多规格工件传送测量装置制造方法及图纸

技术编号:20158150 阅读:14 留言:0更新日期:2019-01-19 00:10
本发明专利技术涉及工件检测领域,尤其涉及多规格工件传送测量装置,包括检测基板,检测基板的一端为进料端,检测基板的另一端为出料端,出料端设有送料机构,进料端和出料端之间设有检测机构,检测基板上设有用于使盘类工件从进料端向出料端移动的推料机构;检测机构包括基准块、激光测距传感器、定位块和检测活动块,检测活动块和定位块位于基准块和激光测距传感器之间,检测活动块滑动连接在定位块上,定位块和激光测距传感器均滑动连接在检测基板上,定位块和激光传感器之间连接有第一连接件。本方案实现了对不同直径大小的盘类工件进行测量。

【技术实现步骤摘要】
多规格工件传送测量装置
本专利技术涉及工件检测领域,尤其涉及多规格工件传送测量装置。
技术介绍
工件在机床上加工完毕后,需要对工件进行检测,从而检查加工出来的工件是否符合标准,防止不合格的工件流向市场。对于盘类工件来说,盘类工件需要在圆周面上车削出沟槽,比如对皮带轮的加工、对汽车减震器活塞的加工等。现有的盘类工件的检测是通过游标卡尺对盘类工件圆周面上车削出的沟槽进行手动测量,这种检测方法效率比较低,检测强度大,并且不能对沟槽车削的精度进行实时监控。即便现在具有对盘类工件上的沟槽的精度进行测量的自动化装置,检测的效率比较高,但是绝大多数的装置只能测量单一直径大小的盘类工件,而对于其他直径大小的盘类工件不能测量。因此,当需要测量不同直径大小的盘类工件时,需将盘类工件转移到其他测量装置上,操作比较复杂。若工厂中没有其他测量装置,还需额外进行购买,生产成本较高。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供多规格工件传送测量装置,以实现对不同直径大小的盘类工件进行测量。为达到上述目的,本专利技术的技术方案是:多规格工件传送测量装置,包括检测基板,检测基板的一端为进料端,检测基板的另一端为出料端,进料端和出料端之间设有检测机构,检测基板上设有用于使盘类工件从进料端向出料端移动的推料机构;检测机构包括基准块、激光测距传感器、定位块和检测活动块,检测活动块和定位块位于基准块和激光测距传感器之间,检测活动块滑动连接在定位块上,定位块和激光测距传感器均滑动连接在检测基板上,定位块和激光传感器之间连接有第一连接件。本方案的工作原理为:将事先车削好的盘类工件通过进料端放入到检测基板上。推料机构用于推动检测基板上的盘类工件从检测基板的进料端向出料端方向滑动。由于检测机构位于进料端和出料端之间,故盘类工件在检测基板上从进料端向出料端滑动时,盘类工件会经过检测机构,此时检测机构对经过的盘类工件上的沟槽进行检测。检测完毕的盘类工件从出料端滑离检测基板。其中,检测机构的检测原理为:盘类工件从基准块和检测活动块之间滑过时,检测活动块会与盘类工件的侧面或者盘类工件上的沟槽相抵,检测活动块受到盘类工件的抵压而在定位块上滑动,从而使检测活动块与激光测距传感器之间的距离不同。激光测距传感器通过感应其与检测活动块之间的距离,从而判断盘类工件是否符合标准。当不同直径的盘类工件经过检测活动块和基准块之间时,需要调整检测活动块和基准块之间的距离,从而保证直径较大的盘类工件能够从检测活动块和基准块之间通过,保证直径较小的盘类工件仍能够与检测活动块相抵。由于定位块滑动连接在检测基板上,故通过使定位块在检测基板上滑动,从而对检测活动块和基准块之间的距离进行调节,由此实现对不同直径的盘类工件进行检测。由于定位块和激光测距传感器之间连接有第一连接件,激光测距传感器也滑动连接在检测基板上,故定位块在检测基板上滑动调节时,定位块通过第一连接件带动激光测距传感器一同移动,由此保证定位块和激光测距传感器之间的距离保持不变,从而保证了激光测距传感器检测的基准或者标准不变,当对定位块和基准块之间的距离进行调节时,激光测距传感器与定位块之间的距离不变,从而无需对激光测距传感器的检测标准或者基准进行调节,操作简单方便。采用上述技术方案时,盘类工件在检测基板上从进料端向出料端方向滑动时,通过检测机构对盘类工件车削的沟槽的精度自动检测,无需人工检测,操作方便,提高了检测的效率。综上,通过本装置,提高了盘类工件圆周面上车削出的沟槽的检测效率,降低检测的强度,对沟槽车削的精度进行实时监控。另外,通过滑动定位块,从而对基准块和检测活动块之间的距离进行调节,从而使本装置可对不同直径的盘类工件进行检测。并且,定位块通过第一连接件带动激光测距传感器一同移动,从而保证定位块与激光测距传感器之间的相对位置不同,实现了对定位块进行调节时,无需对激光测距传感器的检测标准或者基准进行调节,操作更加简单方便。进一步,进料端设有检测板,检测板的顶端连接有斜板,检测板与第一连接件连接。由于检测板的顶端连接有斜板,斜板呈一定的倾斜角度,即斜板的顶端的张开较大,从而利于盘类工件进入并下落到检测板处。检测板用于检测盘类工件的直径,即下落的盘类工件会与检测板相抵,检测板受到盘类工件的抵压而移动。由于检测板与第一连接件连接,故检测板带动第一连接件一同移动,第一连接件带动定位块滑动,从而实现了定位块根据盘类工件的直径大小而自动滑动调节,无需人工对定位块进行滑动调节,操作简单方便。进一步,还包括铁块,第一连接件的端部设有间歇与铁块相吸的电磁铁,第一连接件的端部连接有第一压簧,电磁铁间歇性通电。第一压簧用于使第一连接件复位到初始状态。由于电磁铁间歇性通电,从而通过控制电磁铁间歇性通电的周期和频率,使盘类工件与检测板相抵且推料机构推动盘类工件移动之前时,检测板带动第一连接件移动,第一连接件挤压第一压簧,此时,电磁铁通电,电磁铁产生磁性,电磁铁与铁块相吸,从而可防止第一连接件在第一压簧的作用下复位,保证盘类工件能够正常通过检测机构;当盘类工件通过检测机构检测完毕后,电磁铁断电,电磁铁的磁性消失,第一连接件在第一压簧的作用下而复位,从而实现了第一连接件的自动复位,无需人工复位,操作简单方便。进一步,基准块也滑动连接在检测基板上,基准块上连接有第二齿条,第一连接件为第一齿条,第一齿条和第二齿条相对,第一齿条和第二齿条之间啮合有齿轮。由此,当第一齿条移动时,第一齿条通过齿轮带动第二齿条移动,且第一齿条和第二齿条的移动方向相反。由于基准块与第二齿条连接,故第二齿条带动基准块一同移动,从而实现了基准块和定位块的一同移动,且基准块和定位块的移动距离相反,保证了基准块和定位块的同时调节,利于提高检测机构调节的精度。进一步,检测板的数量为两个,一个检测板与第一连接件连接,另一个检测板上连接有第二压簧。两个检测板可对盘类工件的不同侧面同时限位,保证掉落到检测基板上的盘类工件不发生倾斜。第二压簧用于使另一个检测板复位。进一步,第一压簧和第二压簧上均套设有伸缩筒。伸缩筒用于防止第一压簧和第二压簧倾斜弯曲。进一步,检测活动块朝向基准块的侧面设有检测凸起,检测活动块朝向激光测距传感器的侧面为反光面。检测凸起用于对盘类工件上的沟槽进行检测。盘类工件从基准块和检测活动块之间滑过时,若盘类工件上的沟槽不符合标准,则检测凸起不会正常进入到盘类工件的沟槽内,比如检测凸起会与盘类工件的沟槽的边沿相抵,或者虽然检测凸起能够进入到沟槽内,但是检测凸起进入到沟槽的深度相比检测凸起进入到正常的沟槽的深度不一样,由此检测活动块受到检测凸起与不符合标准的盘类工件的相抵的作用移动的距离相比检测活动块受到检测凸起与符合标准的盘类工件的相抵的作用移动的距离是不同的,则检测活动块上的反光面与激光测距传感器的距离相比正常情况下不同。激光测距传感器发出激光,激光经过反光面反射回来,反射回来的激光再被激光传感器接受。若盘类工件上的沟槽不符合标准,由于检测活动块上的反光面与激光测距传感器的距离相比正常情况下不同,因此,反射回来的激光的角度、路径或者时间不同,激光测距传感器接受到反射回来不同的激光从而反馈出盘类工件上的沟槽不符合标准,进而起到了检测的作用。进一步,推料机构包括纵向气缸,纵向气缸的气缸杆本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.多规格工件传送测量装置,其特征在于:包括检测基板,所述检测基板的一端为进料端,检测基板的另一端为出料端,所述进料端和出料端之间设有检测机构,所述检测基板上设有用于使盘类工件从进料端向出料端移动的推料机构;所述检测机构包括基准块、激光测距传感器、定位块和检测活动块,所述检测活动块和定位块位于基准块和激光测距传感器之间,检测活动块滑动连接在定位块上,所述定位块和激光测距传感器均滑动连接在检测基板上,所述定位块和激光传感器之间连接有第一连接件。

