用于监控多个自动光学检测设备的方法及其装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了用于监控多个自动光学检测设备的方法。该方法包括：分别从多个自动光学检测设备获取针对由各个自动光学检测设备检测的被检测产品的检测信息，该检测信息包括与被检测产品有关的检测参数、检测参数的要求、以及包含不满足要求的被检测产品的图片的图片集；基于来自各个自动光学检测设备的图片集，修改对应的自动光学检测设备上的检测参数的要求；以及向多个自动光学检测设备发送各自的修改后的检测参数的要求。本发明专利技术的方法能够减少占用AOI设备的时间，从而提高生产效率。

A Method and Device for Monitoring Multiple Automatic Optical Testing Equipment

The invention discloses a method for monitoring multiple automatic optical detection devices. The method includes: acquiring detection information from multiple automatic optical detection devices for the detected products detected by each automatic optical detection device, which includes detection parameters related to the detected products, requirements for detection parameters, and picture sets containing the pictures of the detected products that do not meet the requirements; and based on the pictures from each automatic optical detection device. Chip set, modifying the requirements of the detection parameters on the corresponding automatic optical testing equipment; and sending the respective requirements of the modified detection parameters to multiple automatic optical testing equipment. The method of the invention can reduce the time of occupying AOI equipment, thereby improving the production efficiency.

【技术实现步骤摘要】
用于监控多个自动光学检测设备的方法及其装置
本专利技术的实施例涉及设备监控技术，尤其涉及用于监控多个自动光学检测设备的方法及其装置。
技术介绍
自动光学检测设备(AOI-AutomatedOpticalInspection)可应用于具有表面贴装技术(SMT-SurfaceMountedTechnology)的生产线，以检测生产线上的印刷线路板(PCB-PrintedCircuitBoard)的贴装质量以及焊点质量。这样，可以在装配过程的早期及时发现有缺陷的PCB，避免将有缺陷的PCB送到装配过程的后期。因此，可以有效地减少由于缺陷造成的成本损失。由于获得的检测结果只能在AOI设备上进行查看，因此AOI设备的用户不能实时查看所有AOI设备所获得的检测结果。尤其是对于错误的检测结果，用户无法及时做出响应，从而影响了生产效率。使用AOI设备对产品进行检测时，需要在AOI设备上配置产品的检测参数以及该检测参数应当满足的要求。该要求可用于判断AOI设备上被检测的产品是否合格。然而，当AOI设备发生误测时，需要在AOI设备上修改检测参数的要求，以降低误测率。由于检测参数的要求的修改需要在AOI设备上进行，因此占用了AOI设备，导致AOI设备不能检测产品，从而影响生产的效率。
技术实现思路
针对现有技术中存在的问题，本专利技术的实施例提供了一种用于监控多个自动光学检测设备的方法及其装置，能够减少占用AOI设备的时间，从而提高生产效率。根据本专利技术的一个方面，提供了一种用于监控多个自动光学检测设备的方法。该方法包括：分别从所述多个自动光学检测设备获取针对由各个自动光学检测设备检测的被检测产品的检测信息，所述检测信息包括与所述被检测产品有关的检测参数、所述检测参数的要求、以及包含不满足所述要求的被检测产品的图片的图片集；基于来自各个自动光学检测设备的所述图片集，修改对应的自动光学检测设备上的所述检测参数的要求；以及向所述多个自动光学检测设备发送各自的修改后的所述检测参数的要求。在本专利技术的实施例中，所述图片集包括表示不满足所述要求但被确认为合格的被检测产品的误测图片和表示不满足所述要求且被确认为不合格的被检测产品的缺陷图片。在本专利技术的实施例中，基于所述图片集修改所述检测参数的要求包括：对所述图片集中的图片进行处理，以获得所述检测参数的修正值；以及基于所述修正值，修改所述检测参数的要求。在本专利技术的实施例中，所述检测信息还包括：所述自动光学检测设备的状态信息、所述被检测产品的名称、用于唯一标识所述被检测产品的标识信息、所述被检测产品的检测时间、所述被检测产品的检测结果、指示所述被检测产品是否被误测为不合格产品的误测信息以及所述被检测产品的直通率。在本专利技术的实施例中，所述方法还包括：显示所述检测信息中的所述状态信息、所述被检测产品的名称和所述被检测产品的直通率。在本专利技术的实施例中，定期或响应于用户的输入来执行所述检测信息的获取。根据本专利技术的另一个方面，提供了一种用于监控多个自动光学检测设备的装置。该装置包括：一个或多个处理器；存储器，其与所述处理器耦接，并存储有计算机程序指令。所述计算机程序指令在被所述处理器执行时使得所述装置：分别从所述多个自动光学检测设备获取各个针对由该自动光学检测设备检测的被检测产品的检测信息，所述检测信息包括与所述被检测产品有关的检测参数、所述检测参数的要求、以及包含不满足所述要求的被检测产品的图片的图片集；基于来自各个自动光学检测设备的所述图片集，修改对应的自动光学检测设备上的所述检测参数的要求；以及向所述多个自动光学检测设备发送各自的修改后的所述检测参数的要求。在本专利技术的实施例中，所述检测信息还包括：所述自动光学检测设备的状态信息、所述被检测产品的名称、用于唯一标识所述被检测产品的标识信息、所述被检测产品的检测时间、所述被检测产品的检测结果、指示所述被检测产品是否被误测为不合格产品的误测信息以及所述被检测产品的直通率。在本专利技术的实施例中，所述装置还包括显示单元。所述显示单元用于显示所述检测信息中的所述状态信息、所述被检测产品的名称和所述被检测产品的直通率。根据本专利技术的再一个方面，提供了一种存储有计算机程序的计算机可读存储介质。所述计算机程序在由处理器执行时实现上述的用于监控多个自动光学检测设备的方法的步骤。根据本专利技术的实施例，通过用于监控多个自动光学检测设备的方法及其装置，可以不在AOI设备上修改检测参数的要求，能够减少占用AOI设备的时间，提高生产效率。适应性的进一步的方面和范围从本文中提供的描述变得明显。应当理解，本申请的各个方面可以单独或者与一个或多个其他方面组合实施。还应当理解，本文中的描述和特定实施例旨在仅说明的目的并不旨在限制本申请的范围。附图说明本文中描述的附图用于仅对所选择的实施例的说明的目的，并不是所有可能的实施方式，并且不旨在限制本申请的范围，其中：图1示出了在其中实施根据本专利技术的实施例的用于监控多个AOI设备的方法的系统的示意图；图2示出了根据本专利技术的实施例的用于监控多个自动光学检测设备的方法的流程图；图3示出了根据本专利技术的另一个实施例的用于监控多个自动光学检测设备的方法的流程图；图4示出了根据本专利技术的实施例的用于监控多个自动光学检测设备的装置的示意图。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例的附图，对本专利技术实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本专利技术的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术的实施例。需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例中的特征可以相互组合。自动光学检测设备(AOI设备)可通过安装在其上的照相机来拍摄产品的图片，其中，产品和产品的图片具有一一对应的关系。首先，AOI设备对所拍摄的产品的图片进行灰度二值化处理，以获得该产品上各个元件的检测参数以及检测参数的值。然后，确定各个检测参数的值是否符合各自的检测参数的要求。如果所有检测参数的值均符合对应的检测参数的要求，则AOI设备确定该产品是合格的；如果任意一个检测参数的值不符合其对应的检测参数的要求，则AOI设备确定该产品是有缺陷的。图1示出了在其中实施根据本专利技术的实施例的用于监控多个AOI设备的方法的系统100的示意图。系统100可以包括AOI设备102-1、102-2…102-N、以及位于远程的监控装置104。AOI设备102-1、102-2…102-N中的每一个可通过有线连接或者无线连接的方式与监控装置104进行通信。AOI设备102-1、102-2…102-N可以安装在具有不同被检测产品的不同生产线上，以检测不同生产线上的产品。对于每一个AOI设备，可分别根据其要检测的产品来配置被检测产品的检测参数以及检测参数的要求。其中，检测参数可以包括被检测产品(诸如PCB)上的各个元件(诸如电容、二极管以及其它元件)的位置、亮度、对比度以及其它检测参数。检测参数的要求包括该位置所要求的坐标的范围、该亮度所要求的范围、该对比度所要求的范围以及其它检测参数所要求的范围。如上所述，AOI设备可以本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于监控多个自动光学检测设备的方法，包括：分别从所述多个自动光学检测设备获取针对由各个自动光学检测设备检测的被检测产品的检测信息，所述检测信息包括与所述被检测产品有关的检测参数、所述检测参数的要求、以及包含不满足所述要求的被检测产品的图片的图片集；基于来自各个自动光学检测设备的所述图片集，修改对应的自动光学检测设备上的所述检测参数的要求；以及向所述多个自动光学检测设备发送各自的修改后的所述检测参数的要求。

