【技术实现步骤摘要】
一种局部光谱高分辨成像光谱仪系统
本专利技术属于成像光谱仪
,具体涉及一种局部光谱高分辨成像光谱仪系统。
技术介绍
成像光谱仪在成像医疗,农业,监测等多个领域均有重要应用,从目前成像光谱仪技术来看,这些领域都需要获取大量光谱数据,现有的光谱成像仪能够实现高光谱分辨率,高空间分辨率。分辨率的提高,为数据存储带来了巨大的负担,并且在实际应用中,在宽谱段中不是所有光谱都需要,现有的光谱成像仪无法在宽谱段内实现感兴趣谱段的局部高分辨,无法解决对目标光谱信息高分辨成像的同时不增加信息存储负担的难题。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术的目的是提供一种局部光谱高分辨成像光谱仪系统,能够提高局部光谱分辨率,并降低成像数据量。一种成像光谱仪系统,沿光路顺次包括狭缝(2)、反射准直镜(3)、衍射光栅(4)、反射聚焦镜(5)、微透镜组(6)、中继镜头(8)以及探测器(9),其中:所述狭缝(2)用于将目标物(1)进行一维空间扫描;所述反射准直镜(3)用于将狭缝(2)传来的一维图像准直成平行光;所述衍射光栅(4)用于将反射准直镜(3)反射的平行光分光为不同波长的单色光;所述反射聚焦镜(5)用于将不同波长的单色光在一次焦平面(7)上聚焦成二维光谱图像;所述微透镜组(6)置于一次焦平面(7)的感兴趣谱段所在区域,对该区域图像进行放大;所述中继镜头(8)用于将一次焦平面(7)的二维光谱图像传递到探测器(9)上;所述探测器(9)用于接收二维光谱图像信息。本专利技术具有如下有益效果:本专利技术提出的局部光谱高分辨成像光谱仪系统,能够通过移动微透镜组的位置将特定的光谱段信息实现局部光谱高分 ...
【技术保护点】
1.一种成像光谱仪系统,其特征在于,沿光路顺次包括狭缝(2)、反射准直镜(3)、衍射光栅(4)、反射聚焦镜(5)、微透镜组(6)、中继镜头(8)以及探测器(9),其中:所述狭缝(2)用于将目标物(1)进行一维空间扫描;所述反射准直镜(3)用于将狭缝(2)传来的一维图像准直成平行光;所述衍射光栅(4)用于将反射准直镜(3)反射的平行光分光为不同波长的单色光;所述反射聚焦镜(5)用于将不同波长的单色光在一次焦平面(7)上聚焦成二维光谱图像;所述微透镜组(6)置于一次焦平面(7)的感兴趣谱段所在区域,对该区域图像进行放大;所述中继镜头(8)用于将一次焦平面(7)的二维光谱图像传递到探测器(9)上;所述探测器(9)用于接收二维光谱图像信息。
【技术特征摘要】
1.一种成像光谱仪系统,其特征在于,沿光路顺次包括狭缝(2)、反射准直镜(3)、衍射光栅(4)、反射聚焦镜(5)、微透镜组(6)、中继镜头(8)以及探测器(9),其中:所述狭缝(2)用于将目标物(1)进行一维空间扫描;所述反射准直镜(3)用于将狭缝(2)传来的一维图像准直成平行光;所述衍射光栅(4)用于将反射准直镜(3...
【专利技术属性】
技术研发人员:常军,胡瑶瑶,宋大林,沈本兰,
申请(专利权)人:北京理工大学,
类型:发明
国别省市:北京,11
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