一种计算锆钛酸钡基块体材料介电常数的方法技术

本发明专利技术公开了一种计算锆钛酸钡基块体材料介电常数的方法，先将原料BaCO3、Bi2O3、ZrO2和TiO2按照Ba0.9988Bi0.0008Zr0.2Ti0.8O3的化学计量比混合配料，制得铋离子掺杂的锆钛酸钡陶瓷的块体材料；再以块体材料样品的厚度dT作为横坐标，以厚度与常规测试介电常数之比dT/εT作为纵坐标，利用OriginPro 8软件将不同厚度样品的测试数据作dT/εT随dT变化关系图，根据推导公式：

【技术实现步骤摘要】
一种计算锆钛酸钡基块体材料介电常数的方法
本专利技术属于电子信息材料与元器件领域，具体涉及一种计算锆钛酸钡基块体材料介电常数的方法。
技术介绍
随着雷达系统、通讯技术的快速发展，要求通信系统能独立完成多个频段的扫描，减小信号衰减，使数据传送距离更远，因此对宽频带、低插损、高功率承载能力微波器件的需求日益迫切。压控调谐材料因其介电常数可调，应用于微波电路中可调制微波信号的频率、相位、振幅等，有效减少器件数目，降低成本。常用的压控调谐材料是(BaxSr1-xTiO3，BST)材料，其介电常数较大，电场响应速度快，调谐率较高，但BST材料介电损耗较大，薄膜成分易偏离，不能满足工程应用需求。锆钛酸钡(BaZrxTi1-xO3，BZT)材料介电常数较大，介电调谐特性优异。当x＝0.2时，BZT材料的居里温度在室温附近，此时材料的介电常数对外加电场的敏感性强，即介电调谐特性强。且研究表明，铋离子掺杂可降低介质材料的介电损耗，因此选择Bi3+离子掺杂BaZr0.2Ti0.8O3组分陶瓷材料。为进行电学性能测试，块体材料通常在样品两面涂覆银浆，并加热进行被银处理，而电极与块体材料之间形成的界面会影响本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种计算锆钛酸钡基块体材料介电常数的方法，具体步骤如下：(1)将原料BaCO3、Bi2O3、ZrO2和TiO2按照Ba0.9988Bi0.0008Zr0.2Ti0.8O3的化学计量比进行混合配料，采用常规制备方法，经过一次球磨、预烧、二次球磨、过筛、压制成型、排胶，于1200～1300℃进行烧结，制得铋离子掺杂的锆钛酸钡陶瓷的块体材料；(2)计算以铋离子掺杂的锆钛酸钡陶瓷的块体材料样品的厚度dT作为横坐标，以厚度与常规测试介电常数之比dT/εT作为纵坐标，利用OriginPro 8软件将不同厚度样品的测试数据作dT/εT随dT变化关系图，根据推导公式：

【技术特征摘要】
1.一种计算锆钛酸钡基块体材料介电常数的方法，具体步骤如下：(1)将原料BaCO3、Bi2O3、ZrO2和TiO2按照Ba0.9988Bi0.0008Zr0.2Ti0.8O3的化学计量比进行混合配料，采用常规制备方法，经过一次球磨、预烧、二次球磨、过筛、压制成型、排胶，于1200～1300℃进行烧结，制得铋离子掺杂的锆钛酸钡陶瓷的块体材料；(2)计算以铋离子掺杂的锆钛酸钡陶瓷的块体材料样品的厚...

【专利技术属性】
技术研发人员：李玲霞，郑浩然，于仕辉，杨盼，陈思亮，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：发明
国别省市：天津,12