The invention discloses an NVM test acceleration method and system. The NVM test acceleration method includes the following steps: entering the first NVM operation instruction through the test command, in which the first NVM operation instruction includes data and address information; decoding and processing the first NVM operation instruction to extract data and address information; and generating a memory erase satisfying NVM based on the first NVM operation instruction. The first control signal of timing information of writing and reading operation is selected to control multiple NVM memory in parallel based on the first NVM operation instruction; the corresponding operation of NVM memory and output data are carried out based on the first control signal and according to the data and address; and the output data are compared and processed based on the first NVM operation instruction and transmitted concurrently. A failure signal representing the result of comparison is given. The NVM test acceleration method of the invention can greatly reduce the test time, thereby reducing the test cost and significantly improving the test efficiency.
【技术实现步骤摘要】
NVM测试加速方法及系统
本专利技术是关于集成电路测试领域，特别是关于一种NVM测试加速方法及系统。
技术介绍
测试在集成电路产品的制造过程中起着十分重要的作用，从芯片被加工制造出来，到交到最终用户手中，经过了多次不同的测试，来保证产品的质量。而随着半导体工艺技术进步和设计复杂度的提升，对芯片测试成本产生了巨大的冲击。测试时间变长，使芯片生产时间加长，测试成本增加，从而使整颗芯片的成本大幅增加。随着NVM类型存储器容量越来越大，NVM测试时间也相应增加，数据读取比较作为判断NVM存储数据是否正确的主要方法，所需的时间也增加显著。传统的NVM测试方法分别对每个NVM进行操作，并将每个NVM读出的数据串行输出进行比对，其读出效率低，测试时间长，并随着NVM容量、数量变大呈现倍数增长。鉴于上述原因，需要尽可能的缩减测试成本，因此优化NVM测试的并行能力和读操作显得尤为重要，其带来的好处也显而易见，可以大幅降低测试时间，从而降低测试成本。通过分析NVM的测试基本原理和方法，发现NVM测试中大量使用了一些特征向量数据，每次擦、写、读操作也有规律可循，目前主流的测试流程中包含...
【技术保护点】
1.一种NVM测试加速方法，其特征在于，所述NVM测试加速方法包括如下步骤：通过测试命令打入第一NVM操作指令，其中，所述第一NVM操作指令包括数据和地址信息；对所述第一NVM操作指令进行解码和处理以提取出所述数据和地址信息；基于所述第一NVM操作指令，产生满足NVM存储器擦、写以及读操作时序信息的第一控制信号，其中，基于所述第一NVM操作指令，所述第一控制信号被选择为并行控制多个NVM存储器；基于所述第一控制信号，并根据所述数据和地址信息，进行所述NVM存储器的对应操作并生成输出数据；以及基于所述第一NVM操作指令，对所述输出数据进行比较处理，并输出代表比较结果的失败信号。
【技术特征摘要】
1.一种NVM测试加速方法，其特征在于，所述NVM测试加速方法包括如下步骤：通过测试命令打入第一NVM操作指令，其中，所述第一NVM操作指令包括数据和地址信息；对所述第一NVM操作指令进行解码和处理以提取出所述数据和地址信息；基于所述第一NVM操作指令，产生满足NVM存储器擦、写以及读操作时序信息的第一控制信号，其中，基于所述第一NVM操作指令，所述第一控制信号被选择为并行控制多个NVM存储器；基于所述第一控制信号，并根据所述数据和地址信息，进行所述NVM存储器的对应操作并生成输出数据；以及基于所述第一NVM操作指令，对所述输出数据进行比较处理，并输出代表比较结果的失败信号。2.如权利要求1所述的NVM测试加速方法，其特征在于，当所述失败信号出现错误时，则执行如下步骤：通过读特定存储器特定地址的命令打入第二NVM操作指令；对所述第二NVM操作指令进行解码和处理以提取出特定地址信息；基于所述第二NVM操作指令，产生仅控制选定NVM存储器的第二控制信号，其中，所述第二控制信号单独控制单个NVM存储器；以及基于所述第二控制信号，并根据所述特定地址信息，进行所述选定NVM存储器的对应操作并生成所述选定NVM存储器的DOUT输出数据。3.如权利要求2所述的NVM测试加速方法，其特征在于，所述NVM测试加速方法还包括如下步骤：通过测试命令解码模块接收所述失败信号或者所述DOUT输出数据，并将所述失败信号或者所述DOUT输出数据输出到芯片外部。4.如权利要求1所述的NVM测试加速方法，其特征在于，所述第一控制信号至少包括地址、数据和使能信号。5.一种NVM测试加速系统，其特征在于，所述NVM测试加速系统包括：测试命令解码模块，所述测试命令解码模块被配置为：接收测试命令，其中，所述测试命令用于打入第一NVM操作指令，其中，所述第一NVM操作指令包括数据和地址信息；和对所述第一NVM操作指令进行解码和处理以提取出所述数据和地址信息；NVM输入信号产生模块，所述NVM输入信号产生模...
【专利技术属性】
技术研发人员：吕品，关媛，张海峰，唐晓柯，袁远东，邵明驰，
申请(专利权)人：北京智芯微电子科技有限公司，国网信息通信产业集团有限公司，国家电网有限公司，国网江苏省电力有限公司南京供电分公司，
类型：发明
国别省市：北京,11
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