光学特性测定装置制造方法及图纸

光学特性测定装置具备成像光学系统、光阑部、影像传感器、运算部。上述成像光学系统在能够从虚像显示装置的射出光瞳的位置观察到的虚像由上述虚像显示装置显示的状态下，使由通过上述射出光瞳的位置的光构成的上述虚像在规定的位置成像。上述光阑部配置于上述规定的位置，具有使构成在上述规定的位置成像的上述虚像的一部分的光通过的开口。上述影像传感器接受通过上述开口而扩散的、构成上述一部分的光。上述运算部利用从上述影像传感器输出的信号来运算上述射出光瞳上的各位置的光学特性。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光学特性测定装置
本专利技术涉及对虚像显示装置的射出光瞳的光学特性进行测定的技术。
技术介绍
虚像投影方式的头戴式显示器是虚像显示装置的一个例子，针对头戴式显示器的图像显示部(例如液晶显示器)所显示的图像，则显示该图像的虚像。在头戴式显示器显示虚像的状态下，若使人的瞳孔位于头戴式显示器的射出光瞳的位置，则人能够看到虚像。例如日本专利文献1和日本专利文献2公开了能够对如上述液晶显示器那样的图像显示装置的光学特性(例如亮度、色度)进行测定的装置。日本专利文献1中公开了使测定对象的像在二维传感器上成像，并能够通过二维的形式来测定测定对象的亮度和色度等的光学特性测定装置。日本专利文献2公开了具备孔眼反射镜、使测定对象的像在孔眼反射镜上成像的物镜、使用被孔眼反射镜反射的光来显示测定对象的像的取景器系统、以及接受通过孔眼反射镜的光的受光元件的亮度计。该亮度计中，测定对象的像在孔眼反射镜上成像，而不在受光元件上成像。头戴式显示器的射出光瞳上的亮度和色度在理想的状态下应是均匀的。然而，虚像投影方式的头戴式显示器具备的光学系统复杂化，其结果是，射出光瞳上的亮度和色度变得不均匀。人的瞳孔大小根据周围的明本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学特性测定装置，其中，该光学特性测定装置具备：成像光学系统，其在能够从虚像显示装置的射出光瞳的位置观察到的虚像由所述虚像显示装置显示的状态下，使由通过所述射出光瞳的位置的光构成的所述虚像在规定的位置成像；光阑部，其配置于所述规定的位置，具有使构成在所述规定的位置成像的所述虚像的一部分的光通过的开口；影像传感器，其接受通过所述开口而扩散的、构成所述一部分的光；以及运算部，其使用从所述影像传感器输出的信号来运算所述射出光瞳上的各位置的光学特性。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.04.19 JP 2016-0834941.一种光学特性测定装置，其中，该光学特性测定装置具备：成像光学系统，其在能够从虚像显示装置的射出光瞳的位置观察到的虚像由所述虚像显示装置显示的状态下，使由通过所述射出光瞳的位置的光构成的所述虚像在规定的位置成像；光阑部，其配置于所述规定的位置，具有使构成在所述规定的位置成像的所述虚像的一部分的光通过的开口；影像传感器，其接受通过所述开口而扩散的、构成所述一部分的光；以及运算部，其使用从所述影像传感器输出的信号来运算所述射出光瞳上的各位置的光学特性。2.根据权利要求1所述的光学特性测定装置，其中，还具备移动部，其使所述光阑部移动至使得构成在所述规定的位置成像的所述虚像的、与所述一部分不同的其它部分的光能够通过所述开口的位置。3.根据权利要求1或2所述的光学特性测定装置，其中，所述光阑部包含反射镜部，该反射镜部位于所述开口的周围，使构成在所述规定的位置成像的所述虚像的所述一部分以外的剩余的部分的光反射，所述光学特性测定装置还具备取景器部，其利用被所述反射镜部反射的光来显示所述虚像的所述剩余的部分。4.根据权利要求1或2所述的光学特性测定装置，其中，所述光阑部包含反射镜部，该反射镜部位于所述开口的周围，使构成在所述规定的位置成像的...

【专利技术属性】
技术研发人员：鹤谷克敏，
申请(专利权)人：柯尼卡美能达株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP