检测引脚悬空状态的电路制造技术

本发明专利技术提供一种检测引脚悬空状态的电路，包括：充放电单元，连接待测引脚，用于为所述待测引脚充电或放电；与所述充放电单元相连的比较单元，用于接收所述待测引脚在充电状态或放电状态下的电压，并比较所述待测引脚在所述充电状态下的电压和第一预定电压，得到第一比较结果，以及比较所述待测引脚在所述放电状态下的电压和第二预定电压，得到第二比较结果。通过上述公开的电路可以检测出引脚是否处于悬空状态。

【技术实现步骤摘要】
检测引脚悬空状态的电路
本专利技术涉及集成电路
，尤其涉及一种检测引脚悬空状态的电路。
技术介绍
引脚是从集成电路引出与外围电路的接线口，所有的引脚就构成了这块芯片的接口。芯片通过融化的锡将引脚和印制电路板，即PCB线路板上的焊盘焊接在一起。现有技术中，由于焊盘和元器件可焊性差，印刷参数不正确，再流焊温度和升温速度不当等因素可能会造成虚焊。虚焊会造成芯片引脚开路，使得引脚是悬空状态。如果引脚处于悬空状态，那么会被微弱电流造成既能充电到电源电压又能放电到接地电压。如果引脚是焊接良好的，那么会有外接的电源或地或电阻等，就不会被微弱电流造成既能充电到电源电压又能放电到接地电压。现有技术的缺点在于，在手机、平板等电子设备的批量生产中，由于PCB板上芯片众多而密集，工厂不可能有效监测到每个引脚的焊接质量情况。对于虚焊的芯片，只能靠整机的电性能测试来筛除。而如果虚焊的引脚没有设置上拉或下拉电阻，处于悬空状态，则每次上电后该引脚的状态都是不确定的，其电压值可能是0到电源电压之间的一个任意值，因此芯片是时而能工作，时而不能工作，所以存在处于悬空状态的引脚漏检、误检的可能。
技术实现思路
基于上述现有技术的不足，本专利技术提出了一种检测引脚悬空状态的电路，以实现将处于悬空状态的引脚检测出来。为了实现上述目的，现提出的方案如下：本专利技术公开了一种检测引脚悬空状态的电路，包括：充放电单元，连接待测引脚，用于为所述待测引脚充电或放电；与所述充放电单元相连的比较单元，用于接收所述待测引脚在充电状态或放电状态下的电压，并比较所述待测引脚在所述充电状态下的电压和第一预定电压，得到第一比较结果，以及比较所述待测引脚在所述放电状态下的电压和第二预定电压，得到第二比较结果。可选地，所述充放电单元，包括：电源、第一开关、第一电流源、第二开关和第二电流源；其中：所述第一电流源的一端连接所述电源，另一端连接所述第一开关，所述第一开关的另一端连接所述第二开关，所述第二开关的另一端连接所述第二电流源，所述第二电流源的另一端连接地；所述第一开关和所述第二开关的公用端连接所述待测引脚和所述比较单元。可选地，所述比较单元，包括：第一比较器和第二比较器；其中：所述第一比较器的第一输入端输入所述待测引脚的电压，第二输入端输入所述第一预定电压，所述第一比较器的输出端输出所述第一比较结果；所述第二比较器的第二输入端输入所述待测引脚的电压，第一输入端输入所述第二预定电压，所述第二比较器的输出端输出所述第二比较结果。可选地，还包括：第一触发器和第二触发器；其中：所述第一触发器的数据输入端连接所述第一比较器的输出端，所述第一触发器的时钟输入端接收电平信号，所述第一触发器的输出端输出第一触发结果；所述第二触发器的数据输入端连接所述第二比较器的输出端，所述第二触发器的时钟输入端接收电平信号，所述第二触发器的输出端输出第二触发结果。可选地，还包括：控制门和与所述控制门连接的控制支路；所述控制门分别接收所述第一触发结果和所述第二触发结果，若所述第一触发结果和所述第二触发结果满足预定要求，则所述控制门控制所述控制支路工作；其中，所述预定要求用于反映出所述待测引脚处于悬空状态；所述控制支路用于将所述待测引脚上拉到固定电压或电源、或者将所述待测引脚下拉到地。可选地，所述控制支路，包括：第三开关和电阻；其中：所述电阻的第一端连接所述待测引脚，所述第三开关的控制端连接所述控制门，所述第三开关的第一端连接所述电阻的第二端，所述第三开关的第二端接地、接电源或者接固定电压。从上述的技术方案可以看出，本专利技术提供的检测引脚悬空状态的电路中，通过充放电单元对待测引脚进行充电或放电，经过与充放电单元相连的比较单元，比较单元接收待测引脚在充电状态或放电状态下的电压，并比较待测引脚在充电状态下的电压和第一预定电压，得到第一比较结果，以及比较待测引脚在放电状态下的电压和第二预定电压，得到第二比较结果。由此可见，本专利技术中的电路通过两个比较结果可以检测出引脚是否处于悬空状态，避免处于悬空状态的引脚被工厂漏检、误检，芯片出厂后有时能工作，有时不能工作的问题。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例公开的一种检测引脚悬空状态的电路图；图2为本专利技术实施例公开的另一种检测引脚悬空状态的电路图；图3为本专利技术实施例公开的上电时序图；图4为本专利技术实施例公开的另一种检测引脚悬空状态的电路图；图5为本专利技术实施例公开的另一种检测引脚悬空状态的电路图；图6为本专利技术实施例公开的另一种检测引脚悬空状态的电路图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。现有技术中，由于虚焊造成引脚开路，使得引脚处于悬空状态，并且该引脚没有设置上拉或下拉电阻，那么引脚的电压是不确定的，可能是0到电源电压之间的一个任意电压，而工厂量产时不可能监测到每个引脚的情况，所以存在处于悬空状态的引脚漏检、误检的可能，造成芯片有时能工作，有时不能工作。专利技术人研究发现，如果引脚处于悬空状态，那么会被微弱电流造成既能充电到电源又能放电到地。针对上述问题，本专利技术公开了一种检测引脚悬空状态的电路。参阅图1，本专利技术实施例公开了一种检测引脚悬空状态的电路，包括：充放电单元101和比较单元102。其中，充放电单元101连接待测引脚PAD_A，充放电单元101与比较单元102相连，用于为所述待测引脚PAD_A充电或放电。可选地，充放电单元101的一种实施方式，如图2所示，充放电单元101包括：电源VCC、第一开关S1、第一电流源Iref1、第二开关S2和第二电流源Iref2。第一电流源Iref1的一端连接电源VCC，另一端连接第一开关S1，第一开关S1的另一端连接第二开关S2，所述第二开关S2的另一端连接第二电流源Iref2，所述第二电流源Iref2的另一端连接地；第一开关S1和第二开关S2的公用端连接待测引脚PAD_A和比较单元102。结合图2和图3所示，第一开关S1的控制信号为CHG信号，在t1时间段内，CHG信号为高电平，控制第一开关S1闭合，第一开关S1导通。电源VCC通过第一电流源Iref1和第一开关S1接通待测引脚PAD_A。当第一开关S1闭合，第一电流源Iref1对待测引脚PAD_A充电。第一电流源Iref1可以当做是mos管，用于1比1复制外部电路产生的电流Iref1，并向待测引脚PAD_A输出电流Iref1，给待测引脚PAD_A充电。如果待测引脚PAD_A处于悬空状态，在电源VCC接通待测引脚PAD_A的状态下，那么第一电流源Iref1能在t1时间内将待测引脚PAD_A的电压充到超过第一预定电压VREF1，比较单元102比较出待测引脚PAD_A的电压已被充高。结合图2和图3所示，第二开关S2的控制本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测引脚悬空状态的电路，其特征在于，包括：充放电单元，连接待测引脚，用于为所述待测引脚充电或放电；与所述充放电单元相连的比较单元，用于接收所述待测引脚在充电状态或放电状态下的电压，并比较所述待测引脚在所述充电状态下的电压和第一预定电压，得到第一比较结果，以及比较所述待测引脚在所述放电状态下的电压和第二预定电压，得到第二比较结果。

