一种光电探测综合实验仪的保护结构制造技术

本发明专利技术公开了一种光电探测综合实验仪的保护结构，它包含光电探测综合试验仪本体(1)和用于保护光电探测综合试验仪本体(1)的保护盒(2)，所述保护盒(2)整体为上顶面处设置有开口的长方体结构，该保护盒(2)开口处的一侧安装有可以与其转动并盖扣配合的上盖(3)；所述光电探测综合试验仪本体(1)两侧面处的端部分别固定有定位轴(4)。本发明专利技术结构简单，在不影响整体使用效果的前提下通过缓冲减震的办法能够有效的降低在运输或者携带过程中对光电探测综合试验仪本体的垂直方向和水平方向的震动。

【技术实现步骤摘要】
一种光电探测综合实验仪的保护结构
本专利技术涉及的是物理测试仪器相关的
，具体涉及的是一种光电探测综合实验仪的保护结构。
技术介绍
光电探测综合试验仪作为光电探测最常用的实验仪器在日常操作的操作过程中整体的使用寿命较为短暂，其主要的原因是在运输或者携带的过程中产生的震动会导致其内部的感应设备出现损坏，为了解决这一问题目前通行的办法是在盒体的内部嵌入安装有用于固定的光电探测综合试验仪的泡沫垫层，但是此种办法却无法从根本上结局因震动所导致的损坏。
技术实现思路
本专利技术目的是提供一种光电探测综合实验仪的保护结构，它能有效地解决
技术介绍
中所存在的问题。为了解决
技术介绍
中所存在的问题，它包含光电探测综合试验仪本体1和用于保护光电探测综合试验仪本体1的保护盒2，所述保护盒2整体为上顶面处设置有开口的长方体结构，该保护盒2开口处的一侧安装有可以与其转动并盖扣配合的上盖3；所述光电探测综合试验仪本体1两侧面处的端部分别固定有定位轴4；所述光电探测综合试验仪本体1的两端镜像设置有保护支架，所述的保护支架包含定位板5，该定位板5整体为V字形结构，所述定位板5的底部开设有供定位轴4间隙滑动的定位滑槽6，位于同一端的两个定位板5之间设置有定位轴杆7，所述定位轴杆7的端部延伸出定位板5；所述保护盒2顶部的四角处分别贯通开设有供定位板5间隙插入的第一导向滑槽8；所述保护盒2的四角处分别安装有用于固定定位轴杆7的定位钩10，该定位钩10的开口位置为朝下设置。所述保护盒2内部的两侧面处分别设置有可贴和其内壁处滑动的减震板9，所述保护盒2的两端开设有供减震板9间隙滑动的导向滑槽21，所述减震板9上顶面处的两端分别开设有供定位轴杆7间隙插入的定位插槽91，所述减震板9底部边沿处的两端分别垂直固定有弹簧座92，该弹簧座92上固定有弹簧93，所述弹簧3的下端顶在保护盒2的底板上。所述光电探测综合试验仪本体1的两端分别固定有防撞泡沫垫12。所述定位轴4的端部设置有可以与定位套11旋接配合的外螺纹。由于采用了以上技术方案，本专利技术具有以下有益效果：结构简单，在不影响整体使用效果的前提下通过缓冲减震的办法能够有效的降低在运输或者携带过程中对光电探测综合试验仪本体的垂直方向和水平方向的震动。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术的分解结构示意图；图2是本专利技术中光电探测综合试验仪本体完全位于保护盒内的结构示意图；图3是本专利技术中光电探测综合试验仪本体打开过程中的示意图；图4是本专利技术中光电探测综合试验仪本体完全打开后的结构示意图。具体实施方式为了使本专利技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。参看图1-4，本具体实施方式是采用以下技术方案予以实现，它包含光电探测综合试验仪本体1和用于保护光电探测综合试验仪本体1的保护盒2，所述保护盒2整体为上顶面处设置有开口的长方体结构，该保护盒2开口处的一侧安装有可以与其转动并盖扣配合的上盖3；所述光电探测综合试验仪本体1两侧面处的端部分别固定有定位轴4；所述光电探测综合试验仪本体1的两端镜像设置有保护支架，所述的保护支架包含定位板5，该定位板5整体为V字形结构，所述定位板5的底部开设有供定位轴4间隙滑动的定位滑槽6，位于同一端的两个定位板5之间设置有定位轴杆7，所述定位轴杆7的端部延伸出定位板5；所述保护盒2顶部的四角处分别贯通开设有供定位板5间隙插入的第一导向滑槽8；所述保护盒2的四角处分别安装有用于固定定位轴杆7的定位钩10，该定位钩10的开口位置为朝下设置。