图像处理方法和缺陷检查方法技术

图像处理方法和缺陷检查方法。能够在从被检查物的拍摄图像分选检查对象区域时减轻产生对作业人员要求熟练的判断等负担且简单地设定阈值并容易地选出检查对象区域。图像处理方法包括差分算出步骤，将具有相对于基准直线为线对称的第1及第2区域的单色的原图像通过基准直线划分为第1及第2区域，对于在第1及第2区域内相对于基准直线为线对称的位置配置的两个原像素的各对，算出成为两个原像素的像素值的差分的差分像素值。该方法还包括差分图像生成步骤，配置具有差分像素值的差分像素而生成差分图像，将具有使用第1区域内的第1位置的原像素和第2区域内的第2位置的原像素的对所算出的差分像素值的差分像素配置于差分图像的第1及第2位置而生成差分图像。

Image Processing Method and Defect Checking Method

Image processing method and defect inspection method. It can reduce the burden of skilled judgment on operators when sorting the object area from the photographed image of the object being inspected, and simply set the threshold value and easily select the object area to be inspected. The image processing method includes a differential calculation step, which divides the monochrome original image of the first and second regions with linear symmetry relative to the reference line into the first and second regions through the reference line. For each pair of the two original pixels which are arranged in the first and second regions with linear symmetry relative to the reference line, the differential pixel values of the difference of the pixel values of the two original pixels are calculated. \u3002 The method also includes a differential image generation step by configuring differential pixels with differential pixel values to generate a differential image, and by configuring differential pixels with pairs of original pixels at the first position in the first region and original pixels at the second position in the second region to the first and second positions of the differential image to generate a differential image.

【技术实现步骤摘要】
图像处理方法和缺陷检查方法
本专利技术涉及使用通过拍摄装置对被检查物的表面进行拍摄而得到的拍摄图像来选出应对被检查物的表面进行缺陷检查的检查对象区域的图像处理方法以及使用了该图像处理方法的缺陷检查方法，尤其涉及对于具有线对称性的被检查物无论缺陷的种类如何均能够高精度且容易地选出检查对象区域的图像处理方法以及使用其的缺陷检查方法。
技术介绍
使用通过拍摄装置对被检查物的表面进行拍摄而得到的拍摄图像对被检查物的表面检查有无缺陷的缺陷检查正在广泛地进行。申请人已经提出了对称为裂纹(crack)的线状缺陷进行检测的缺陷检查方法(专利文献1)。在被检查物的表面，除了上述裂纹以外还存在龟裂、缺口、印痕、标记错误等多方面的缺陷。在检测上述缺陷时，使用了对数字化的拍摄图像进行数字处理的图像处理算法(图像处理方法)。作为对被检查物进行拍摄的拍摄装置，使用搭载有如CCD(Charged-coupleddevices，电荷耦合器件)或者CMOS(ComplemeNtarymetal-oxide-semicoNductor，互补性金属氧化半导体)那样的拍摄元件的摄像头。当在拍摄时从被检查物发出的光输入至上述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种图像处理方法，其特征在于，包括：差分算出步骤，将具有相对于基准直线为线对称的第1区域及第2区域的单色的原图像，通过所述基准直线划分为所述第1区域及所述第2区域，关于在所述第1区域及所述第2区域内配置于相对于所述基准直线为线对称的位置的两个原像素的各对，算出成为所述两个原像素的像素值的差分的差分像素值；和差分图像生成步骤，是配置具有所述差分像素值的差分像素来生成差分图像的差分图像生成步骤，将具有使用所述第1区域内的第1位置的原像素和所述第2区域内的第2位置的原像素的对所算出的所述差分像素值的差分像素配置于所述差分图像的所述第1位置及所述第2位置来生成所述差分图像。

【技术特征摘要】
2017.06.28 JP 2017-1266741.一种图像处理方法，其特征在于，包括：差分算出步骤，将具有相对于基准直线为线对称的第1区域及第2区域的单色的原图像，通过所述基准直线划分为所述第1区域及所述第2区域，关于在所述第1区域及所述第2区域内配置于相对于所述基准直线为线对称的位置的两个原像素的各对，算出成为所述两个原像素的像素值的差分的差分像素值；和差分图像生成步骤，是配置具有所述差分像素值的差分像素来生成差分图像的差分图像生成步骤，将具有使用所述第1区域内的第1位置的原像素和所述第2区域内的第2位置的原像素的对所算出的所述差分像素值的差分像素配置于所述差分图像的所述第1位置及所述第2位置来生成所述差分图像。2.根据权利要求1所述的图像处理方法，其特征在于，所述基准直线是将所述原图像划分为包含相等数量的原像素的上半部分的所述第1区域和下半部分的所述第2区域的第1直线。3.根据权利要求1所述的图像处理方法，其特征在于，所述基准直线是将所述原图像划分为包含相等数量的原像素的左半部分的所述第1区域和右半部分的所述第2区域的第2直线。4.根据权利要求1所述的图像处理方法，其特征在于，在所述差分图像生成步骤中，从同一所述原图像生成第1差分图像和与所述第1差分图像不同的第2差分图像来作为所述差分图像，所述图像处理方法还包括：检查区域选出步骤，使用所述第1差分图像和所述第2差分图像，选出所述原图像中的检查对象区域。5.一种缺陷检查方法，是使用权利要求1所述的图像处理方法对被检查物进行缺陷检查的缺陷检查方法，其特征在于，具备：阈值设定模式和检查执行模式，所述阈值设定模式包括：第1步骤，使从拍摄已知是合格品的多个被检查物而得到的拍摄图像生成的单色图像为第1原图像，从所生成的多个第1原图像使用所述图像处理方法来生成多个合格品差分图像；和第2步骤，使从拍摄已知是不合格品的多个被检查物而得到的拍摄图像生成的单色图像为...

【专利技术属性】
技术研发人员：加藤嗣，梅崎太造，
申请(专利权)人：东京威尔斯股份有限公司，梅崎太造，
类型：发明
国别省市：日本,JP