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本发明提供一种高速光通信芯片测试系统及方法，包括控制终端、测试源、高速接口板和探针卡；测试源与控制终端相连，包括Golden Device、FPGA、光源和高速测试仪器，用于在控制终端的控制下生成测试信号；高速接口板与控制终端、测试源和探针...
该专利属于光梓信息科技（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过光梓信息科技（上海）有限公司授权不得商用。

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