所述保护盒2内部的两侧面处分别设置有可贴和其内壁处滑动的减震板9，所述保护盒2的两端开设有供减震板9间隙滑动的导向滑槽21，所述减震板9上顶面处的两端分别开设有供定位轴杆7间隙插入的定位插槽91，所述减震板9底部边沿处的两端分别垂直固定有弹簧座92，该弹簧座92上固定有弹簧93，所述弹簧3的下端顶在保护盒2的底板上。所述光电探测综合试验仪本体1的两端分别固定有防撞泡沫垫12。所述定位轴4的端部设置有可以与定位套11旋接配合的外螺纹。下面结合附图对本具体实施方式中技术方案部分的使用方法及其原理作进一步的阐述：打开时，首先将保护盒2向上翻开，操作者双手握住定位轴杆7上提，当定位轴杆7完全越出保护盒2后，接着将定位轴杆7向外拉并下压，由于定位板5整体为V字形结构，在外拉和下压的过程中始终以定位板5的中部为圆心作翻转的动作，直至将整个光电探测综合试验仪本体1带出保护盒2，接着将定位轴杆7扣入到定位钩10内，当双手离开定位轴杆7后，在光电探测综合试验仪本体1的下压重力的作用下定位轴杆7自动的顶在定位钩10的内侧，从而实现锁定的目的，在此状态下即可实现操作的目的；收纳时，首先使定位轴杆7完全越出定位钩10，接将定位轴杆7的端部插入到定位插槽91内即可，最后关闭上上盖3即可，上盖3完全关闭后，上盖3的的边沿处则自动闭合定位插槽91的上端，从而实现杜绝定位轴杆7越出定位插槽91的可能；当出现垂直方向的震动或者晃动时，可通过两个独立的减震板9借助弹簧93实现缓冲减震的目的；当出现水平方向的震动或者晃动时，光电探测综合试验仪本体1可在保护盒2内自由的摆动并配合防撞泡沫垫12实现缓冲减震的目的；当光电探测综合试验仪本体1需要单独使用或者操作时，将光电探测综合试验仪本体1完全从保护盒2内抽出，将两个定位轴杆7分别翻转至光电探测综合试验仪本体1的下方，接着将各个定位套11旋紧，在此状态下定位轴杆7可以兼做支撑的底脚，且两个定位轴杆7可以呈八字形固定布置，大大的提高了水平放置在桌面上的稳定性。最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本专利技术的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本专利技术进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本专利技术各实施例技术方案的精神和范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光电探测综合实验仪的保护结构，其特征在于它包含光电探测综合试验仪本体(1)和用于保护光电探测综合试验仪本体(1)的保护盒(2)，所述保护盒(2)整体为上顶面处设置有开口的长方体结构，该保护盒(2)开口处的一侧安装有可以与其转动并盖扣配合的上盖(3)；所述光电探测综合试验仪本体(1)两侧面处的端部分别固定有定位轴(4)；所述光电探测综合试验仪本体(1)的两端镜像设置有保护支架，所述的保护支架包含定位板(5)，该定位板(5)整体为V字形结构，所述定位板(5)的底部开设有供定位轴(4)间隙滑动的定位滑槽(6)，位于同一端的两个定位板(5)之间设置有定位轴杆(7)，所述定位轴杆(7)的端部延伸出定位板(5)；所述保护盒(2)顶部的四角处分别贯通开设有供定位板(5)间隙插入的第一导向滑槽(8)；所述保护盒(2)的四角处分别安装有用于固定定位轴杆(7)的定位钩(10)，该定位钩(10)的开口位置为朝下设置。

【技术特征摘要】
1.一种光电探测综合实验仪的保护结构，其特征在于它包含光电探测综合试验仪本体(1)和用于保护光电探测综合试验仪本体(1)的保护盒(2)，所述保护盒(2)整体为上顶面处设置有开口的长方体结构，该保护盒(2)开口处的一侧安装有可以与其转动并盖扣配合的上盖(3)；所述光电探测综合试验仪本体(1)两侧面处的端部分别固定有定位轴(4)；所述光电探测综合试验仪本体(1)的两端镜像设置有保护支架，所述的保护支架包含定位板(5)，该定位板(5)整体为V字形结构，所述定位板(5)的底部开设有供定位轴(4)间隙滑动的定位滑槽(6)，位于同一端的两个定位板(5)之间设置有定位轴杆(7)，所述定位轴杆(7)的端部延伸出定位板(5)；所述保护盒(2)顶部的四角处分别贯通开设有供定位板(5)间隙插入的第一导向滑槽(8)；所述保护盒(2)的四角处分别安装有用于固定定位轴杆(7)的定...

【专利技术属性】
技术研发人员：白雅，
申请(专利权)人：长安大学，
类型：发明
国别省市：陕西,61