力学检测设备及采用该力学检测设备的检测方法技术

本发明专利技术提供一种力学检测设备及采用该力学检测设备的检测方法。该设备包括：承载体，配置有至少两个检测标记，至少两个检测标记的中心点位于沿第一方向的直线上；第一力学检测仪，通过第一连接轴能够与第一待检测施力元件相连接，用于检测所述第一待检测施力元件对所述第一连接轴所施加的沿所述第一连接轴的轴向方向上的作用力；其中第一连接轴的轴心上设置有通孔，所述第一连接轴的轴向方向平行于所述第一方向；光发射仪，能够通过第一连接轴上的通孔朝所述第一待检测施力元件发射光束；图像采集元件，用于获取包括至少两个所述检测标记的图像信息。该设备能够保证用于校准的标准力学推拉计的受力中心与施力元件的施力中心位于同一水平直线。

【技术实现步骤摘要】
力学检测设备及采用该力学检测设备的检测方法
本专利技术涉及检测
，尤其是指一种力学检测设备及采用该力学检测设备的检测方法。
技术介绍
在有机发光二极管(OrganicLight-EmittingDiode,OLED)显示器(又称为有机电激光显示器)的制造过程中，采用掩膜板进行材料蒸镀为必不可少的工艺过程。掩膜板在制作时，如图1所示，需要通过抓取件1对金属掩膜板2进行相对拉伸，同时通过抵压件3对支撑框架4进行预压变形，以适应金属掩膜板2安装于支撑框架4上时由于张网拉力造成的内缩，只有抓取件1对金属掩膜板2的拉伸力与抵压件3对支撑框架4的抵压力两者之间准确配合，才能够保证张网的精度。一般而言，为保证足够的张网精度，抓取件1的拉力精度需控制在±0.1N；抵压件3和压力精度需控制在±0.3N。现有技术为保证抓取件1和抵压件3能够达到上述施力精度，通常采用标准力学推拉计进行校准。上述利用标准力学推拉计对抓取件1和抵压件3的施力精度进行校准的过程，需要保证标准力学推拉计的受力中心与抓取件1和抵压件3的施力中心分别位于同一水平直线，然而现有技术的校准方式却很难满足该一要求。
技术实现思路
本专利技术技术方案的目的是提供一种力学检测设备及采用该力学检测设备的检测方法，用于解决现有技术对施力元件的施力精度进行校准时，很难保证用于校准的标准力学推拉计的受力中心与施力元件的施力中心位于同一水平直线的问题。本专利技术实施例提供一种力学检测设备，其中，包括：承载体，所述承载体上配置有至少两个检测标记，且所述至少两个检测标记的中心点位于沿第一方向的直线上；设置于所述承载体上的第一力学检测仪，通过第一连接轴能够与第一待检测施力元件相连接，用于检测所述第一待检测施力元件对所述第一连接轴所施加的沿所述第一连接轴的轴向方向上的作用力；其中所述第一连接轴的轴心上设置有通孔，所述第一连接轴的轴向方向平行于所述第一方向；设置于所述承载体上的光发射仪，能够通过所述第一连接轴上的通孔朝所述第一待检测施力元件发射光束；图像采集元件，位于所述承载体的上方，用于获取包括至少两个所述检测标记的图像信息。可选地，所述的力学检测设备，其中，所述力学检测设备还包括：处理器，用于根据所述图像信息，获取所述至少两个检测标记的中心点相对于预设坐标原点的相对位置坐标，根据所述相对位置坐标发出位置调整信号；坐标调节装置，所述承载体设置于所述坐标调节装置上，所述坐标调节装置被配置为能够获取所述位置调整信号，根据所述位置调整信号调节所述承载体的位置，使所述至少两个检测标记的中心点位于一水平直线上，且每一所述检测标记的中心点相对于所述预设坐标原点分别位于预设坐标位置。可选地，所述的力学检测设备，其中，所述力学检测设备还包括：设置于所述承载体上的第二力学检测仪，通过第二连接轴能够与第二待检测施力元件相连接，用于检测所述第二待检测施力元件对所述第二连接轴所施加的沿所述第二连接轴的轴向方向上的作用力；其中所述第二连接轴的轴心上设置有通孔，所述第二连接轴的轴向方向平行于所述第一方向；其中，所述光发射仪还能够通过所述第二连接轴上的通孔朝所述第二待检测施力元件发射光束。