一种QC2.0和QC3.0快速放电电压变换控制电路制造技术

本实用新型专利技术涉及老化测试技术领域，尤其是指一种QC2.0和QC3.0快速放电电压变换控制电路，包括MCU、QC放电变换模块和恒流放电控制模块；QC放电变换模块包括切换控制芯片U1、第一光耦放大电路、第二光耦放大电路、继电器RL1A和继电器控制电路，本实用新型专利技术可以兼容QC2.0和QC3.0快充协议，可以对QC2.0或者QC3.0产品进行放电测试，减少测试仪器的种类，降低成本，效果高效，使用方便。

A Quick Discharge Voltage Conversion Control Circuit for QC2.0 and QC3.0

The utility model relates to the field of aging testing technology, in particular to a QC2.0 and QC3.0 fast discharge voltage conversion control circuit, including MCU, QC discharge conversion module and constant current discharge control module; QC discharge conversion module includes a switching control chip U1, a first photocoupler amplifier circuit, a second photocoupler amplifier circuit, a relay RL1A and a relay control circuit, and the utility model can be combined. QC2.0 and QC3.0 fast charging protocol can be used for discharge testing of QC2.0 or QC3.0 products, reducing the types of testing instruments, reducing costs, high efficiency and easy to use.

【技术实现步骤摘要】
一种QC2.0和QC3.0快速放电电压变换控制电路
本技术涉及老化测试
，尤其是指一种QC2.0和QC3.0快速放电电压变换控制电路。
技术介绍
目前快充技术和以及与快充技术相关的移动电源深受用户的欢迎，占领大部分市场。伴随着这些快充产品的应用，随之而来就带来了对移动电源、快充式移动电源等被测品在生产中的老化测试问题，品质保障、低成本、高效率、可批量老化测试的设备被广泛需求。针对同一快充协议的不同技术版本，需用使用多种测试仪器进行老化测试，成本高，兼容性低，效率低且极不方便。
技术实现思路
本技术针对现有技术的问题提供一种QC2.0和QC3.0快速放电电压变换控制电路。为了解决上述技术问题，本技术采用如下技术方案：一种QC2.0和QC3.0快速放电电压变换控制电路，包括MCU、QC放电变换模块和恒流放电控制模块，所述QC放电变换模块和恒流放电控制模块分别与MCU耦接；所述QC放电变换模块包括切换控制芯片U1、第一光耦放大电路、第二光耦放大电路、继电器RL1A和用于控制继电器RL1A的继电器控制电路，所述切换控制芯片U1的控制端与MCU耦接，所述切换控制芯片U1的第一输出端与第一光耦放大电路的第一输入端耦接，所述切换控制芯片U1的第二输出端与第一光耦放大电路的第二输入端耦接，所述第一光耦放大电路的输出端与继电器RL1A的第四引脚耦接；所述切换控制芯片U1的第三输出端与第二光耦放大电路的第一输入端耦接，所述切换控制芯片U1的第四输出端与第二光耦放大电路的第二输入端耦接，所述第二光耦放大电路的输出端与继电器RL1A的第三引脚耦接；所述继电器控制电路的输入端与MCU耦接，所述继电器控制电路的输出端与继电器RL1A的控制端耦接。进一步的，所述切换控制芯片U1的型号为SN74HC595DR。进一步的，所述MCU的型号为STM8S105S4。进一步的，所述第一光耦放大电路包括光电耦合器U104A、光电耦合器U105A和运算放大器U101A，所述光电耦合器U104A的第一引脚与所述切换控制芯片U1的第十五引脚耦接，所述光电耦合器U105A的第一引脚与所述切换控制芯片U1的第一引脚耦接；所述光电耦合器U104A的第四引脚和所述光电耦合器U105A的第四引脚均与运算放大器U101A的正极输入端耦接；所述第二光耦放大电路包括光电耦合器U106A、光电耦合器U107A和运算放大器U101B，所述光电耦合器U106A的第一引脚与所述切换控制芯片U1的第二引脚耦接，所述光电耦合器U107A的第一引脚与所述切换控制芯片U1的第三引脚耦接；所述光电耦合器U106A的第四引脚和所述光电耦合器U107A的第四引脚均与运算放大器U101B的正极输入端耦接。