【技术特征摘要】
1.一种检测引脚悬空状态的电路，其特征在于，包括：充放电单元，连接待测引脚，用于为所述待测引脚充电或放电；与所述充放电单元相连的比较单元，用于接收所述待测引脚在充电状态或放电状态下的电压，并比较所述待测引脚在所述充电状态下的电压和第一预定电压，得到第一比较结果，以及比较所述待测引脚在所述放电状态下的电压和第二预定电压，得到第二比较结果。2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述充放电单元，包括：电源、第一开关、第一电流源、第二开关和第二电流源；其中：所述第一电流源的一端连接所述电源，另一端连接所述第一开关，所述第一开关的另一端连接所述第二开关，所述第二开关的另一端连接所述第二电流源，所述第二电流源的另一端连接地；所述第一开关和所述第二开关的公用端连接所述待测引脚和所述比较单元。3.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述比较单元，包括：第一比较器和第二比较器；其中：所述第一比较器的第一输入端输入所述待测引脚的电压，第二输入端输入所述第一预定电压，所述第一比较器的输出端输出所述第一比较结果；所述第二比较器的第二输入端输入所述待测引脚的电压，第一输入端输入所述第二预定电压，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗旭程，胡建伟，程剑涛，
申请(专利权)人：上海艾为电子技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31