基于由3D打印过程生成的测试块对形成为一件式的结构进行机械测试的方法技术

技术编号:20289727 阅读:25 留言:0更新日期:2019-02-10 20:20
本发明专利技术涉及一种用于对形成为一件式的结构(1、10)进行机械测试的方法,包括以下步骤:a)识别所述形成为一件式的结构(1、10)中的子元件(2、11)以生成要经受机械测试的测试元件(3、3'),其中所述子元件(2、11)仅代表所述形成为一件式的结构(1、10)的一部分,b)确定所述子元件(2、11)的空间几何结构,c)至少部分地或完全借助3D打印过程基于所述子元件(2、11)的所述空间几何结构生成所述测试元件(3、3'),d)在所生成的测试元件(3、3')上执行至少一种机械测试。本发明专利技术的另一主题是一种用于修改形成为一件式的结构(1、10)的结构设计数据的方法,其中从前述方法中获得的机械测试的数据被用于修改所述结构(1、10)的结构设计数据。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】基于由3D打印过程生成的测试块对形成为一件式的结构进行机械测试的方法本专利技术涉及对形成为一件式的结构进行机械测试的方法,包括如下步骤:a)识别所述形成为一件式的结构中的子元件来生成要经受机械测试的测试元件,其中所述子元件仅代表所述形成为一件式的结构的一部分,b)确定所述子元件的空间几何拓扑结构,c)至少部分地或完全借助3D打印过程基于所述子元件的空间几何拓扑结构生成所述测试元件,d)对所生成的测试元件实施至少一种机械测试。本专利技术的另一个主题是一种用于改变形成为一件式的结构的结构设计数据的方法,其中从前述方法中获得的机械测试数据被用于改变所述结构的结构设计数据。本领域充分熟知对较大的结构的各个区域进行材料测试的方法。为此目的,用惯用方法移除要发生非常高的机械载荷的对应区域,比如通过锯掉或切掉。然后,被移除的区域接着经受机械加载测试,所述测试对应于在该位置处通常发生的机械载荷。以这种方式,可以研究较大机构的机械行为,该结构例如太大而不能在测试机器中被整体研究。如果在该部件的几个关键位置处都执行这些测试,那么可以在所得结果的基础上近似地总结出整个结构的承载能力。部件越来越多地由计算机开本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于对形成为一件式的结构(1、10)进行机械测试的方法,包括以下步骤:a)识别所述结构(1、10)中的子元件(2、11)以生成要经受机械测试的测试元件(3、3'),其中所述子元件(2、11)仅代表所述结构(1、10)的一部分,b)确定所述子元件(2、11)的空间几何拓扑结构,c)至少部分地或完全借助3D打印过程基于所述子元件(2、11)的所述空间几何拓扑结构生成所述测试元件(3、3'),d)在所生成的测试元件(3、3')上执行至少一种机械测试。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.06.24 EP 16176212.51.一种用于对形成为一件式的结构(1、10)进行机械测试的方法,包括以下步骤:a)识别所述结构(1、10)中的子元件(2、11)以生成要经受机械测试的测试元件(3、3'),其中所述子元件(2、11)仅代表所述结构(1、10)的一部分,b)确定所述子元件(2、11)的空间几何拓扑结构,c)至少部分地或完全借助3D打印过程基于所述子元件(2、11)的所述空间几何拓扑结构生成所述测试元件(3、3'),d)在所生成的测试元件(3、3')上执行至少一种机械测试。2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述测试元件(3、3')上提供适合于被连接到用于机械测试的设备的至少一个适配器元件(4、4')。3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,借助3D打印过程生成所述适配器元件(4、4'),尤其是与生成所述测试元件(3、3')一起在一个工作步骤中。4.如权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述适配器元件(4、4')选自耳状物、孔眼、销、搭板、圆筒、抓手、保持器、螺纹、网眼,尤其是选自能从测量方面看被牢固地且合适地连接到经典机械测试机器中的形式。5.如权利要求2-4中任一项所述的方法,其特征在于,提供至少两个适配器元件(4、4')。6.如权利要求2-5中任一项所述的方法,其特征在于,所述适配器元件(4、4')被定位在力矢量的施加点处,在该施加点处尤其要出现与所述形成为一件式的结构(1、10)上的部件失效相关的机械加载,与部件失效相关的机械加载借助载荷和失效的FEM模拟确定。7.如前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述形成为一件式的结构(1、10)至少部分是3D打印的,其中所述子元件(2、11)优选地完全位于所述结构(1、10)的3D打印的部分中。8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,用于打印所述测试元件(3、3')的3D打印过程对应于用于至少部分地打印所述形成为一件式的结构(1、10)的3D打印过程。9.如前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,基于结构设计数据,尤其是CAD数据或者对所述形成为一件式的结构(1、10)的至少部分结构分析的结果,确定所述子元件(2、11)的所述空间几何拓扑结构,所述分析尤其借助于层析成像的层成像过程,尤其借助电子、离子或x-射线分析、核磁共振分析(...

【专利技术属性】
技术研发人员:D阿克滕T比斯根D迪克斯特拉N德乔治
申请(专利权)人:科思创德国股份有限公司
类型:发明
国别省市:德国,DE

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