进一步的，所述恒流放电控制模块包括整流滤波电路、运算放大器U106A和功率MOS管，所述整流滤波电路的输入端与MCU耦接，所述整流滤波电路的输出端与运算放大器U106A的正极输入端耦接，所述运算放大器U106A的输出端与功率MOS管的栅极耦接，所述运算放大器U106A的负极输入端与功率MOS管的源极耦接，所述功率MOS管的源极连接有负极端口，所述功率MOS管的漏极连接有正极端口。进一步的，所述恒流放电控制模块还包括散热系统，所述散热系统包括散热片、温度传感器、控制器和风扇，所述功率MOS管和温度传感器设置在散热片，所述温度传感器和风扇均与控制器耦接。本技术的有益效果：本技术可以兼容QC2.0和QC3.0快充协议，可以对QC2.0或者QC3.0产品进行放电测试，减少测试仪器的种类，降低成本，效果高效，使用方便。附图说明图1为本技术所述MCU的电路图。图2为本技术所述切换控制芯片U1的电路图。图3为本技术所述第一光耦放大电路和第二光耦放大电路的电路图。图4为本技术所述继电器控制电路和继电器RL1A的电路图。图5为本技术所述恒流放电控制模块的电路图。具体实施方式为了便于本领域技术人员的理解，下面结合实施例与附图对本技术作进一步的说明，其中芯片的数字命名方式仅为用于区分作用并不按规定顺序命名，实施方式提及的内容并非对本技术的限定。以下结合附图对本技术进行详细的描述。请参阅图1至图5所示，一种QC2.0和QC3.0快速放电电压变换控制电路，包括MCU、QC放电变换模块和恒流放电控制模块，所述QC放电变换模块和恒流放电控制模块分别与MCU耦接；所述QC放电变换模块包括切换控制芯片U1、第一光耦放大电路、第二光耦放大电路、继电器RL1A和用于控制继电器RL1A的继电器控制电路，所述切换控制芯片U1的控制端与MCU耦接，所述切换控制芯片U1的第一输出端与第一光耦放大电路的第一输入端耦接，所述切换控制芯片U1的第二输出端与第一光耦放大电路的第二输入端耦接，所述第一光耦放大电路的输出端与继电器RL1A的第四引脚耦接；所述切换控制芯片U1的第三输出端与第二光耦放大电路的第一输入端耦接，所述切换控制芯片U1的第四输出端与第二光耦放大电路的第二输入端耦接，所述第二光耦放大电路的输出端与继电器RL1A的第三引脚耦接；所述继电器控制电路的输入端与MCU耦接，所述继电器控制电路的输出端与继电器RL1A的控制端耦接。本技术可以兼容QC2.0和QC3.0快充协议，可以对QC2.0或者QC3.0产品进行放电测试，减少测试仪器的种类，降低成本，效果高效，使用方便。本实施例中，所述切换控制芯片U1的型号为SN74HC595DR，所述MCU的型号为STM8S105S4。所述切换控制芯片U1的控制端分别为第十一引脚、第十二引脚和第十四引脚，上述三个引脚分别与MCU的第九引脚、第三引脚和第十一引脚耦接。所述切换控制芯片U1的第一输出端、第二输出端、第三输出端和第四输出端分别为所述切换控制芯片U1的第十五引脚、第一引脚、第二引脚和第三引脚。如图4所示，MCU的第四十引脚与继电器控制电路的输入端连接，所述继电器控制电路的输出端与继电器RL1A的控制端即继电器RL1A的第一引脚耦接，MCU通过继电器控制电路控制继电器RL1A的导通或者断开。请参阅图1、图2和图3所示，本实施例中，所述第一光耦放大电路包括光电耦合器U104A、光电耦合器U105A和运算放大器U101A，所述光电耦合器U104A的第一引脚与所述切换控制芯片U1的第十五引脚耦接，所述光电耦合器U105A的第一引脚与所述切换控制芯片U1的第一引脚耦接；所述光电耦合器U104A的第四引脚和所述光电耦合器U105A的第四引脚均与运算放大器U101A的正极输入端耦接；所述第二光耦放大电路包括光电耦合器U106A、光电耦合器U107A和运算放大器U101B，所述光电耦合器U106A的第一引脚与所述切换控制芯片U1的第二引脚耦接，所述光电耦合器U107A的第一引脚与所述切换控制芯片U1的第三引脚耦接；所述光电耦合器U106A的第四引脚和所述光电耦合器U107A的第四引脚均与运算放大器U101B的正极输入端耦接，所述光电耦合器U104A的第一引脚、所述光电耦合器U105A的第一引脚和所述运算放大器U101A的输出端分别作为第一光耦放大电路的第一输入端、第二输入端和输出端。所述光电耦合器U106A的第一引脚、所述光电耦合器U本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种QC2.0和QC3.0快速放电电压变换控制电路，其特征在于：包括MCU、QC放电变换模块和恒流放电控制模块，所述QC放电变换模块和恒流放电控制模块分别与MCU耦接；所述QC放电变换模块包括切换控制芯片U1、第一光耦放大电路、第二光耦放大电路、继电器RL1A和用于控制继电器RL1A的继电器控制电路，所述切换控制芯片U1的控制端与MCU耦接，所述切换控制芯片U1的第一输出端与第一光耦放大电路的第一输入端耦接，所述切换控制芯片U1的第二输出端与第一光耦放大电路的第二输入端耦接，所述第一光耦放大电路的输出端与继电器RL1A的第四引脚耦接；所述切换控制芯片U1的第三输出端与第二光耦放大电路的第一输入端耦接，所述切换控制芯片U1的第四输出端与第二光耦放大电路的第二输入端耦接，所述第二光耦放大电路的输出端与继电器RL1A的第三引脚耦接；所述继电器控制电路的输入端与MCU耦接，所述继电器控制电路的输出端与继电器RL1A的控制端耦接。

【技术特征摘要】
1.一种QC2.0和QC3.0快速放电电压变换控制电路，其特征在于：包括MCU、QC放电变换模块和恒流放电控制模块，所述QC放电变换模块和恒流放电控制模块分别与MCU耦接；所述QC放电变换模块包括切换控制芯片U1、第一光耦放大电路、第二光耦放大电路、继电器RL1A和用于控制继电器RL1A的继电器控制电路，所述切换控制芯片U1的控制端与MCU耦接，所述切换控制芯片U1的第一输出端与第一光耦放大电路的第一输入端耦接，所述切换控制芯片U1的第二输出端与第一光耦放大电路的第二输入端耦接，所述第一光耦放大电路的输出端与继电器RL1A的第四引脚耦接；所述切换控制芯片U1的第三输出端与第二光耦放大电路的第一输入端耦接，所述切换控制芯片U1的第四输出端与第二光耦放大电路的第二输入端耦接，所述第二光耦放大电路的输出端与继电器RL1A的第三引脚耦接；所述继电器控制电路的输入端与MCU耦接，所述继电器控制电路的输出端与继电器RL1A的控制端耦接。2.根据权利要求1所述的一种QC2.0和QC3.0快速放电电压变换控制电路，其特征在于：所述切换控制芯片U1的型号为SN74HC595DR。3.根据权利要求2所述的一种QC2.0和QC3.0快速放电电压变换控制电路，其特征在于：所述MCU的型号为STM8S105S4。4.根据权利要求1所述的一种QC2.0和QC3.0快速放电电压变换控制电路，其特征在于：所述第一光耦放大电路包括光电耦合器U104A、光电耦合器U105A和运算放大器U101A，所述光电耦合器U...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱水良，
申请(专利权)人：东莞市旺达富自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44