The invention relates to the field of display technology, and proposes a detection circuit for display panel, which comprises a multistage first switching transistor, a first control line, a second control line, a third control line, a fourth control line, a first signal line and a second signal line. The first end of each stage of the first switching transistor is connected to the corresponding gate line; the first control line is connected to the control end of the second Nx+2y+1 stage of the first switching transistor; the second control line is connected to the control end of the second Nx+2y+2 stage of the first switching transistor; the third control line is connected to the control end of the first switching transistor of the N(2x+1)+2y+1 stage; and the fourth control line is connected to the first switching crystal of the N(2x+1)+2y+2 stage The control end of the transistor is connected, where 0 < x, 0 < 2Y + 1 < 2Y + 2 < N; the first signal line is connected with the second end of the 2M x + y first switching transistor; and the second signal line is connected with the second end of the M (2x + 1) +y first switching transistor, where 0 < x, 0 < y < M. The detection circuit provided in the present disclosure can quickly locate the fault grating line.
【技术实现步骤摘要】
显示面板检测电路及检测方法、阵列基板
本公开涉及显示器
,尤其涉及一种显示面板检测电路及检测方法、阵列基板。
技术介绍
在液晶显示器领域,成盒工序为生产中承前启后重要的一环,成盒工序是将TFT基板与彩膜基板合二为一,并切割为单个的液晶盒,液晶盒经过偏光片贴附等后续工序,形成最终产品。液晶盒工序完成以后,需要对液晶盒进行检查,常见的不良主要包含线不良。线不良一般包括栅线、数据线断路以及栅线和数据线短路。相关技术中,为了方便快速的检查,通常在阵列基板上布置检查电路,然而,相关技术中布置的检测电路只能检测是否出现线不良,并不能对线不良的位置进行定位。需要说明的是,在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解,因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
本公开的目的在于提供一种显示面板检测电路及检测方法、阵列基板,进而至少在一定程度上克服相关技术中,不能对线不良的位置进行定位的技术问题。根据本专利技术的一个方面,提供一种显示面板检测电路,设置于阵列基板上,所述阵列基板包括多行栅线和多列数据线,该检测电路包括多级第一开关晶体管、第一控制线、第二控制线、第三控制线、第四控制线、第一信号线、第二信号线。多级第一开关晶体管与多行所述栅线对应设置,每一级所述第一开关晶体管的第一端与对应的所述栅线连接;第一控制线与第2Nx+2y+1级所述第一开关晶体管的控制端连接;第二控制线与第2Nx+2y+2级所述第一开关晶体管的控制端连接;第三控制线与第N(2x+1)+2y+1级所述第一开关晶体管的控制端连接;第四控制线与第N(2x+1)+ ...
【技术保护点】
1.一种显示面板检测电路,设置于阵列基板上,所述阵列基板包括多行栅线和多列数据线,其特征在于,包括:多级第一开关晶体管,与多行所述栅线对应设置,每一级所述第一开关晶体管的第一端与对应的所述栅线连接;第一控制线,与第2Nx+2y+1级所述第一开关晶体管的控制端连接;第二控制线,与第2Nx+2y+2级所述第一开关晶体管的控制端连接;第三控制线,与第N(2x+1)+2y+1级所述第一开关晶体管的控制端连接;第四控制线,与第N(2x+1)+2y+2级所述第一开关晶体管的控制端连接,其中,0<x,0<2y+1<2y+2≤N;第一信号线,与第2Mx+y级所述第一开关晶体管的第二端连接;第二信号线,与第M(2x+1)+y级所述第一开关晶体管的第二端连接,其中,0≤x,0<y≤M。
【技术特征摘要】
1.一种显示面板检测电路,设置于阵列基板上,所述阵列基板包括多行栅线和多列数据线,其特征在于,包括:多级第一开关晶体管,与多行所述栅线对应设置,每一级所述第一开关晶体管的第一端与对应的所述栅线连接;第一控制线,与第2Nx+2y+1级所述第一开关晶体管的控制端连接;第二控制线,与第2Nx+2y+2级所述第一开关晶体管的控制端连接;第三控制线,与第N(2x+1)+2y+1级所述第一开关晶体管的控制端连接;第四控制线,与第N(2x+1)+2y+2级所述第一开关晶体管的控制端连接,其中,0<x,0<2y+1<2y+2≤N;第一信号线,与第2Mx+y级所述第一开关晶体管的第二端连接;第二信号线,与第M(2x+1)+y级所述第一开关晶体管的第二端连接,其中,0≤x,0<y≤M。2.根据权利要求1所述的显示面板检测电路,其特征在于,还包括:多级第二开关晶体管,与多列所述数据线对应设置,每一级所述第二开关晶体管的第一端与对应的所述数据线连接;第五控制线,与第2Ax+2y+1级所述第二开关晶体管的控制端连接;第六控制线,与第2Ax+2y+2级所述第二开关晶体管的控制端连接;第七控制线,与第A(2x+1)+2y+1级所述第二开关晶体管的控制端连接;第八控制线,与第A(2x+1)+2y+2级所述第二开关晶体管的控制端连接,其中,0<x,0<2y+1<2y+2≤A;第三信号线,与第2Bx+y级所述第二开关晶体管的第二端连接;第四信号线,与第B(2x+1)+y级所述第一开关晶体管的第二端连接,其中,0≤x,0<y≤B。3.根据权利要求2所述的显示面板检测电路,其特征在于,N为M的整数倍,A是B的整数倍。4.根据权利要求2所述的显示面板检测电路,其特征在于,N等于12、M等于3,A等于12、B等于3。5.一种显示面板检测方法,应用权利要求1-4任一项所述的显示面板检测电路,其特征在于,包括:向所述第一控制线、第二控制线、第三控制线、第四控制线、第一信号线、第二信号线输入不同的检测信号,从而在所述显示面板的不同位置范围形成明暗相间的条纹;根据所述条纹中问题条纹所在的行数定位故障栅线所在的行数。6.根据权利要求5所述的显示面板检测方法,其特征在于,所述向所述第一控制线、第二控制线、第三控制线、第四控制线、第一信号线、第二信号线输入不同的检测信号,根据所述第一条纹中问题条纹所在的行数定位故障栅线所在的行数包括:向所述第一控制线、第二控制线、第一信号线、第二信号线输入导通信号,向所述第三控制线、第四控制线输入关断信号,或者向所述第三控制线、第四控制线、第一信号线、第二信号线输入导通信号,向所述第一控制线、第二控制线输入关断信号,从而使得所述显示面板出现明暗相间的多行第一条纹;查找所述第一条纹中的问题条纹,并记录所述问题条纹所在的行数m1;向所述第一控制线、第二控制线、第一信号线输入导通信号,向所述第二信号线、第三控制线、第四控制线输入关断信号,或者向所述第一控制线、第二控制线、第二信号线输入导通信号,向所述第一信号线、第三控制线、第四控制线输入关断信号,或者向所述第三控制线、第四控制线、第一信号线输入导通信号,向所述第二信号线、所述第一控制线、第二控制线输入关断信号,或者向所述第三控制线、第四控制线、第二信号线输入导通信号,向所述第一信号线、所述第一控制线、第二控制线输入关断信号,从而使得第m1行所述第一条纹所在的位置出现明暗相间的多行第二条纹;查找所述第二条纹中的问题条纹,并记录所...
【专利技术属性】
技术研发人员:张淼,傅武霞,孙松梅,李环宇,
申请(专利权)人:合肥鑫晟光电科技有限公司,京东方科技集团股份有限公司,
类型:发明
国别省市:安徽,34
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。