用于传感器的参数化的方法技术

本发明专利技术涉及一种用于工业过程中的至少一个传感器的动态参数化的方法，其中，借由配置传感器和生产性传感器获取过程的测量数据，其中，配置传感器和生产性传感器是相同类型的传感器；将测量数据传输到控制单元；控制单元参照测量数据生成用于生产性传感器的参数集，并将该参数集传送到生产性传感器；和生产性传感器在操作中使用参数集。

A Parametric Method for Sensors

The present invention relates to a method for dynamic parameterization of at least one sensor in an industrial process, in which measurement data is obtained by configuring sensors and productive sensors, in which configuring sensors and productive sensors are of the same type; measuring data is transmitted to a control unit; and the control unit generates measurement data for productive sensing. The parameter set of the device is transmitted to the production sensor, and the production sensor uses the parameter set in operation.

【技术实现步骤摘要】
用于传感器的参数化的方法
本专利技术涉及一种用于工业过程中的至少一个传感器的动态参数化的方法。
技术介绍
在例如用于工件或物品的制造，分类和/或处理的工业过程中，通常使用多个传感器来观察或检测工件。然后从传感器的测量数据中收集用于控制工业过程的数据。传感器的参数(这意味着它们的配置)通常设置一次。在此设置中，参数适应于工业过程中通常存在的边界条件。例如，传感器可以是摄像机，其曝光时间设定为典型的亮度条件和/或要观察的工件的颜色和亮度。如果例如在工业过程中处理具有不同颜色的工件，则通常设置摄像机的参数，使得摄像机在所有可能的条件下提供令人满意的结果。然而，这种方法的缺点在于，必须针对传感器的非常广泛的可能的应用范围来设置参数，使得由传感器提供的测量数据的质量经常需要改进。
技术实现思路
因此，本专利技术的基本目的是提供一种用于传感器的参数化的方法，该方法允许提高传感器的测量数据的质量。该目的根据本专利技术通过根据权利要求1所述的方法来满足。根据本专利技术的方法用于在工业过程中的至少一个传感器的参数化。在该方法中，借由配置传感器和生产性传感器获取过程的测量数据，其中配置传感器和生产性传感器是相同类型的传感器；至少将配置传感器的测量数据或仅将配置传感器的测量数据传送给控制单元；控制单元参照/基于测量数据生成用于生产性传感器的参数集，并将参数集传送到生产性传感器；和生产性传感器在操作中使用参数集。本专利技术使用两个相同类型的传感器，即配置传感器和生产性传感器，其中配置传感器连接在生产性传感器的上游。生产性传感器的参数化参照由配置传感器确定的过程的测量数据来进行。例如，可参照配置传感器的测量数据确定过程中当前存在哪些环境条件。基于环境条件(这意味着基于该过程的当前边界条件)，便可以在生产性传感器中使用关于边界条件优化的配置。然后，借由参数集将优化配置传送到生产性传感器，即可实现工业过程的理想记录。因此可以以特定于测量对象和/或关于通过时间的方式来确定优化参数集。由于关于通过时间的参数集的生成，可以使用针对当前相应环境条件的相应理想参数集。参数集的设置因此在操作中动态地发生，以便能够对变化的环境条件作出反应。生成的参数集还可以传送到配置传感器以更改配置传感器的设置。或者，配置传感器的设置也可以保持不变。因此，可以在不同的边界条件下将不同的参数集加载到生产性传感器中，从而也可以通过具有不同边界条件的生产性传感器实现各自的理想结果。这是通过布置在上游并且允许检测边界条件的配置传感器实现的。为确定边界条件，控制单元对配置传感器的测量数据进行评价，并基于测量数据生成用于生产性传感器的相应的参数集。例如，控制单元可以从多个参数集中选择用于生产性传感器的相应的特别合适的参数集。随后，将参数集例如作为数字数据包传送给生产性传感器。生产性传感器接收参数集中包含的参数，并相应地改变其配置。然后，将用于观察工业过程的生产性传感器的设置适应于当前存在的边界条件，使得生产性传感器能够提供关于工业过程的理想的测量数据。每个传感器(即配置传感器和生产性传感器)与控制单元耦合，优选地通过数字数据连接与控制单元耦合。控制单元可以单独配置并与传感器间隔开，或者控制单元也可以集成到传感器之一中。例如，配置传感器和生产性传感器均可为用于识别条形码的摄像机，其中工业过程例如用于参照条形码对工件(如包)进行分类。作为两个传感器的标准的配置可以适用于白色背景下的黑色条形码。如果配置传感器现在识别出背景不再是白色，而是例如深灰色，则控制单元可以生成一个参数集，在该参数集中，生产性传感器的对比度设置发生改变，使得条形码也可以相对于深灰色背景被生产性传感器可靠地识别。配置传感器和生产性传感器优选地彼此分开配置，例如布置在不同的外壳中。此外，配置传感器和生产性传感器可以这样布置，使得它们不能同时检测同一工件。配置传感器和生产性传感器是相同类型的传感器，这意味着传感器配置用于获取和/或输出相同类型的测量值和/或具有相同功能。两个传感器例如可以配置成测量距离值、测量温度或亮度或者记录光学图像。配置传感器和生产性传感器优选地至少具有相同的结构。本专利技术的进一步有利的展开能够从说明书，附图及附属权利要求体现。根据第一有利实施例，参数集适应于过程的当前状态。这意味着参数集适用于工业过程的当前存在边界条件。边界条件例如可以包括当前处理的工件的种类，其中工件可以随时间变化，并要求相应的其它参数集。另外，边界条件可以包括当前温度、当前亮度、过程的当前处理速度等。根据另一个有利的实施例，参数集包括具有数字数据的数据包，其中数据包至少部分地存储在生产性传感器的存储器中。因此，可以数字传输参数集。在接收到生产性传感器中的参数集之后，参数集中包含的配置可以存储在生产性传感器的存储器中，然后影响生产性传感器的工作方式。由于数字数据包也可以例如通过因特网传送，因此将参数集作为数字数据包的传输也允许将控制单元远离配置传感器和生产性传感器布置。根据另一个有利的实施例，由工业过程加工的工件在时间上先由配置传感器，然后由生产性传感器相继地检测。此外，配置传感器及生产性传感器对相同工件的检测可以发生在工件的不同位置。例如，工件可以首先借由传送带引导通过配置传感器，然后例如在几厘米或几米的距离内，延迟数秒被引导通过生产性传感器。在引导通过时，配置传感器和生产性传感器可以分别获取相应工件的测量数据，并将其传送到控制单元。因此，生产性传感器优选地监测与配置传感器所监测的相同的过程。根据另一个有利的实施例，参数集的使用仅在选定的时间延迟之后发生。由于工件在配置传感器和生产性传感器之间所需的通过时间，因此优选地仅在相应工件快到达前(即预定的持续时间)激活生产性传感器中的参数集。借由生产性传感器通过这种方式能够实现具有“旧”参数集的先前处理的工件仍然可以通过生产性传感器检测，直到要求“新”参数集的工件到达。为了实现延迟，控制单元可以将具有延迟的相应参数集传送到生产性传感器，或参数集可以包括时间点，从该时间点开始参数集应该由生产性传感器使用。选择时间延迟意味着延迟是例如由控制单元故意引起的，并不是由例如无论如何都存在的迟滞等产生的。然而，在选择时间延迟时可以考虑无论如何都存在的延迟或迟滞。根据另一有利实施例，时间延迟通过参照工业过程的状态来选择。这意味着时间延迟例如可以参照过程的当前处理速度和/或参照相应工件从配置传感器到生产性传感器所需的时间来选择。根据另一有利实施例，生产性传感器获取过程的测量数据；将生产性传感器的测量数据传送到控制单元；控制单元参照生产性传感器的测量数据生成用于另一生产性传感器的参数集，并将该参数集发送到/基于另一生产性传感器传送该参数集，其中该另一生产性传感器在操作中使用该参数集。这被称为递归过程参数化。生产性传感器可用作用于另一生产性传感器的配置传感器。因此有可能形成三个或更多个相同类型的传感器的链，这些传感器观察相同的工业过程并且优选地沿着过程布置。就此而言，在过程中布置在上游的一个相应的传感器可以用作用于随后的传感器的配置传感器，其中随后的传感器然后用作生产性传感器。通过这种方式设计的逻辑链，可以实现沿着过程的持续改进的设置，从而可以沿着过程生成越来越好的测量值或测量数据。根据另一有利实施例，控制本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于工业过程(12)中的至少一个传感器(20，22)的动态参数化的方法，其中，借助于配置传感器(18)和生产性传感器(20)获取所述过程(12)的测量数据，其中所述配置传感器(18)和所述生产性传感器(20)是相同类型的传感器；将所述配置传感器(18)的测量数据传送到控制单元(28)；所述控制单元(28)基于所述测量数据生成用于所述生产性传感器(20)的参数集，并将所述参数集传送到所述生产性传感器(20)；所述生产性传感器(20)在操作中使用所述参数集。

