集成电路板耐电压检测治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种集成电路板耐电压检测治具，其包括下模座及上模座，所述下模座两侧分别设置有支撑块，所述支撑块内开设有卡持槽，所述卡持槽内卡持有待测试长条基板，所述下模座于待测试长条基板两侧分别设置有限位挡板，所述下模座于两相对支撑块之间间隔设置有若干支撑柱，所述下模座于两相对支撑块之间设置有不同于支撑柱的测试针；所述上模座上开设有匹配限位挡板的第一开槽及匹配支撑块的第二开槽。本实用新型专利技术通过在下模座两侧设置支撑块，并在两相对支撑块之间间隔设置支撑柱，以对待测试长条基板进行支撑卡位，配合在待测试长条基板两侧设置限位挡板，进一步提升对待测试长条基板卡持的稳定性，保证待测试长条基板耐电压测试的稳定性。

Integrated Circuit Board Voltage Inspection Tool

The utility model discloses an integrated circuit board voltage withstanding detection tool, which comprises a lower die base and an upper die base. The two sides of the lower die base are respectively provided with support blocks. A holding groove is arranged in the support block. The card in the holding groove holds a strip substrate to be tested. The lower die base is respectively provided with a limited baffle plate on both sides of the strip substrate to be tested, and the lower die base is supported relative to each other. A number of support pillars are arranged between the blocks, and the lower die base is provided with a test needle different from the support pillar between the two relative support blocks; the upper die base is provided with a first slot of the matching limit baffle and a second slot of the matching support block. The utility model further improves the stability of the test strip substrate card by setting support blocks on both sides of the lower die base and setting support pillars at intervals between the two relative support blocks, so as to support the test strip substrate, cooperate with setting limit baffles on both sides of the test strip substrate, and ensure the stability of the test strip substrate voltage withstanding test.

【技术实现步骤摘要】
集成电路板耐电压检测治具
本技术涉及检测治具
，尤其是涉及一种集成电路板耐电压检测治具。
技术介绍
PCB板中文名称为印制电路板，又称印刷电路板、印刷线路板，是重要的电子部件，PCB的质量在很大程度上决定了电子元器件的质量，因此在生产PCB板的过程中，检测是其中非常重要的一环，通过检测通常能发现目视不易发现的功能性缺陷。其中，细长条的PCB铝基板在进行功能性检测时，因基板上无孔，且基板比较细长，存在测试定位困难及定位不准的问题，另外，基板在成型过程中因偏移、压伤导致基板耐电压性能不稳问题。
技术实现思路
基于此，有必要针对现有技术的不足，提供一种有效对铝基板耐电压进行定位测试的集成电路板耐电压检测治具。为解决上述技术问题，本技术所采用的技术方案是：一种集成电路板耐电压检测治具，其包括下模座及上模座，所述下模座两侧分别设置有支撑块，所述支撑块内开设有卡持槽，所述卡持槽内卡持有待测试长条基板，所述下模座于待测试长条基板两侧分别设置有限位挡板，所述下模座于两相对支撑块之间间隔设置有若干支撑柱，所述下模座于两相对支撑块之间设置有不同于支撑柱的测试针；所述上模座上开设有匹配限位挡板的第一开槽及匹本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路板耐电压检测治具，其特征在于：包括下模座及上模座，所述下模座两侧分别设置有支撑块，所述支撑块内开设有卡持槽，所述卡持槽内卡持有待测试长条基板，所述下模座于待测试长条基板两侧分别设置有限位挡板，所述下模座于两相对支撑块之间间隔设置有若干支撑柱，所述下模座于两相对支撑块之间设置有不同于支撑柱的测试针；所述上模座上开设有匹配限位挡板的第一开槽及匹配支撑块的第二开槽。

【技术特征摘要】
1.一种集成电路板耐电压检测治具，其特征在于：包括下模座及上模座，所述下模座两侧分别设置有支撑块，所述支撑块内开设有卡持槽，所述卡持槽内卡持有待测试长条基板，所述下模座于待测试长条基板两侧分别设置有限位挡板，所述下模座于两相对支撑块之间间隔设置有若干支撑柱，所述下模座于两相对支撑块之间设置有不同于支撑柱的测试针；所述上模座上开设有匹配限位挡板的第一开槽及匹配支撑块的第二开槽。2.根据权利要求1所述的集成电路板耐电压检测治具，其特征在于：所述限位挡板错位设置在待测试长条基板的两侧。3...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄本顺，李大鹏，
申请(专利权)人：东莞塘厦裕华电路板有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44