【技术特征摘要】
1.多规格工件传送测量装置,其特征在于:包括检测基板,所述检测基板的一端为进料端,检测基板的另一端为出料端,所述进料端和出料端之间设有检测机构,所述检测基板上设有用于使盘类工件从进料端向出料端移动的推料机构;所述检测机构包括基准块、激光测距传感器、定位块和检测活动块,所述检测活动块和定位块位于基准块和激光测距传感器之间,检测活动块滑动连接在定位块上,所述定位块和激光测距传感器均滑动连接在检测基板上,所述定位块和激光传感器之间连接有第一连接件。2.根据权利要求1所述的多规格工件传送测量装置,其特征在于:所述进料端设有检测板,检测板的顶端连接有斜板,所述检测板与第一连接件连接。3.根据权利要求2所述的多规格工件传送测量装置,其特征在于:还包括铁块,所述第一连接件的端部设有间歇与铁块相吸的电磁铁,第一连接件的端部连接有第一压簧,所述电磁铁间歇性通电。4.根据权利要求3所述的多规格工件传送测量装置,其特征在于:所述基准块也滑动连接在检测基板上,基准块上连接有第...

【专利技术属性】
技术研发人员:汪传宏
申请(专利权)人:重庆宏钢数控机床有限公司
类型:发明
国别省市:重庆,50

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