【技术特征摘要】
2017.07.04 EP 17179587.51.一种用于工业过程(12)中的至少一个传感器(20，22)的动态参数化的方法，其中，借助于配置传感器(18)和生产性传感器(20)获取所述过程(12)的测量数据，其中所述配置传感器(18)和所述生产性传感器(20)是相同类型的传感器；将所述配置传感器(18)的测量数据传送到控制单元(28)；所述控制单元(28)基于所述测量数据生成用于所述生产性传感器(20)的参数集，并将所述参数集传送到所述生产性传感器(20)；所述生产性传感器(20)在操作中使用所述参数集。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参数集适配于所述过程(12)的当前状态。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述参数集包括具有数字数据的数据包，其中所述数据包至少部分地存储在所述生产性传感器(20)的存储器中。4.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其特征在于，由所述过程(12)加工的工件(14)在时间上先由所述配置传感器(18)然后由所述生产性传感器(20)相继地检测。5.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其特征在于，所述参数集的使用仅在选定的时间延迟之后发生。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述时间延迟通过参照所述过程(12)的状态来选择。7.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其特征在于，所述生产性传感器(20)获取所述过程(12)的测量数据；将所述生产性传感器(20)的测量数据传送到所述控制单元(28)；所述控制单元(28)基于所述生产性传感器(20)的测量数据生成用于另一生产性传感器(2...

【专利技术属性】
技术研发人员：法比安·施密特，
申请(专利权)人：西克股份公司，
类型：发明
国别省市：德国,DE