半导体激光器自动功能测试系统技术方案

一种半导体激光器自动功能测试系统，包括：工作台；光功率检测组件，光功率检测组件包括光功率计探头、及功率采集器；光功率计探头根据激光光线的功率而产生相应的功率电信号功率采集器对功率电信号采集；光谱检测组件，光谱检测组件包括光谱导光光纤、及与光谱导光光纤耦合的光谱仪；驱动电源，用于向半导体激光器输出电流；及数据处理装置，光谱仪将光谱检测数据输出至数据处理装置；数据处理装置对驱动电源的输出电流进行控制。通过数据处理装置控制驱动电源的输出电流，使半导体激光器的通过电流按预定规律进行变化，结合光功率检测组件及光谱检测组件的检测数据，从而可自动地计算出半导体激光器的光功率电流特性曲线及光谱电流特性曲线。

【技术实现步骤摘要】
半导体激光器自动功能测试系统
本技术涉及半导体激光器测试技术，特别是涉及一种半导体激光器自动功能测试系统。
技术介绍
半导体激光管具有体积小、效率高、使用方便等特点，因而得到了广泛的应用。根据半导体激光管的特性可知，半导体激光管输出光功率和光谱随激光管的驱动电流大小和工作温度的变化而变化。为向用户提供半导体激光器的完整信息，半导体激光器在开发或生产阶段需要进行功率电流特性的测试以及光谱特性的测试；然而，传统的技术方案一般通过人工调节电流及进行光功率、光谱信息记录，导致半导体激光器的光功率电流特性测试及光谱电流特性测试的效率较低。
技术实现思路
基于此，有必要针对半导体激光器功率的电流特性测试及谱电流特性测试的效率较低的问题，提供一种半导体激光器自动功能测试系统。一种半导体激光器自动功能测试系统，包括：工作台；光功率检测组件，用于对半导体激光器输出的光功率进行检测；所述光功率检测组件包括安装在所述工作台上光功率计探头、及功率采集器；所述光功率计探头根据所述半导体激光器发出的激光光线的功率而产生相应的功率电信号，并输出至所述功率采集器；所述功率采集器对功率电信号进行采集；光谱检测组件，用于对所述半导体激光器输出的激光的光谱进行检测；所述光谱检测组件包括光谱导光光纤、及与所述光谱导光光纤耦合的光谱仪；所述光谱导光光纤的输入端设置在所述工作台上，且与所述光功率计探头对应设置；驱动电源，用于向所述半导体激光器输出电流；及数据处理装置，所述光谱仪将光谱检测数据输出至所述数据处理装置；所述功率采集器将功率电信号输出至所述数据处理装置；所述数据处理装置对所述驱动电源的输出电流进行控制。上述半导体激光器自动功能测试系统，通过数据处理装置控制驱动电源的输出电流，使半导体激光器的通过电流按预定规律进行变化，结合光功率检测组件及光谱检测组件的检测数据，从而可自动地计算出半导体激光器的光功率电流特性曲线及光谱电流特性曲线。在其中一个实施例中，所述光功率计探头包括安装在所述工作台上的检测主体；所述检测主体包括外壳、及设置在所述外壳内的探测模组；所述外壳上设有进光口；所述探测模组设有感应部；所述探测模组的感应部与所述外壳的进光口对应；所述光谱导光光纤的输入端与所述进光口对应设置。在其中一个实施例中，所述光功率计探头还包括连接所述外壳的夹持座；所述夹持座上设有容纳槽；所述容纳槽与所述进光口对应设置。在其中一个实施例中，所述夹持座包括连接所述外壳的第一延伸板、连接所述第一延伸板的第二延伸板、及连接所述第二延伸板的导向块。在其中一个实施例中，所述光谱检测组件还包括第二支撑架，所述光谱导光光纤通过所述第二支撑架安装在所述工作台上；所述光谱检测组件还包括安装在所述第二支撑架上的衰减片；所述衰减片与所述光谱导光光纤的端口对应设置。在其中一个实施例中，还包括光斑检测组件，所述光斑检测组件包括监测相机，所述监测相机安装在所述工作台上，所述监测相机的摄像口与所述探测模组的感应部对应。在其中一个实施例中，还包括温控组件，所述温控组件包括用于承载半导体激光器的温度调节器，及连接所述温度调节器的调节驱动器，所述调节驱动器对所述温度调节器的通过电流大小及电流方向进行控制。在其中一个实施例中，还包括安装在所述工作台上的隔离座、设置在所述隔离座一侧的第四支撑架、与所述第四支撑架滑动连接的引导块、连接所述第四支撑架的手柄组件、穿设在所述第四支撑架上的推杆、若干穿设在所述引导块上的导向柱、连接所述导向柱的压板、及套设在所述导向柱上的弹簧件；所述引导块与所述推杆的下端连接，所述手柄组件与所述推杆的上端连接；所述弹簧件设置在所述引导块与所述压板之间；所述温度调节器安装在所述隔离座上。在其中一个实施例中，所述工作台上设有光纤固定架，所述光纤固定架包括连接所述工作台的底柱、连接所述底柱的支撑板、及设置在所述支撑板上的光纤夹；所述支撑板相对所述工作台表面的高度与所述光功率计探头对应设置。在其中一个实施例中，所述工作台上设有挡光箱，所述挡光箱包括若干相互连接的侧板、及翻盖；所述侧板竖直设置在所述工作台上，所述翻盖与其中一所述侧板连接；所述光功率计探头、所述光谱导光光纤的输入端、及所述半导体激光器设置在所述挡光箱中。附图说明图1为本技术的一较佳实施例的半导体激光器自动功能测试系统的立体示意图；图2为图1所示的半导体激光器自动功能测试装置在另一角度的立体示意图；图3为图1所示的半导体激光器自动功能测试装置的结构示意图；图4为光功率计探头、光谱导光光纤及固定夹具安装到工作台上后的立体示意图；图5为光功率计探头、光谱导光光纤及固定夹具安装到工作台上后在另一角度的立体示意图；图6为图3所示的光功率计探头的立体示意图；图7为图6所示的光功率计探头的圆圈A处的放大图；图8为监测相机与光功率计探头的配合关系图；图9为图1所示的半导体激光器自动功能测试系统加入挡光箱后的立体示意图。具体实施方式为了便于理解本技术，下面将对本技术进行更全面的描述。但是，本技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本技术的公开内容的理解更加透彻全面。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。请参阅图1至图9，为本技术一较佳实施方式的半导体激光器自动功能测试系统100，用于自动检测并生成半导体激光器的功率电流特性测试及谱电流特性曲线。该半导体激光器自动功能测试系统100包括工作台10；光功率检测组件20，用于对半导体激光器900输出的光功率进行检测；该光功率检测组件20包括安装在工作台10上光功率计探头21、及功率采集器22；光功率计探头21根据半导体激光器900发出的激光光线的功率而产生相应的功率电信号，并输出至功率采集器22；功率采集器22对功率电信号进行采集；光谱检测组件30，用于对半导体激光器900输出的激光的光谱进行检测；光谱检测组件30包括光谱导光光纤31、及与光谱导光光纤31耦合的光谱仪32；光谱导光光纤31的输入端设置在工作台10上，且与光功率计探头21对应设置；驱动电源40，用于向半导体激光器900输出电流；及数据处理装置50，光谱仪32将光谱检测数据输出至数据处理装置50；功率采集器22将功率电信号输出至数据处理装置50；数据处理装置50对驱动电源40的输出电流进行控制；通过数据处理装置50控制驱动电源40的输出电流，使半导体激光器900的通过电流按预定规律进行变化，结合光功率检测组件20及光谱检测组件30的检测数据，从而可自动地计算出半导体激光器900的光功率电流特性曲线及光谱电流特性曲线。请参阅图6至图8，在其中一个实施方式中，为实现光谱导光光纤31与半导体激光器900输出激光的耦合，光功率计探头21包括安装在工作台10上的检测主体23；检测主体23包括外壳231、及设置在外壳231内的探测模组232；外壳231上设有进光口233；探测模组232设有感应部234；探测模组232的感应部234与外壳231的进光口233对应；光谱导光光纤31的输入端本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体激光器自动功能测试系统，其特征在于，包括：工作台；光功率检测组件，用于对半导体激光器输出的光功率进行检测；所述光功率检测组件包括安装在所述工作台上光功率计探头、及功率采集器；所述光功率计探头根据所述半导体激光器发出的激光光线的功率而产生相应的功率电信号，并输出至所述功率采集器；所述功率采集器对功率电信号进行采集；光谱检测组件，用于对所述半导体激光器输出的激光的光谱进行检测；所述光谱检测组件包括光谱导光光纤、及与所述光谱导光光纤耦合的光谱仪；所述光谱导光光纤的输入端设置在所述工作台上，且与所述光功率计探头对应设置；驱动电源，用于向所述半导体激光器输出电流；及数据处理装置，所述光谱仪将光谱检测数据输出至所述数据处理装置；所述功率采集器将功率电信号输出至所述数据处理装置；所述数据处理装置对所述驱动电源的输出电流进行控制。

【技术特征摘要】
1.一种半导体激光器自动功能测试系统，其特征在于，包括：工作台；光功率检测组件，用于对半导体激光器输出的光功率进行检测；所述光功率检测组件包括安装在所述工作台上光功率计探头、及功率采集器；所述光功率计探头根据所述半导体激光器发出的激光光线的功率而产生相应的功率电信号，并输出至所述功率采集器；所述功率采集器对功率电信号进行采集；光谱检测组件，用于对所述半导体激光器输出的激光的光谱进行检测；所述光谱检测组件包括光谱导光光纤、及与所述光谱导光光纤耦合的光谱仪；所述光谱导光光纤的输入端设置在所述工作台上，且与所述光功率计探头对应设置；驱动电源，用于向所述半导体激光器输出电流；及数据处理装置，所述光谱仪将光谱检测数据输出至所述数据处理装置；所述功率采集器将功率电信号输出至所述数据处理装置；所述数据处理装置对所述驱动电源的输出电流进行控制。2.根据权利要求1所述的半导体激光器自动功能测试系统，其特征在于，所述光功率计探头包括安装在所述工作台上的检测主体；所述检测主体包括外壳、及设置在所述外壳内的探测模组；所述外壳上设有进光口；所述探测模组设有感应部；所述探测模组的感应部与所述外壳的进光口对应；所述光谱导光光纤的输入端与所述进光口对应设置。3.根据权利要求2所述的半导体激光器自动功能测试系统，其特征在于，所述光功率计探头还包括连接所述外壳的夹持座；所述夹持座上设有容纳槽；所述容纳槽与所述进光口对应设置。4.根据权利要求3所述的半导体激光器自动功能测试系统，其特征在于，所述夹持座包括连接所述外壳的第一延伸板、连接所述第一延伸板的第二延伸板、及连接所述第二延伸板的导向块。5.根据权利要求2所述的半导体激光器自动功能测试系统，其特征在于，所述光谱检测组件还包括第二支撑架，所述光谱导光光纤通过所述第二支撑架安装在...

【专利技术属性】
技术研发人员：文少剑，刘猛，黄海翔，廖东升，董晓东，
申请(专利权)人：深圳市杰普特光电股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44