一种加速检测LED灯寿命的方法技术

本发明专利技术公开了一种加速检测LED灯寿命的方法，包括以下步骤：S1、在需要检测的LED灯连通到电路上并在电路中使用大电流使其正常发光；S2、在步骤S1的基础上，通过三参数模型对LED灯的寿命进行检测，得到LED灯的寿命W1；S3、在步骤S1的基础上，通过指数分布模型对LED灯的寿命进行检测，得到LED灯的寿命W2；S4、在步骤S1的基础上，通过经验公式对LED灯的寿命进行检测，得到LED灯的寿命W3；S5、将W1、W2、W3进行求和并得其平均数值W4，W4即为所检测LED灯的寿命。

【技术实现步骤摘要】
一种加速检测LED灯寿命的方法
本专利技术涉及LED灯领域，尤其涉及一种加速检测LED灯寿命的方法。
技术介绍
LED，全称LightEmittingDiode，即发光二极管，是半导体固体发光器件的一种。发光材料是固体半导体芯片，当在其两端加上正向电压，半导体里载流子发生复合，引起光子的发射从而产生光。LED可以直接发出红、橙、黄、绿、青、蓝、紫色的光。在全球应对气候变化和能源紧缺的大背景下,节能减排已被提高到战略高度,世界各国都制订了鼓励半导体照明，淘汰白炽灯的政策。据相关统计，大部分国家在2012年后都已启动对白炽灯的淘汰，LED已成为照明行业的中坚力量。在我国，LED几乎已是人们生活生产中不可缺少的一部分，它拥有许多优势，如绿色环保、耗电低、精细耐抗击等，然而，LED产品在研发时，必定要不断经过寿命测试并从中选优，所以，LED产品寿命检测问题是当前LED产品研发过程中首先需要解决的，其对LED产品的研发方向具有深远的影响。
技术实现思路
本专利技术目的是解决上述问题，提供一种简单高效、检测准确度高的检测LED灯寿命的方法。为了实现上述目的，本专利技术的技术方案是：一种加速检测LED本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种加速检测LED灯寿命的方法，其特征在于：包括以下步骤：S1、在需要检测的LED灯连通到电路上并在电路中使用大电流使其正常发光；S2、在步骤S1的基础上，通过三参数模型对LED灯的寿命进行检测，得到LED灯的寿命W1；S3、在步骤S1的基础上，通过指数分布模型对LED灯的寿命进行检测，得到LED灯的寿命W2；S4、在步骤S1的基础上，通过经验公式对LED灯的寿命进行检测，得到LED灯的寿命W3；S5、将W1、W2、W3进行求和并得其平均数值W4，W4即为所检测LED灯的寿命。

【技术特征摘要】
1.一种加速检测LED灯寿命的方法，其特征在于：包括以下步骤：S1、在需要检测的LED灯连通到电路上并在电路中使用大电流使其正常发光；S2、在步骤S1的基础上，通过三参数模型对LED灯的寿命进行检测，得到LED灯的寿命W1；S3、在步骤S1的基础上，通过指数分布模型对LED灯的寿命进行检测，得到LED灯的寿命W2；S4、在步骤S1的基础上，通过经验公式对LED灯的寿命进行检测，得到LED灯的寿命W3；S5、将W1、W2、W3进行求和并得其平均数值W4，W4即为所检测LED灯的寿命。2.如权利要求1所述的加速检测LED灯寿命的方法，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：林洁丽，黄炳胜，郭文浩，张鑫清，王春燕，梁佩莹，
申请(专利权)人：佛山科学技术学院，
类型：发明
国别省市：广东,44