薄膜电容寿命预测方法技术

本发明专利技术公开了一种薄膜电容寿命预测方法，包括如下步骤：一、选用一款标准的直流电容器，测试样件N个，测试方法如下：1、电容器放置在30±2℃的环境下至少12小时后，进行端子间耐电压，5分钟后测试容量损耗；2、电容器放置在70℃的环境下至少12小时；3、在70℃，对电容器施加2600VDC保持500小时。本发明专利技术方案填补了膜电容根据现场实测情况进行经验判定，无寿命预测方案的技术空白，不仅为不同阶段的修程修制提供技术支撑，而且可作为整体系统级产品PHM的薄膜电容类器件的判定模型，在检修判定和预测性修理方面已取得了积极的效果。

【技术实现步骤摘要】
薄膜电容寿命预测方法
本专利技术涉及膜电容测试的
，具体为一种薄膜电容寿命预测方法。
技术介绍
薄膜电容器是以金属膜当电极，可有一组金属膜缠绕成圆筒状，或多组圆筒膜并联构成的电容器。由于其无极性、绝缘阻抗高、频率特性优异等性能优势，在太阳能发电、电气化铁路、风力发电行业都有广泛的应用，而薄膜电容的容值在长期使用后会逐步衰减，最终影响正常功能。现有技术一的技术方案：膜电容容值的变化直接影响到产品性能，为保证产品正常的功能实现，目前大多数电力电子系统进行定期维护方案，就是根据规定的时间，定期检查容值的变化情况，对小批产品进行试修，判断是否电容需要进行更换。现有技术一的缺点：目前机电产品的使用维护状况已经从事后修理--定期修理--视情维修--预测性维修。现有技术方案一属于典型的定期修理、视情修理，存在的缺点是：1、维修方案只针对开展检修的电容当前状态，对未来电容的寿命缺乏预测，对是否能满足下一个运用周期缺乏预测。2、无法建立容值衰减模型，无法支持后期检修维护保养业务升级成预测性修理的业务需要。现有技术二的技术方案：根据膜电容寿命预测公式，进行电容整体寿命的预测。式中：L：工作负荷下(本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种薄膜电容寿命预测方法，其特征在于：包括如下步骤：一、选用一款标准的直流电容器，测试样件N个，测试方法如下：1、电容器放置在30±2℃的环境下至少12小时后，进行端子间耐电压，5分钟后测试容量损耗；2、电容器放置在70℃的环境下至少12小时；3、在70℃，对电容器施加2600VDC保持500小时；4、耐久性试验进行到500小时，电容器应停止通电，并在环境温度下的静止空气中冷却，对样品进行1000次放电，其峰值电流为1.4*4＝5.6KA；5、重复步骤2到步骤4；在试验过程中，每96个小时，测量并记录一次电容容值；二、电容的寿命趋势服从指数分布函数f(x)，令x为时间，y为测试值(容值)，...

【技术特征摘要】
1.一种薄膜电容寿命预测方法，其特征在于：包括如下步骤：一、选用一款标准的直流电容器，测试样件N个，测试方法如下：1、电容器放置在30±2℃的环境下至少12小时后，进行端子间耐电压，5分钟后测试容量损耗；2、电容器放置在70℃的环境下至少12小时；3、在70℃，对电容器施加2600VDC保持500小时；4、耐久性试验进行到500小时，电容器应停止通电，并在环境温度下的静止空气中冷却，对样品进行1000次放电，其峰值电流为1.4*4＝5.6KA；5、重复步骤2到步骤4；在试验过程中，每96个小时，测量并记...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯涛，王龙刚，李先亮，李竹可，李秋玲，刘谆，
申请(专利权)人：中车永济电机有限公司，
类型：发明
国别省市：山西,14