【技术实现步骤摘要】
一种光电探测综合实验仪的保护结构
本专利技术涉及的是物理测试仪器相关的
，具体涉及的是一种光电探测综合实验仪的保护结构。
技术介绍
光电探测综合试验仪作为光电探测最常用的实验仪器在日常操作的操作过程中整体的使用寿命较为短暂，其主要的原因是在运输或者携带的过程中产生的震动会导致其内部的感应设备出现损坏，为了解决这一问题目前通行的办法是在盒体的内部嵌入安装有用于固定的光电探测综合试验仪的泡沫垫层，但是此种办法却无法从根本上结局因震动所导致的损坏。
技术实现思路
本专利技术目的是提供一种光电探测综合实验仪的保护结构，它能有效地解决
技术介绍
中所存在的问题。为了解决
技术介绍
中所存在的问题，它包含光电探测综合试验仪本体1和用于保护光电探测综合试验仪本体1的保护盒2，所述保护盒2整体为上顶面处设置有开口的长方体结构，该保护盒2开口处的一侧安装有可以与其转动并盖扣配合的上盖3；所述光电探测综合试验仪本体1两侧面处的端部分别固定有定位轴4；所述光电探测综合试验仪本体1的两端镜像设置有保护支架，所述的保护支架包含定位板5，该定位板5整体为V字形结构，所述定位板5的底部开设有供定位轴...
【技术保护点】
1.一种光电探测综合实验仪的保护结构，其特征在于它包含光电探测综合试验仪本体(1)和用于保护光电探测综合试验仪本体(1)的保护盒(2)，所述保护盒(2)整体为上顶面处设置有开口的长方体结构，该保护盒(2)开口处的一侧安装有可以与其转动并盖扣配合的上盖(3)；所述光电探测综合试验仪本体(1)两侧面处的端部分别固定有定位轴(4)；所述光电探测综合试验仪本体(1)的两端镜像设置有保护支架，所述的保护支架包含定位板(5)，该定位板(5)整体为V字形结构，所述定位板(5)的底部开设有供定位轴(4)间隙滑动的定位滑槽(6)，位于同一端的两个定位板(5)之间设置有定位轴杆(7)，所述定位...
【技术特征摘要】
1.一种光电探测综合实验仪的保护结构，其特征在于它包含光电探测综合试验仪本体(1)和用于保护光电探测综合试验仪本体(1)的保护盒(2)，所述保护盒(2)整体为上顶面处设置有开口的长方体结构，该保护盒(2)开口处的一侧安装有可以与其转动并盖扣配合的上盖(3)；所述光电探测综合试验仪本体(1)两侧面处的端部分别固定有定位轴(4)；所述光电探测综合试验仪本体(1)的两端镜像设置有保护支架，所述的保护支架包含定位板(5)，该定位板(5)整体为V字形结构，所述定位板(5)的底部开设有供定位轴(4)间隙滑动的定位滑槽(6)，位于同一端的两个定位板(5)之间设置有定位轴杆(7)，所述定位轴杆(7)的端部延伸出定位板(5)；所述保护盒(2)顶部的四角处分别贯通开设有供定位板(5)间隙插入的第一导向滑槽(8)；所述保护盒(2)的四角处分别安装有用于固定定位轴杆(7)的定...
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