一种针对多端口S参数测试装置的完全校准方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种针对多端口S参数测试装置的完全校准方法，属于校准领域。本发明专利技术方法首先设置端口使用的校准件；其次，针对使用者的设计及多端口S参数测试装置的硬件特性，进行直通方法、直通测量、校准方法等信息的提取计算，并生成校准连接、测量信息，然后利用校准测量信息计算全部端口的误差项，最后测量被测件并修正测量值；此方法特点是校准连接的步骤少，以n端口为例，最少可仅连接n+2个标准，且实现所有端口的系统误差计算。

A Complete Calibration Method for Multi-port S-parameter Testing Device

The invention discloses a complete calibration method for multi-port S-parameter testing device, which belongs to the calibration field. The method of the invention first sets calibration components for port use; secondly, according to user's design and hardware characteristics of multi-port S-parameter testing device, extracts and calculates information of through method, through measurement and calibration method, generates calibration connection and measurement information, then calculates error items of all ports using calibration measurement information, and finally measures the measured parts and corrects the measurement. The characteristic of this method is that there are few steps to calibrate the connection. Taking N port as an example, it can connect only N + 2 standards at least, and realize the system error calculation of all ports.

【技术实现步骤摘要】
一种针对多端口S参数测试装置的完全校准方法
本专利技术属于校准领域，具体涉及一种针对多端口S参数测试装置的完全校准方法。
技术介绍
矢量网络分析仪测试的被测件端口数越来越多，针对多端口器件的测试，会使用多端口S参数测试装置。测试装置通常以矢量网络分析仪为基础，使用开关矩阵进行扩展。针对此类测试装置的校准，通常使用双端口校准完成两两端口校准，然后连接被测件，对被测件进行两两端口测试。此种方式要么不能实现完全端口校准，无法消除各端口间的串扰影响，降低测试精度；要么测量连接步骤多，测量过程复杂。现有方案均以两端口校准为基础，以6端口校准为例：方案1：进行端口1、2校准，端口3、4校准，进行5、6端口校准，并提取端口1、2，端口3、4，端口5、6的系统误差，然后测量被测件，利用端口1、2的误差项修正S11、S12、S21、S22；利用利用端口3、4的误差项修正S33、S34、S43、S44；利用利用端口5、6的误差项修正S55、S56、S65、S66。方案2：进行端口1、2、3、4、5、6的单端口校准，然后两两端口连接，提取全部系统误差，然后测量被测件，利用修正测量值。方案1中未实现全部系统本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种针对多端口S参数测试装置的完全校准方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤1：设置端口校准信息，具体包括如下步骤：步骤1.1：进行校准端口的设置；步骤1.2：进行各端口校准接头的设置；步骤1.3：进行各校准接头对应校准件的设置；步骤2：处理端口校准件；步骤3：处理直通校准件；步骤4：对端口i、j，依据是否需要连接适配器及是否为同一参考接收机，处理直通方法，具体包括如下步骤：步骤4.1：若端口i、j不需要适配器即可连接端口i、端口j或者使用同一参考接收机，则设置端口i、j直通方法为ADAP_Insert；步骤4.2：若端口i、j需要适配器才可连接端口i、端口j且不使用同一参考接收机，则设置端...

【技术特征摘要】
1.一种针对多端口S参数测试装置的完全校准方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤1：设置端口校准信息，具体包括如下步骤：步骤1.1：进行校准端口的设置；步骤1.2：进行各端口校准接头的设置；步骤1.3：进行各校准接头对应校准件的设置；步骤2：处理端口校准件；步骤3：处理直通校准件；步骤4：对端口i、j，依据是否需要连接适配器及是否为同一参考接收机，处理直通方法，具体包括如下步骤：步骤4.1：若端口i、j不需要适配器即可连接端口i、端口j或者使用同一参考接收机，则设置端口i、j直通方法为ADAP_Insert；步骤4.2：若端口i、j需要适配器才可连接端口i、端口j且不使用同一参考接收机，则设置端口i、j直通方法为ADAP_NonInsert；步骤5：对端口i、j，依据直通方法和是否为同一参考接收机，处理直通是否测量，具体包括如下步骤：步骤5.1：若端口i、j未设置直通是否测量，且直通方法为ADAP_Insert且不使用同一参考接收机，则设置为测量直通Thru_Meas；并根据已构成Thru_Meas的端口，进行计算直通处理；计算直通处理过程，若端口i、j为Thru_Meas，端口j、k为Thru_Meas，且端口i、k未设置是否测量，则设置端口i、k为计算直通Thru_Comp；步骤5.2：若端口i、j未设置直通是否测量，且直通方法为ADAP_NonInsert，则设置为测量直通Thru_Meas；并根据已构成Thru_Meas的端口，进行计算直通处理；步骤5.3：若端口i、j未设置直通是否测量，且直通方法为ADAP_Insert且使用同一参考接收机，则设置为测量直通Thru_Meas；并根据已构成Thru_Meas的端口，进行计算直通处理；步骤6：对端口i、j，依据直通是否测量和是否为同一参考接收机，处理校准方法，具体包括如下步骤：步骤6.1：若端口i、j直通为Thru_Meas且不使用同一参考接收机，则设置校准方法默认为CAL_SOLT，并可修改为CAL_QSOLT(i＝>j)或CAL_QSOLT(j＝>i)；步骤6.2：若端口i、j直通为Thru_Meas且使用同一参考接收机，或者直通为Thru_Comp，则设置校准方法为CAL_SOLT，并不可修改；步骤7：对端口i、j，依据校准方法和直通是否测量，创建连接信息，具体包括如下步骤：步骤7.1：若端口i、j校准方法为CAL_QSOLT(i＝>j)，若端口i连接信息未创建，则创建端口连接信息为连接开路器到端口i、连接短路器到端口i、连接负载器到端口i；创建直通连接信息为连接端口i、j；设置端口j连接信息已创建；步骤7.2：若端口i、j校准方法为CAL_QSOLT(j＝>i)，若端口j连接信息未创建，则创建端口连接信息为连接开路器到端口j、连接短路器到端口j、连接负载器到端口j；创建直通连接信息为...

【专利技术属性】
技术研发人员：庄志远，袁国平，郭永瑞，李树彪，杨明飞，蔡洪坤，
申请(专利权)人：中电科仪器仪表有限公司，
类型：发明
国别省市：山东,37