The utility model discloses a simple and high-precision radio frequency test system, which comprises a test floor and a test fixture. The test floor can realize the control of the test circuit and the recording of the test data. The test fixture is used to fix the exact connection between the test equipment and the test floor, and the test floor is installed in the test fixture. The main control MCU of the test floor controls eight test devices through the UART communication port. And RHF3M076 standard LoRa module, RHF3M076 standard LoRa module undertakes the RF test task of the test system. Eight devices to be tested work time-sharing, and the RF input and output are connected to the RF port of RHF3M076 standard LoRa module through an 8-way RF switch. In order to make the module work in the normal input and output frequency range of RF, appropriate RF attenuators are loaded in the middle of the link. The utility model can realize automatic testing when used in batch production line, and greatly improves the convenience and efficiency of production.
【技术实现步骤摘要】
一种简易的高精度的射频测试系统
本技术涉及射频测试
,尤其涉及生产线的自动化生产射频测试系统。
技术介绍
在现代信息技术日益发达的今天,通讯技术对人们的生活和生产的影响越来越大,甚至人类社会的发展都离不开这些通讯设备,同时人们对通讯的设置功能和质量有了更高的要求,在通讯设备的生产制造过程中对其性能的测试尤为重要;在通信制造领域,对射频设备的射频测试,是通信设备出厂前必须经历的过程,目前在自动化测试领域,射频的生产测试大多采用外接专业仪器的方法,这不仅成本高昂,而且控制也极其复杂,此外,LoRa在测试上也缺乏专业的仪器,目前很多厂家在产线测试时,往往只测试简单的信号强度,覆盖不了LoRa接收,频率误差等其他的测试项目。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是克服上述不足,为产线上大批量产品生产时射频测试提供了一种简易且高精度的测试方法,无需外接昂贵且复杂的专业射频测量仪器,支持8个产品同时上测试系统完成测试,实现LoRa的自动化测试,且连接简单易用。为解决上述技术问题,本技术的技术解决方案是:一种简易的高精度的射频测试系统,本自动化测试系统包括一个测试底板和测试治具 ...
【技术保护点】
1.一种简易的高精度的射频测试系统,包括:测试底板、测试治具、主控MCU、UART通讯口、LoRa模块、射频衰减器和待测设备;所述测试底板可以实现测试电路控制和测试数据的记录;所述测试底板主控MCU通过UART通讯口控制待测设备和LoRa模块;所述UART通讯口的GPIO Bus Switch采用八个FET bus switch,八个FETbus switch的输出汇总连接到主控MCU;每个FET bus switch可以分别控制与使用,实现待测设备的分时控制;所述测试治具用来固定待测设备和测试底板的精确连接;所述测试底板安装在测试治具内;所述LoRa模块承担本测试系统射频测试任务。
【技术特征摘要】
1.一种简易的高精度的射频测试系统,包括:测试底板、测试治具、主控MCU、UART通讯口、LoRa模块、射频衰减器和待测设备;所述测试底板可以实现测试电路控制和测试数据的记录;所述测试底板主控MCU通过UART通讯口控制待测设备和LoRa模块;所述UART通讯口的GPIOBusSwitch采用八个FETbusswitch,八个FETbusswitch的输出汇总连接到主控MCU;每个FETbusswitch可以分别控制与使用,实现待测设备的分时控制;所述测试治具用来固定待测设备和测试底板的精确连接;所述测试底板安装在测试治具内;所述LoRa模块承担本测试系...
【专利技术属性】
技术研发人员:谢利超,李嘉鹏,蔡元宏,
申请(专利权)人:瑞兴恒方网络深圳有限公司,
类型:新型
国别省市:广东,44
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