可选地，所述的力学检测设备，其中，所述第一力学检测仪和所述第二力学检测仪位于所述光发射仪的两侧，且所述第一连接轴的轴心线与所述第二连接轴的轴心线位于同一直线上。可选地，所述的力学检测设备，其中，所述第一力学检测仪用于检测所述第一待检测施力元件对所述第一连接轴所施加的沿所述第一连接轴的轴向方向上的拉力，所述第二力学检测仪用于检测所述第二待检测施力元件对所述第二连接轴所施加的沿所述第二连接轴的轴向方向上的推力。可选地，所述的力学检测设备，其中，所述承载体包括用于容置所述第一力学检测仪的至少一部分的第一壳体，以及包括用于容置所述第二力学检测仪的至少一部分的第二壳体；其中所述至少两个检测标记中的第一检测标记设置于所述第一壳体上，所述至少两个检测标记中的第二检测标记设置于所述第二壳体上。可选地，所述的力学检测设备，其中，所述承载体包括：承载板，包括承载平面，其中所述第一力学检测仪、所述第二力学检测仪和所述光发射仪均设置于所述承载平面上，所述承载板背离所述承载平面的表面被配置为能够放置于一承载台上；与所述承载板连接的阻挡板，其中所述阻挡板与所述承载板的其中一边缘连接，且相对于所述承载板朝远离所述承载平面的方向弯折预设角度；其中，所述第二力学检测仪至所述第一力学检测仪的方向为远离所述边缘的方向。可选地，所述的力学检测设备，其中，所述承载体包括：可拆卸连接的第一承载板和第二承载板，其中所述第一承载板设置于所述第二承载板上，所述第一力学检测仪、所述第二力学检测仪和所述光发射仪均设置于所述第一承载板远离所述第二承载板的表面上。可选地，所述的力学检测设备，其中，所述承载体上设置有紧固元件和位置微调元件；所述承载体设置于一承载台上时，通过所述位置微调元件，所述承载体在所述承载台上的位置变化；通过所述紧固元件，所述承载体能够固定于所述承载台上。可选地，所述的力学检测设备，其中，所述第一力学检测仪和所述第二力学检测仪分别通过一无线通讯元件与一终端连接，用于通过所述无线通讯元件将所检测数值输出至所述终端。本专利技术实施例还提供一种采用上述任一项所述的力学检测设备进行力学检测的方法，其中，所述方法包括：将所述承载体设置于一承载台上，并使第一待检测施力元件与所述第一力学检测仪的第一连接轴相连接；其中所述第一待检测施力元件的施力中心点上设置有对位标记；控制所述光发射仪通过所述第一连接轴上的通孔朝所述第一待检测施力元件发射光束；若所述发射光束在所述第一待检测施力元件上的入射位置与所述对位标记不相重合，则调整所述承载体相对于所述承载台的位置，直至所述发射光束在所述第一待检测施力元件上的入射位置与所述对位标记相重合；通过所述图像采集元件获取包括至少两个所述检测标记的图像信息；根据所述图像信息，若判断所述至少两个检测标记的中心点未位于一水平直线上，则调整所述承载台用于设置所述承载体的平面的倾斜状态，使所述至少两个检测标记的中心点位于一水平直线上。本专利技术具体实施例上述技术方案中的至少一个具有以下有益效果：本专利技术实施例所述力学检测设备，通过设置光发射仪沿标准力学检测仪用于与待检测施力元件连接的连接轴的轴心，朝待检测施力元件的施力中心点上的对位标记发射光束，能够实现标准力学检测仪的受力中心与待检测施力元件的施力中心的第一步对位；进一步地该力学检测设备还设置沿标准力学检测仪的受力中心方向排列的至少两个检测标记，通过图像采集元件采集检测标记获得图像信息，根据图像信息可以进一步判断力学检测仪的受力中心与待检测施力元件的施力中心是否位于一水平直线上，以进一步地实现第二步对位，最终保证力学检测仪的受力中心与待检测施力元件的施力中心位于一水平直线上。