一种测试单元、测试单元群组以及群组测试仪制造技术

本申请公开了一种测试单元、测试单元群组以及群组测试仪，涉及IC卡非接触模块测试技术领域。所述群组测试仪包括测试机台、控制器和测试单元群组，测试单元群组包括机箱、探针组和电源模块，机箱包括读卡器主板和平行放置的第一感应板和第二感应板。采用本申请的群组测试仪，能够实现降低测试仪成本，量产测试双界面模块的非接触界面功能。

【技术实现步骤摘要】
一种测试单元、测试单元群组以及群组测试仪
本申请涉及IC卡非接触模块测试
，尤其涉及一种测试单元、测试单元群组以及群组测试仪。
技术介绍
现有技术在带有非接触界面的双界面模块的生产线上，最后一道主要工序为模块非接界面的测试。由于模块位于条带卷盘的载体之上而非卡基之上，常见的非接触测试仪可以使用多个头并行的方式对条带模块进行量产测试，例如16个测试头，24个测试头群组测试，加快了测试速度。市面上的多头测试仪通常在机箱21里集合了相应比例数量的主板，例如1拖2的主板6块并行，可以同时测12个模块。现有多头纯电路测试仪因其集成度高，功能复杂，其主板加入了中央处理器、内存、总线和嵌入式操作系统，导致测试仪成本上升。
技术实现思路
本申请的目的在于提供一种测试单元、测试单元群组以及群组测试仪，降低测试仪成本，量产测试双界面模块的非接触界面功能。为达到上述目的，本申请提供一种测试非接触模块的测试单元，包括读卡器主板和平行放置的第一感应板和第二感应板；所述读卡器主板与所述第一感应板电连接，所述第二感应板与探针组中的对应探针电连接；当探针与待测模块连接时，通过所述第一感应板与所述第二感应板之间的无线电磁感应交换能量和信息。如上的，其中，所述第一感应板和所述第二感应板均设置天线回路，两者之间通过天线产生无线电磁感应。如上的，其中，所述读卡器主板包括连接控制器接口卡的第一接口、连接第一感应板的第二接口和连接电源模块的第三接口。如上的，其中，所述第一感应板与所述第二感应板四边对齐，两板之间的平行间隔设置距离为0.5～1厘米。如上的，其中，所述读卡器主板使用同轴屏蔽电缆连接所述第一感应板；所述第二感应板使用同轴屏蔽电缆连接探针组中对应的探针。本申请还提供一种包括上述测试单元的测试单元群组，包括由所述测试单元组成的机箱、探针组和电源总模块；所述机箱使用金属隔板分割成多个机箱单元，每个机箱单元集成一个测试单元；每个测试单元均与所述探针组中的一组探针连接；所述电源总模块由与所有测试单元连接的电路模块集成而成，为每个测试单元提供电量。如上的，其中，所述探针组由多组探针集成在一块电路板上，且每组探针由两枚尖针组成。本申请还提供一种包括上述测试单元群组的群组测试仪，还包括控制器；控制器与测试机台通讯连接，收集测试机台的测试信息；控制器与测试单元群组通讯连接，根据测试信息发送测试命令并接收测试结果。如上的，其中，所述控制器包括上行数据处理模块、指令转换模块和下行数据处理模块；所述上行数据处理模块与所述测试机台连接，用于收集测试机台的物理状态信息、以及将测试结果发送给测试机台；所述指令转换模块，用于将指令脚本转换为测试单元群组能够识别的测试指令；所述下行数据处理模块与测试单元群组连接，用于将测试指令发送至测试单元群组、以及接收测试单元群组发送的各单元测试结果。如上的，其中，所述控制器包括显示界面，用于显示测试结果。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为群组测试仪的系统图；图2为群组测试仪中的测试单元群组12的结构图；图3为测试单元群组12中的每个测试单元的结构图。具体实施方式下面结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。如图1所示，本申请提供一种测试非接触模块的群组测试仪，群组测试仪1包括控制器11和测试单元群组12。控制器11包括上行数据处理模块111、指令转换模块112和下行数据处理模块113；上行数据处理模块111与测试机台13连接，用于收集测试机台13的物理状态信息(如探针就位、探针脱离、空白位等)、以及将测试结果发送给测试机台13；指令转换模块112，用于将指令脚本转换为测试单元群组12能够识别的测试指令；下行数据处理模块113与测试单元群组12连接，用于将测试指令发送至测试单元群组12、以及接收测试单元群组12发送的各单元测试结果。控制器11采用多线程通讯方式与测试机台13和测试单元群组12通讯连接，其中包括有一个主线程和多个单元线程，单元线程的数量由待测试单元数量决定。控制器11与测试机台13连接，通过主线程与测试机台13通讯，收集测试机台13提供的探针板就位信息、条带测试位映射信息，即获知哪些模块需要测试和哪些模块不需要测试。同时，控制器11通过主线程向各个单元线程发送启动或停止命令并从测试单元中收集测试结果，组合各个测试单元的测试结果并发送至测试机台13。优选的，控制器11实时将测试结果报表反馈到控制器11的显示界面供测试人员查阅，并记录测试日志。控制器11与测试单元群组12通讯连接，通过各单元线程与测试单元群组12中的各个测试单元通讯，根据测试机台13启动指令，将转换好的指令脚本以测试主板能够识别的API函数指令形式，发送至待测试的测试单元的测试主板；并获得各测试主板返回的测试结果和测试细节，汇总各测试单元的测试结果并保存至控制器11指定的日志区，并在逻辑上通知测试机台13的测试终止。测试机台13作为本系统的宿主操作系统，负责条带及卷盘的实际运行、空白模块的预先识别、测试探针组22与条带模块的物理连接，对坏模块的分组或打孔标记工作。本技术采用一个总的控制器来控制多个测试单元进行非接触界面功能测试，利用控制器的处理器、内存实时翻译和发送具体的测试指令，完成指令相关的计算和逻辑处理，因此无需在每个测试单元的主板上设置中央处理器、内存、总线和嵌入式系统等，节约测试仪成本。实施例二本申请实施例二对测试单元群组12进行详细描述，参见图2，其中，测试单元群组12包括机箱21、探针组22和电源总模块23。示例性的，图2以机箱中集成24个测试单元、对应的探针组由24组探针为例来说明。机箱21中分割有多个机箱单元211，机箱单元之间使用金属隔板212隔离无线感应产生的干扰，每个机箱单元211集成有一个测试单元213。探针组22由多组探针集成在一块电路板上，优选的每组探针由两枚尖针221组成。探针组22的数量与机箱21中的测试单元的数量相等，探针组22中的每组探针与机箱21中的每个测试单元一一对应连接，每组探针连接一个待测模块，多组探针可以对应测试多个待测模块。电源总模块23由与所有测试单元连接的电路模块集成而成，按照测试单元的数量提供相应数量的多路输出。本技术使用无线感应式读卡器群组来进行非接触界面测试，为了防止不同测试单元之间的无线感应，设置金属隔板对各个测试单元进行隔离，减少测试单元之间的测试干扰。实施例三本申请实施例三对每个测试单元进行详细描述，参见图3，其中，每个测试单元213均包括读卡器主板31和平行放置的两块天线感应板；读卡器主板31一般是不带中央处理器的非嵌入式结构，其上设置有连接控制器11接口卡的第一接口311、连接天线感应板的第二接口312以及连接电源模块23的第三接本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试非接触模块的测试单元，其特征在于，包括读卡器主板和平行放置的第一感应板和第二感应板；所述读卡器主板与所述第一感应板电连接，所述第二感应板与探针组中的对应探针电连接；当探针与待测模块连接时，通过所述第一感应板与所述第二感应板之间的无线电磁感应交换能量和信息。

