The invention discloses an AlGaN-based avalanche photodiode with low noise and a preparation method. The structure of the avalanche photodiode consists of buffer layer on double-thrown transparent sapphire substrates, unintentionally doped Al0.45Ga0.55N layer, n-type Al0.45Ga0.55N layer, unintentionally doped AlN layer in multiplier region, p-type Al0.45Ga0.55N layer, weak p-type Al0.45Ga0.55N layer in absorption region, p-type Al0.45Ga0.55N layer in absorption region, and p-type GaN cap layer. There are p-type and n-type ohmic contact electrodes on the p-type GaN cap layer and n-type Al0.45Ga0.55N layer respectively; a passivation layer covers the surface etched to the n-type Al0.45Ga0.55N layer to protect the etched surface. The biggest advantage of the device is that the weak p-type Al0.45Ga0.55N layer is used as the absorption region and the AlN as the multiplier region. This can effectively reduce the residual noise of the AlGaN-based avalanche diode, improve the signal-to-noise ratio of the device, and help to improve the ultraviolet suppression ratio of the device.
【技术实现步骤摘要】
一种具有低噪声的AlGaN基雪崩光电二极管及制备方法
本专利技术涉及紫外探测器,具体指一种具有低噪声的AlGaN基雪崩光电二极管及制备方法。
技术介绍
目前,AlGaN基半导体光电探测器由于具有能带结构为直接禁带,量子效率高,截止波长锐利的优点,而且可以在材料生长时通过掺Al元素来调节响应波段,当Al组份大于0.45时能够实现只对日盲紫外波段响应,在紫外探测领域越来越受到人们重视。AlGaN基雪崩光电二极管探测器(AvalanchePhotodiodes,APD)是AlGaN基半导体光电探测器的一种,相比较其它类型探测器,具有响应速度快,具有内增益,可以制作成面阵器件的优点,因此非常适合应用于微弱紫外探测领域,近年来逐渐成为紫外探测器领域的研究热点。但是,目前AlGaN基雪崩光电二极管面临着雪崩过剩噪声过大的问题,导致器件的信噪比难以提高,严重制约了它的实际应用。根据雪崩过剩噪声理论,器件的过剩噪声与材料中载流子的碰撞离化系数比密切相关,只有碰撞离化系数高的载流子雪崩占据主导地位时,器件的噪声才会最小。基于上述思想,本专利设计了一种新型的具有低噪声的AlGaN基雪 ...
【技术保护点】
1.一种具有低噪声的AlGaN基雪崩光电二极管,包括蓝宝石衬底(1),缓冲层(2),非故意掺杂Al0.45Ga0.55N层(3),n型Al0.45Ga0.55N层(4),n型欧姆接触电极(5),倍增区非故意掺杂AlN(6),p型Al0.45Ga0.55N层(7),吸收区弱p型Al0.45Ga0.55N层(8),吸收区p型Al0.45Ga0.55N层(9),p型GaN帽层(10),钝化层(11),p型欧姆接触电极(12),其特征在于:所述的倍增区非故意掺杂AlN(6)的材料类型为本征型,载流子浓度小于1×1016cm‑3,厚度200‑220nm;所述的吸收区弱p型Al0.45 ...
【技术特征摘要】
1.一种具有低噪声的AlGaN基雪崩光电二极管,包括蓝宝石衬底(1),缓冲层(2),非故意掺杂Al0.45Ga0.55N层(3),n型Al0.45Ga0.55N层(4),n型欧姆接触电极(5),倍增区非故意掺杂AlN(6),p型Al0.45Ga0.55N层(7),吸收区弱p型Al0.45Ga0.55N层(8),吸收区p型Al0.45Ga0.55N层(9),p型GaN帽层(10),钝化层(11),p型欧姆接触电极(12),其特征在于:所述的倍增区非故意掺杂AlN(6)的材料类型为本征型,载流子浓度小于1×1016cm-3,厚度200-220nm;所述的吸收区弱p型Al0.45Ga0.55N层(8)的载流子浓度小于5×1016cm-3,厚度200nm;所述的吸收区p型Al0.45Ga0.55N层(9)的厚度为150-200nm,空穴浓度2-5×1017cm-3;其...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘福浩,杨晓阳,许金通,马丁,张燕,王玲,孙晓宇,刘诗嘉,李向阳,
申请(专利权)人:中国科学院上海技术物理研究所,
类型:发明
国别省市:上海,31
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