附图说明图1为通常金属掩膜板与支撑框架的组装结构示意图；图2为本专利技术实施例所述力学检测设备的平面结构示意图；图3为本专利技术实施例所述力学检测设备的立体结构示意图；图4为本专利技术实施例所述力学检测设备的第一使用状态示意图；图5为本专利技术实施例所述力学检测设备的第二使用状态示意图。具体实施方式为使本专利技术要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种力学检测设备，其特征在于，包括：承载体，所述承载体上配置有至少两个检测标记，且所述至少两个检测标记的中心点位于沿第一方向的直线上；设置于所述承载体上的第一力学检测仪，通过第一连接轴能够与第一待检测施力元件相连接，用于检测所述第一待检测施力元件对所述第一连接轴所施加的沿所述第一连接轴的轴向方向上的作用力；其中所述第一连接轴的轴心上设置有通孔，所述第一连接轴的轴向方向平行于所述第一方向；设置于所述承载体上的光发射仪，能够通过所述第一连接轴上的通孔朝所述第一待检测施力元件发射光束；图像采集元件，位于所述承载体的上方，用于获取包括至少两个所述检测标记的图像信息。

【技术特征摘要】
1.一种力学检测设备，其特征在于，包括：承载体，所述承载体上配置有至少两个检测标记，且所述至少两个检测标记的中心点位于沿第一方向的直线上；设置于所述承载体上的第一力学检测仪，通过第一连接轴能够与第一待检测施力元件相连接，用于检测所述第一待检测施力元件对所述第一连接轴所施加的沿所述第一连接轴的轴向方向上的作用力；其中所述第一连接轴的轴心上设置有通孔，所述第一连接轴的轴向方向平行于所述第一方向；设置于所述承载体上的光发射仪，能够通过所述第一连接轴上的通孔朝所述第一待检测施力元件发射光束；图像采集元件，位于所述承载体的上方，用于获取包括至少两个所述检测标记的图像信息。2.根据权利要求1所述的力学检测设备，其特征在于，所述力学检测设备还包括：处理器，用于根据所述图像信息，获取所述至少两个检测标记的中心点相对于预设坐标原点的相对位置坐标，根据所述相对位置坐标发出位置调整信号；坐标调节装置，所述承载体设置于所述坐标调节装置上，所述坐标调节装置被配置为能够获取所述位置调整信号，根据所述位置调整信号调节所述承载体的位置，使所述至少两个检测标记的中心点位于一水平直线上，且每一所述检测标记的中心点相对于所述预设坐标原点分别位于预设坐标位置。3.根据权利要求1所述的力学检测设备，其特征在于，所述力学检测设备还包括：设置于所述承载体上的第二力学检测仪，通过第二连接轴能够与第二待检测施力元件相连接，用于检测所述第二待检测施力元件对所述第二连接轴所施加的沿所述第二连接轴的轴向方向上的作用力；其中所述第二连接轴的轴心上设置有通孔，所述第二连接轴的轴向方向平行于所述第一方向；其中，所述光发射仪还能够通过所述第二连接轴上的通孔朝所述第二待检测施力元件发射光束。4.根据权利要求3所述的力学检测设备，其特征在于，所述第一力学检测仪和所述第二力学检测仪位于所述光发射仪的两侧，且所述第一连接轴的轴心线与所述第二连接轴的轴心线位于同一直线上。5.根据权利要求4所述的力学检测设备，其特征在于，所述第一力学检测仪用于检测所述第一待检测施力元件对所述第一连接轴所施加的沿所述第一连接轴的轴向方向上的拉力，所述第二力学检测仪用于检测所述第二待检测施力元件对所述第二连接轴所施加的沿所述第二连接轴的轴向方向上的推力。6.根据权利要求5所述的力学检测设备，其特征在于，所述承载体包括用于容置所述第一力学检测仪的至少一部分的第...

【专利技术属性】
技术研发人员：马超，苏宇峰，伍青峰，许进，韩丰明，黄世花，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，成都京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11