【技术实现步骤摘要】
一种新型高分辨率光场显微镜结构
本专利技术属于显微镜技术及三维成像领域，涉及一种光场显微成像系统和光场显微镜组件。
技术介绍
光场是一个四维数据，记录了空间中光的信息，通过算法可以从记录的光场中重建所拍摄场景/物体的三维信息。但传统的光场拍摄方式，存在空间分辨率低的问题。现有的普通显微镜只能捕捉样品的平面信息，无法记录完整的三维信息。光场显微镜可以通过记录空间中光的传播信息，从而实现样品的三维重建。但因为光场的所有信息都是记录在一个图像传感器(CCD/CMOS)上，所以得到的空间分辨率必然要比只拍摄二维图像的分辨率要低。实际上，为达到一个较为理想的三维重建效果，光场拍摄的空间分辨率要远低于图像传感器可直接提供的分辨率。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种新型高分辨率光场显微镜结构，本专利技术的有益效果是通过结合两种拍摄方式的优势(传统显微成像可拍摄高分辨率图像以及光场显微可记录三维信息)实现高分辨率的光场拍摄，并可重建出高空间分辨率的三维信息。本专利技术所采用的技术方案是包括物镜和透镜，透镜置于物镜上方，由物镜和透镜组成一个普通显微系统，样品台位于物镜下方，照...
【技术保护点】
1.一种新型高分辨率光场显微镜结构，其特征在于：包括物镜和透镜，透镜置于物镜上方，由物镜和透镜组成一个普通显微系统，样品台位于物镜下方，照明系统位于样品台下方，分光棱镜位于透镜上方，微透镜阵列位于分光棱镜上方，第一相机位于微透镜阵列上方，分光棱镜旁还设有第二相机。
【技术特征摘要】
1.一种新型高分辨率光场显微镜结构，其特征在于：包括物镜和透镜，透镜置于物镜上方，由物镜和透镜组成一个普通显微系统，样品台位于物镜下方，照明系统位于样品台下方，分光棱镜位于透镜上方，微透镜阵列位于分光棱镜上方，第一相机位于微透镜阵列上方，分光棱镜旁还设有第二相机。2.按照权利要求1所述一种新型高分辨率光场显微镜结构，其特征在于：所述第一相机感光元件表面放置于微透镜阵列后的焦面处。3.按照权利要求1所述一种新型高分辨率光场显微镜结构，其特征在于：所述...
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