【技术特征摘要】
1.一种用于监控多个自动光学检测设备的方法，包括：分别从所述多个自动光学检测设备获取针对由各个自动光学检测设备检测的被检测产品的检测信息，所述检测信息包括与所述被检测产品有关的检测参数、所述检测参数的要求、以及包含不满足所述要求的被检测产品的图片的图片集；基于来自各个自动光学检测设备的所述图片集，修改对应的自动光学检测设备上的所述检测参数的要求；以及向所述多个自动光学检测设备发送各自的修改后的所述检测参数的要求。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述图片集包括表示不满足所述要求但被确认为合格的被检测产品的误测图片和表示不满足所述要求且被确认为不合格的被检测产品的缺陷图片。3.根据权利要求2所述的方法，其中，基于所述图片集修改所述检测参数的要求包括：对所述图片集中的图片进行处理，以获得所述检测参数的修正值；以及基于所述修正值，修改所述检测参数的要求。4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述检测信息还包括：所述自动光学检测设备的状态信息、所述被检测产品的名称、用于唯一标识所述被检测产品的标识信息、所述被检测产品的检测时间、所述被检测产品的检测结果、指示所述被检测产品是否被误测为不合格产品的误测信息以及所述被检测产品的直通率。5.根据权利要求4所述的方法，所述方法还包括：显示所述检测信息中的所述状态信息、所述被检测产品的名称和所述被检测产品的直通率。6.根据权利要求1所述的方法，其中，定期或响应于用户的输入来执行所述检测信息的获取。7.一种用于监控多个自动光学检测设备的装置，包括：一个或多个处理器；存储器，...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐顺顺，
申请(专利权)人：大陆泰密克汽车系统上海有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31