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本发明公开了一种针对多端口S参数测试装置的完全校准方法，属于校准领域。本发明方法首先设置端口使用的校准件；其次，针对使用者的设计及多端口S参数测试装置的硬件特性，进行直通方法、直通测量、校准方法等信息的提取计算，并生成校准连接、测量信息，然...
该专利属于中电科仪器仪表有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中电科仪器仪表有限公司授权不得商用。

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