻进行阻抗匹配；选取一个10针2.54间距的JTAG接口作为边界扫描仿真器的输入接口，仿真器上的TMS信号、TCK信号、TDI信号分别接到SN74AVC4T245DR电平转换芯片输入端以增加驱动能力；将除仿真器JTAG接口外其他的每一个JTAG接口的TDI与TDO设置跳线孔，可通过短接跳线孔自由配置链路；将电平转换芯片输出的TMS信号、TCK信号分别和其他不需要进行电平转换的JTAG接口的TMS信号和TCK信号并联，对不需要电平转换的JTAG接口，分别将前一级JTAG接口的TDO信号接到下一级JTAG接口的TDI信号上；设置需要3.3V转1.8V电平的JTAG接口，将4所述JTAG接口最后一级的TMS信号、TCK信号、TDO信号接入电平转换芯片输入端，将转换后的信号分别接在下一级不同针脚数量JTAG接口的TMS、TCK和TDI信号上；同理设置需要3.3V转2.5V电平的JTAG接口；将使用2.5V和1.8V电平的最后一级JTAG接口的TDO信号通过电平转换芯片转换为3.3V回到仿真器的TDO管脚。将该接插板通过连接器插入1所述电路板。通过接插板将待测电路板接口上的信号都引入该边扫芯片的IO管脚上，从而可对接口信号进行测试。本实施例的适用于边界扫描测试的通用电路板，包括作为边界扫描仿真器的JTAG接口，采用10针2.54间距的JTAG接口。不同针数JTAG接口：6针一个，10针五个，14针两个，16针三个，20针两个，26针两个。电平转换芯片：两个3.3V转1.8V电平和1.8V转3.3V电平；一个2.5V转3.3V电平和3.3V转2.5V电平；两个26针JTAG接口TCK信号端、TMS信号端和TRST信号端形成并联结构，上一级的TDO信号端通过匹配电阻和跳线孔与下一级的TDI信号端连接；两个20针JTAG接口TCK信号端、TMS信号端和TRST信号端形成并联结构，上一级的TDO信号端通过匹配电阻和跳线孔与下一级的TDI信号端连接；三个10针JTAG接口TCK信号端、TMS信号端和TRST信号端形成并联结构，上一级的TDO信号端通过匹配电阻和跳线孔与下一级的TDI信号端连接；两个14针JTAG接口TCK信号端、TMS信号端和TRST信号端形成并联结构，上一级的TDO信号端通过匹配电阻和跳线孔与下一级的TDI信号端连接；三个16针JTAG接口TCK信号端、TMS信号端和TRST信号端形成并联结构，上一级的TDO信号端通过匹配电阻和跳线孔与下一级的TDI信号端连接；边界扫描仿真器为输入接口，输入前端有跳线孔，边界扫描仿真器前端设有信号驱动芯片，输出端设有信号驱动芯片；信号驱动芯片输出端的TCK信号端通过4.7K电阻连接GND，并与26针、20针、10针、14针和16针并联结构，以及一个6针的TCK信号端并联；输出端的TMS信号端通过4.7K电阻连接VCC，并与每个结构的TMS信号端并联；输出端的TDI信号端通过4.7K电阻连接VCC，并与每个结构的TDI信号端通过跳线孔并联；输出端的TRST信号端通过4.7K电阻连接VCC，并与每个结构的TRST信号端并联；一个3.3V转1.8V电平和一个1.8V转3.3V电平，以及一个2.5V转3.3V电平和3.3V转2.5V电平；10针JTAG结构的TMS信号端、TCK信号端、TDO信号端和TRST信号端与一个3.3V转1.8V电平和一个3.3V转2.5V电平的输入端连接，其中TDO信号端与电平转换芯片之间设有跳线孔，电平转换芯片的输出连接JTAG接口的输入端的TMS信号端、TCK信本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种适用于边界扫描测试的通用电路板，其特征在于包括作为边界扫描仿真器的JTAG接口、多个不同针数JTAG接口和多个电平转换芯片；相同针脚的JTAG接口的TCK信号端、TMS信号端和TRST信号端形成并联结构，上一级的TDO信号端通过匹配电阻和跳线孔与下一级的TDI信号端连接；边界扫描仿真器为输入接口，输入前端有跳线孔，输出端的TCK信号端通过4.7K电阻连接GND，并与每个并联结构的TCK信号端并联；输出端的TMS信号端通过4.7K电阻连接VCC，并与每个并联结构的TMS信号端并联；输出端的TDI信号端通过4.7K电阻连接VCC，并与每个并联结构的TDI信号端通过跳线孔并联；输出端的TRST信号端通过4.7K电阻连接VCC，并与每个并联结构的TRST信号端并联；多个电平转换芯片成对设置，将末端JTAG接口的TMS信号端、TCK信号端、TDO信号端和TRST信号端与其中一个电平转换芯片输入端连接，其中TDO信号端与电平转换芯片之间设有跳线孔，电平转换芯片的输出连接JTAG接口的输入端的TMS信号端、TCK信号端、TDI信号端和TRST信号端，该JTAG接口的TDO信号端连接另一个电平转换芯片，另一个电平转换芯片输出端设有跳线孔；所述电平转换芯片后连接的JTAG接口与芯片之前的JTAG接口针数相同；所述成对设置电平转换芯片为：两个电压之间的相互转换。...

【技术特征摘要】
1.一种适用于边界扫描测试的通用电路板，其特征在于包括作为边界扫描仿真器的JTAG接口、多个不同针数JTAG接口和多个电平转换芯片；相同针脚的JTAG接口的TCK信号端、TMS信号端和TRST信号端形成并联结构，上一级的TDO信号端通过匹配电阻和跳线孔与下一级的TDI信号端连接；边界扫描仿真器为输入接口，输入前端有跳线孔，输出端的TCK信号端通过4.7K电阻连接GND，并与每个并联结构的TCK信号端并联；输出端的TMS信号端通过4.7K电阻连接VCC，并与每个并联结构的TMS信号端并联；输出端的TDI信号端通过4.7K电阻连接VCC，并与每个并联结构的TDI信号端通过跳线孔并联；输出端的TRST信号端通过4.7K电阻连接VCC，并与每个并联结构的TRST信号端并联；多个电平转换芯片成对设置，将末端JTAG接口的TMS信号端、TCK信号端、TDO信号端和TRST信...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈建，喻波，尤阳，姚远，
申请(专利权)人：中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所，
类型：发明
国别省市：河南,41