一种皮革表面涂层厚度与皮革厚度的测量方法技术

技术编号:20110911 阅读:66 留言:0更新日期:2019-01-16 10:49
本发明专利技术提供了一种皮革表面涂层厚度与皮革厚度的测量方法,包括:采集显微镜下的皮革图片;对于有涂层特征的皮革,采用平行线法测量,包括:在垂直于皮革方向画出第一测试线,第一测试线两端都画到皮革边界之外,沿第一测试线找到皮革两侧边缘点,将两点间距作为整块皮革厚度;在垂直于皮革方向画出第二测试线,第二测试线一端画到皮革边界之外,一端画到涂层边界之外,沿第二测试线找到第二测试线方向上涂层的两侧边缘点,将两点间距作为涂层厚度;根据第一测试线及第二测试线得到的长度值,直接计算涂层厚度与皮革厚度的比值,作为国标中对于皮革表面涂层厚度占整块皮革厚度的比值。本发明专利技术能够定量测量涂层厚度与皮革厚度的比值,并且效率高。

A Method for Measuring the Thickness of Leather Surface Coating and Leather Thickness

The invention provides a method for measuring the thickness of leather surface coating and leather thickness, including: collecting leather pictures under a microscope; for leather with coating characteristics, the parallel line method is used to measure, including: drawing the first test line perpendicular to the direction of leather, drawing both ends of the first test line outside the leather boundary, finding the edge points along the first test line, and two sides of the leather. The distance between two points is taken as the thickness of the whole piece of leather; the second test line is drawn perpendicular to the direction of the leather, one end of the second test line is drawn outside the boundary of the leather and the other end is drawn outside the boundary of the coating. The edge points of the coating along the second test line are found, and the distance between the two points is taken as the thickness of the coating; the length of the first test line and the second test line is calculated directly. The ratio of coating thickness to leather thickness is the ratio of coating thickness to the whole leather thickness in the national standard. The invention can quantitatively measure the ratio of coating thickness to leather thickness, and has high efficiency.

【技术实现步骤摘要】
一种皮革表面涂层厚度与皮革厚度的测量方法
本专利技术涉及属于皮革表面涂层厚度与皮革厚度测量领域,具体涉及一种皮革表面涂层厚度与皮革厚度的测量方法。
技术介绍
皮革是经脱毛和鞣制等物理、化学加工所得到的已经变性不易腐烂的动物皮。革是由天然蛋白质纤维在三维空间紧密编织构成的,其表面有一种特殊的粒面层,具有自然的粒纹和光泽,手感舒适,广泛应用于服装、箱包、皮具等行业。由于产品设计和工艺等需要,部分皮革表面会做涂层处理,需要在纺织实验室中进行检测,以确认涂层厚度在整块皮革厚度中的占比。常规的检测方式是在显微镜下进行观察并估算皮革涂层厚度在整块皮革厚度中的占比,这种方式误差大,准确率低。现有技术中一些能够测量皮革厚度的方法,对于皮革表面涂层厚度,均无准确有效的方法。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种皮革表面涂层厚度与皮革厚度的测量方法,采用数字图像技术对皮革表面具有涂层特征的皮革进行半自动化的定量测量,以精确计算国标中对于皮革表面涂层厚度占比的数值。本专利技术提供了一种皮革表面涂层厚度与皮革厚度的测量方法,包括如下步骤:步骤1,采集显微镜下的皮革图片;步骤2,对于有涂层特征的皮革,采用平行线法测量,包括:在垂直于皮革方向画出第一测试线,第一测试线两端都画到皮革边界之外,沿第一测试线找到皮革两侧边缘点,将两点间距作为整块皮革厚度;在垂直于皮革方向画出第二测试线,第二测试线一端画到皮革边界之外,一端画到涂层边界之外,沿第二测试线找到第二测试线方向上涂层的两侧边缘点,将两点间距作为涂层厚度;步骤3,根据第一测试线及第二测试线得到的长度值,直接计算涂层厚度与皮革厚度的比值,作为国标中对于皮革表面涂层厚度占整块皮革厚度的比值。与现有技术相比本专利技术的有益效果是:能够定量测量涂层厚度与皮革厚度的比值;由操作人确定要测的皮革部位和涂层部位,最多只用两次划线来获得定量数据,效率高。附图说明图1是应用本专利技术进行皮革表面涂层厚度与皮革厚度的测量示意图。具体实施方式下面结合附图所示的各实施方式对本专利技术进行详细说明,但应当说明的是,这些实施方式并非对本专利技术的限制,本领域普通技术人员根据这些实施方式所作的功能、方法、或者结构上的等效变换或替代,均属于本专利技术的保护范围之内。参图1所示,本实施例提供了一种皮革表面涂层厚度与皮革厚度的测量方法,包括:步骤1,采集显微镜下的皮革图片;步骤2,对于有涂层特征的皮革(如上图的皮革),采用平行线法测量:先在垂直于皮革方向画出测试线1(两端都画到皮革边界之外),沿测试线1找到皮革两侧边缘点,这两点间距可作为整块皮革厚度;然后垂直于皮革方向画出测试线2(一端画到皮革边界之外,一端画到涂层边界之外),沿测试线2找到测试线方向上涂层的两侧边缘点,这两点间距可作为涂层厚度;步骤3,根据两次测试线得到的长度值,直接计算涂层厚度与皮革厚度的比值,作为国标中对于皮革表面涂层厚度占整块皮革厚度的比值。通过该皮革表面涂层厚度与皮革厚度的测量方法,能够定量测量涂层厚度与皮革厚度的比值;由操作人确定要测的皮革部位和涂层部位,最多只用两次划线来获得定量数据,效率高。对于本领域技术人员而言,显然本专利技术不限于上述示范性实施例的细节,而且在不背离本专利技术的精神或基本特征的情况下,能够以其他的具体形式实现本专利技术。因此,无论从哪一点来看,均应将实施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本专利技术的范围由所附权利要求而不是上述说明限定,因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本专利技术内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种皮革表面涂层厚度与皮革厚度的测量方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1,采集显微镜下的皮革图片;步骤2,对于有涂层特征的皮革,采用平行线法测量,包括:在垂直于皮革方向画出第一测试线,第一测试线两端都画到皮革边界之外,沿第一测试线找到皮革两侧边缘点,将两点间距作为整块皮革厚度;在垂直于皮革方向画出第二测试线,第二测试线一端画到皮革边界之外,一端画到涂层边界之外,沿第二测试线找到第二测试线方向上涂层的两侧边缘点,将两点间距作为涂层厚度;步骤3,根据第一测试线及第二测试线得到的长度值,直接计算涂层厚度与皮革厚度的比值,作为国标中对于皮革表面涂层厚度占整块皮革厚度的比值。

【技术特征摘要】
1.一种皮革表面涂层厚度与皮革厚度的测量方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1,采集显微镜下的皮革图片;步骤2,对于有涂层特征的皮革,采用平行线法测量,包括:在垂直于皮革方向画出第一测试线,第一测试线两端都画到皮革边界之外,沿第一测试线找到皮革两侧边缘点,将两点间距作为整块皮革厚度;在垂...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈龙李文邦
申请(专利权)人:北京和众视野科技有限公司
类型:发明
国别省市:北京,11

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