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本发明公开了一种薄膜电容寿命预测方法，包括如下步骤：一、选用一款标准的直流电容器，测试样件N个，测试方法如下：1、电容器放置在30±2℃的环境下至少12小时后，进行端子间耐电压，5分钟后测试容量损耗；2、电容器放置在70℃的环境下至少12小...
该专利属于中车永济电机有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中车永济电机有限公司授权不得商用。

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