【技术实现步骤摘要】
一种电子器件湿热环境下的加速寿命预测方法
本专利技术属于电子器件寿命预测领域，具体涉及一种电子器件湿热环境下的加速寿命预测方法。
技术介绍
随着电子器件高度集成化和微小化，器件的用途越来越广泛，与之相应的结构也越来越复杂。设备的使用环境不同，器件的失效机理也各有各的不同，对具体器件的失效机理进行研究时，通过在非正常工作状态下的替代性试验方法和试验数据来“预测”产品的寿命，这就是加速寿命试验方法。短时间内对产品施加高于普通环境的外界压力(应力、高温、高腐蚀性等)可以使产品加速失效，然后基于收集到的失效数据，经过分析计算，达到对正常工作状态下的产品的可靠性进行评估的目的。复杂的环境中，器件所受到的应力也多样化，致使器件受损的也将不仅仅是温度，湿度、电应力、牵引力也将对电子器件的寿命造成很大的影响。影响电子器件寿命的因素中，温度和湿度占据最主要的部分，分析单一因素无法对复杂环境下的寿命模型进行准确预测。同时考虑两种应力对电子器件寿命的影响不仅可以解决绝大部分环境下器件寿命预测的问题，也可以举一反三，对其余环境下的器件寿命进行较为准确地建模和分析。
技术实现思路
针对现有技术...
【技术保护点】
1.一种电子器件湿热环境下的加速寿命预测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、分析电子器件湿热贮存环境，整理试验数据；S2、建立电子器件湿热环境下的加速寿命模型，并验证其准确性；S3、推导湿热环境下的电子器件加速寿命及模型中的相关参数；S4、求解湿热环境下电子器件的平均寿命，绘制寿命趋势图。
【技术特征摘要】
1.一种电子器件湿热环境下的加速寿命预测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、分析电子器件湿热贮存环境，整理试验数据；S2、建立电子器件湿热环境下的加速寿命模型，并验证其准确性；S3、推导湿热环境下的电子器件加速寿命及模型中的相关参数；S4、求解湿热环境下电子器件的平均寿命，绘制寿命趋势图。2.根据权利要求1所述的电子器件湿热环境下的加速寿命预测方法，其特征在于，所述步骤S1中的试验数据为电子器件湿热加速寿命。3.根据权利要求1所述的电子器件湿热环境下的加速寿命预测方法，其特征在于，所述步骤S2具体包括：S21、确定单因素下电子器件加速寿命模型，所述加速寿命模型包括Arrhenius模型和Eyring模型；Arrhenius模型是基于...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄洪钟，曾颖，黄土地，李彦锋，郭骏宇，黄承赓，余奥迪，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：四川,51
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