一种高速光通信芯片测试系统及方法技术方案

本发明专利技术提供一种高速光通信芯片测试系统及方法，包括控制终端、测试源、高速接口板和探针卡；测试源与控制终端相连，包括Golden Device、FPGA、光源和高速测试仪器，用于在控制终端的控制下生成测试信号；高速接口板与控制终端、测试源和探针卡相连，用于在控制终端的控制下选择Golden Device、FPGA、光源和高速测试仪器中的一个作为当前测试源，并将当前测试源生成的测试信号发送至所述探针卡；探针卡与待测高速光通信芯片相连，用于基于测试信号测试待测高速光通信芯片，获取待测高速光通信芯片的测试参数。本发明专利技术的高速光通信芯片测试系统及方法既可在芯片工程验证时保证测试精度与覆盖率，又可在大批量生产测试时有效提升并行测试效率，减少测试时间，降低测试成本。

【技术实现步骤摘要】
一种高速光通信芯片测试系统及方法
本专利技术涉及集成电路的
，特别是涉及一种高速光通信芯片测试系统及方法。
技术介绍
随着云计算、移动互联网、数据中心等的大力建设，对带宽和宽带网络具有迫切和直接的需求。现有技术中光通信网络正向着集成化、低功耗、智能化和大容量的方向发展。高速光通信芯片及其相应光器件具有功能上和尺寸上的高度集成，以及低成本、低功耗和大带宽等的优点，能够满足不断增长的数据业务、网络资源等的要求。随着光通信作为未来数据通信的主流技术，高速光通信芯片将被广泛应用于超级计算机、高性能服务器、数字通讯交换机和数据中心等国家战略性信息基础设施，成为宽带通信系统和新型网络的核心部件。现有技术中，主流的高速光通信芯片的单通道数传速率已达25Gbps或更高，一颗芯片上可集成4个或更多通道。目前对于光通信芯片的ATE(AutomaticTestEquipment，自动测试设备)量产测试需要外接高速测试仪器，如网络分析仪、误码仪等等。然而，现有的高速光通信芯片测试具有以下不足：(1)测试仪器昂贵，只能单通道测试，无法并行测试；(2)测试时间长，导致测试成本高；(3)生产效率低，不利于大本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高速光通信芯片测试系统，其特征在于，包括控制终端、测试源、高速接口板和探针卡；所述测试源与所述控制终端相连，包括Golden Device、FPGA、光源和高速测试仪器，用于在所述控制终端的控制下生成测试信号；所述高速接口板与所述控制终端、所述测试源和所述探针卡相连，用于在所述控制终端的控制下选择Golden Device、FPGA、光源和高速测试仪器中的一个作为当前测试源，并将当前测试源生成的测试信号发送至所述探针卡；所述探针卡与所述控制终端和待测高速光通信芯片相连，用于基于所述测试信号测试所述待测高速光通信芯片，以获取所述待测高速光通信芯片的测试参数。

【技术特征摘要】
1.一种高速光通信芯片测试系统，其特征在于，包括控制终端、测试源、高速接口板和探针卡；所述测试源与所述控制终端相连，包括GoldenDevice、FPGA、光源和高速测试仪器，用于在所述控制终端的控制下生成测试信号；所述高速接口板与所述控制终端、所述测试源和所述探针卡相连，用于在所述控制终端的控制下选择GoldenDevice、FPGA、光源和高速测试仪器中的一个作为当前测试源，并将当前测试源生成的测试信号发送至所述探针卡；所述探针卡与所述控制终端和待测高速光通信芯片相连，用于基于所述测试信号测试所述待测高速光通信芯片，以获取所述待测高速光通信芯片的测试参数。2.根据权利要求1所述的高速光通信芯片测试系统，其特征在于：所述GoldenDevice、FPGA和高速测试仪器还用于接收所述待测高速光通信芯片返回的响应信号。3.根据权利要求1所述的高速光通信芯片测试系统，其特征在于：所述测试信号采用速率不小于10Gbps的伪随机二进制序列。4.根据权利要求1所述的高速光通信芯片测试系统，其特征在于：所述测试参数包括但不限于误码率、抖动、抖动容限和输入灵敏度中的一种或多种组合。5.根据权利要求1所述的高速光通信芯片测试系统，其特征在于：所述GoldenDevice和所述FPGA均包括至少一个测试通道；所述光源用于实现待测高速光通信芯片的光电测试；所述高速测试仪器还用于实现待测高速光通信芯片的测试精度校准。6.根据权利要求1所述的高速光通信芯片测试系...

【专利技术属性】
技术研发人员：陆明，马建旭，商俊强，李岩，杨帆，宋柳佳，苏方圆，匡磊，
申请(专利权)人：光梓信息科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31