【技术特征摘要】
1.一种测试非接触模块的测试单元，其特征在于，包括读卡器主板和平行放置的第一感应板和第二感应板；所述读卡器主板与所述第一感应板电连接，所述第二感应板与探针组中的对应探针电连接；当探针与待测模块连接时，通过所述第一感应板与所述第二感应板之间的无线电磁感应交换能量和信息。2.如权利要求1所述的测试非接触模块的测试单元，其特征在于，所述第一感应板和所述第二感应板均设置天线回路，两者之间通过天线产生无线电磁感应。3.如权利要求1所述的测试非接触模块的测试单元，其特征在于，所述读卡器主板包括连接控制器接口卡的第一接口、连接第一感应板的第二接口和连接电源模块的第三接口。4.如权利要求1所述的测试非接触模块的测试单元，其特征在于，所述第一感应板与所述第二感应板四边对齐，两板之间的平行间隔设置距离为0.5～1厘米。5.如权利要求1所述的测试非接触模块的测试单元，其特征在于，所述读卡器主板使用同轴屏蔽电缆连接所述第一感应板；所述第二感应板使用同轴屏蔽电缆连接探针组中对应的探针。6.一种包括如权利要求1-5任一项所述的测试单元的测试单元群组，其特征在于，包括由所述测试单元组成的机箱、探针组和电源总模块；...

【专利技术属性】
技术研发人员：严朝辉，刘渊，
申请(专利权)人：江苏恒宝智能系统技术有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32