一种测试激励分段及编码方法技术

本发明专利技术涉及一种测试激励分段及编码方法。该编码方法包括测试激励分段和分段数据编码方式；首先，将测试激励进行均匀分段操作，而后，根据每一分段的测试数据之间的相容性，将每一分段的每8位数据编码为5位数据。本发明专利技术可以减少测试激励并行输入需要占用的芯片输入端口数量，还可以降低测试激励的传输时间。

A Test Excitation Segmentation and Coding Method

The invention relates to a test excitation segmentation and coding method. The encoding method includes test excitation subsection and subsection data encoding. Firstly, test excitation is uniformly segmented, and then, according to the compatibility of test data in each subsection, each 8-bit data in each subsection is coded into 5-bit data. The invention can reduce the number of chip input ports needed for parallel input of test excitation, and can also reduce the transmission time of test excitation.

【技术实现步骤摘要】
一种测试激励分段及编码方法
本专利技术涉及数字集成电路测试领域，特别是集成电路可测性设计领域，具体涉及一种测试激励分段及编码方法。
技术介绍
现阶段的数字集成电路扫描测试，通过使用自动测试设备（ATE）的方法，完成全部测试向量的扫描测试。完成一个测试向量的测试需要经历测试激励扫描输入、测试响应生成及测试响应输出三个过程。影响数字芯片测试成本的两个主要因素是测试数据存储开销和测试应用时间开销，已有的测试向量压缩编码方法可以较好的降低测试数据存储开销，但在测试激励的快速输入和测试响应的快速输出方面存在一定的局限性。常用的测试向量压缩编码方法主要有PR码、哈夫曼码、FDR码、9C码、BM码及EFDR码等，这些方法可以取得较好的压缩效果，可以有效降低测试数据的存储开销。但是，测试向量经过压缩编码后，完成一个测试向量的测试，测试激励的串行输入需要占用接近50%的测试应用时间。基于此，为了降低测试激励的传输时间和减少测试激励并行输入需要占用的输入端口数量，本专利技术提出了一种新的测试激励分段和编码方法，在ATE的一个或两个测试周期内，使用芯片的5个输入端口可以快速输入8位测试激励，大幅度减少测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试激励分段及编码方法，其特征在于，将测试激励进行均匀分段操作，而后，根据每一分段的测试数据之间的相容性，将每一分段的8位数据编码为5位数据。

【技术特征摘要】
1.一种测试激励分段及编码方法，其特征在于，将测试激励进行均匀分段操作，而后，根据每一分段的测试数据之间的相容性，将每一分段的8位数据编码为5位数据。2.根据权利要求2所述的一种测试激励分段及编码方法，其特征在于，还包括将每一分段的8位数据编码为5位数据后，使用芯片的5个输入端完成8位测试激励的输入。3.根据权利要求2所述的一种测试激励分段及编码方法，其特征在于，测试数据之间的相容性定义方式如下：将当前分段的8位数据和前一个分段的8位数据按照位置进行对比，若对应的两数据位相同或者若当前分段中有为x位的数据位，则定义该数据位或该些数据位具有相容性。4.根据权利要求3所述的一种测试激励分段及编码方法，其特征在于，所述x位即当前分段数据中取值不会影响扫描测试故障覆盖率的数据位。5.根据权利要求3所述的一种测试激励分段及编码方法，其特征在于，将每一分段的8位数据编码为5位数据的方式如下：设测试激励当前分段的数据用8位数据表示为t8t7t6t5t4t3t2t1，t8t7t6t5t4t3t2t1中n个数据位具有相容性，且t8t7t6t5t4t3t2t1中为x位的数据位被置1后的数据用s8s7s6s5s4s3s2s1表示，t8t7t6t5t4t3t2t1编码后的数据用e5e4e3e2e1表示，与前一个解码后的测试激励分段对比，当前分段需要取反的数据位数量用p表示，其取值范围是；在的情况下，表示当前分段的数据与前一个解码后的数据对比，当前分段t8t7t6t5t4t3t2t1的8位数据中需要取反的位数为0，e5e4e3编码为000，该情况下的e2e1取值可以被忽略，可以直接使用前一个分段的解码数据作为当前分段的解码数据；在的情况下解码电路仅需一个ATE的测试周期；在的情况下，表示当前分段的数据与前一个分段的数据相比，当前分段t8t7t6t5t4t3t2t1的8位数据中只有一位需要取反，即共有8种状态；当当前分段取反的数据发生在t8t7t6t5t4t3t2t1的低四位时，e5e4e3编码为001，e2e1的二进制形式根据t4t3t2t1的位置进行二进制编码；当当前分段取反的数据发生在t8t7t6t5t4t3t2t1的高四位时，e5e4e3为010，e2e1的二进制形式根据t8t7t6t5的位置进行二进制编码；在的情况下解码电路仅需一个ATE的测试周期；在的情况下，表示当前分段的数据与上一个分段的数据相比，当前分段t8t7t6t5t4t3t2t1的8位数据...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈传东，魏榕山，
申请(专利权)人：福州大学，
类型：发明
国别省市：福建,35