一种测量内花键M值的工具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测量内花键M值的工具，包括有基座、测量板、设置在基座上的弹性连接装置及安装块，安装块的顶部水平延伸出与内花键工件的齿配合的对位块，测量板的顶部和安装块的顶端关于对位块的轴线对称设置有第一测量端子和第二测量端子，安装块的外壁设置有固定内花键工件的定位部，安装块上安装有百分表，百分表的检测头与测量板的外侧壁接触，测量板与弹性连接装置连接，从而使测量板可以随第一测量端子与内花键工件齿槽的接触而产生位移。本实用新型专利技术的一种测量内花键M值的工具，校准第一测量端子与第二测量端子的距离后，只需将被测内花键装到测量工具上即可进行测量，免去人手操作，操作简单方便，测量效率高且精度高。

【技术实现步骤摘要】
一种测量内花键M值的工具
本技术涉及工件测量工具
，尤其涉及一种测量内花键M值的工具。
技术介绍
现有技术中，花键连接是一种机械常用的连接方式，其制造精度直接影响其配合质量，内花键量棒跨距(简称M值)是影响与花键轴配合质量的关键尺寸。但内花键工件的键槽处在内孔中，常规量具不容易精确地测量，目前常规的检测M值的方法为：将两根大小相同的量棒分别放入内花键工件相距最远的两个齿槽内，再用游标卡尺或量块测两量棒内侧母线之间的最大距离，此距离即为M值。虽然此测量技术能够间接测量，但测量精度受人为因素影响较大，且测量效率太低，不能满足批量生产在线检测的要求。例如，中国专利(CN201993072U)公开了一种内花键M值通用检具，摆动杆伸入被测内花键工件内，通过测头与齿槽的配合测得M值，以校对的方法进行检验。但是此通用检具需要人手将检具伸入内花键工件内，引入了人为因素而影响了测量的精度，无法满足高精度、高效率的需求。
技术实现思路
本技术旨在解决上述所提及的技术问题，提供一种高效且测量精度高的测量内花键M值的工具。本技术是通过以下的技术方案实现的：一种测量内花键M值的工具，包括有基座和安装在基座上本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量内花键M值的工具，其特征在于，包括有基座(1)和安装在基座(1)上的测量装置及弹性连接装置，测量装置包括测量板(2)和固定在基座(1)上的安装块(3)，测量板(2)的顶部设置有第一测量端子(4)，安装块(3)的顶端对应第一测量端子(4)设置有第二测量端子(7)，安装块(3)的顶部水平延伸出与内花键工件的齿配合的对位块(8)，第一测量端子(4)与第二测量端子(7)关于对位块(8)的轴线对称分布从而与内花键工件的齿槽接触，安装块(3)的外壁设置有与内花键工件的端面抵接的定位部(9)，安装块(3)上安装有百分表(5)，百分表(5)的检测头(6)与测量板(2)的外侧壁接触，测量板(2)与弹...

【技术特征摘要】
1.一种测量内花键M值的工具，其特征在于，包括有基座(1)和安装在基座(1)上的测量装置及弹性连接装置，测量装置包括测量板(2)和固定在基座(1)上的安装块(3)，测量板(2)的顶部设置有第一测量端子(4)，安装块(3)的顶端对应第一测量端子(4)设置有第二测量端子(7)，安装块(3)的顶部水平延伸出与内花键工件的齿配合的对位块(8)，第一测量端子(4)与第二测量端子(7)关于对位块(8)的轴线对称分布从而与内花键工件的齿槽接触，安装块(3)的外壁设置有与内花键工件的端面抵接的定位部(9)，安装块(3)上安装有百分表(5)，百分表(5)的检测头(6)与测量板(2)的外侧壁接触，测量板(2)与弹性连接装置固定连接，从而使测量板(2)可以随第一测量端子(4)与内花键工件齿槽的接触而产生位移。2.根据权利要求1所述的一种测量内花键M值的工具，其特征在于，所述第一测量端子(4)与第二测量端子(7)的端部均设置为球状。3.根据权利要求1所述的一种测量内花键M值的工具，其特征在于，所述对位块(8)的顶部安装有用于保护对位块(8)的盖板(10)。4.根据权利要求1所述的一种测量内花键M值的工具，其特征在于，所述弹性连接装置包括壳体(11)和壳体(11)内的固定块(12)，固定块(12)与基座(1)固定连接，固定块(12)的两侧安装有竖直设置的弹性金属片(13)，弹...

【专利技术属性】
技术研发人员：王拴银，杨俊侠，
申请(专利权)人：江门市力泰科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44