【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于校准牙科烘箱的温度测量装置的方法和校准元件
本专利技术涉及一种借助于至少一个校准元件校准牙科烘箱的温度测量装置的方法，其中在加热时段期间在所述牙科烘箱中将所述至少一个校准元件从起始温度加热到结束温度，并且在加热时段期间借助于所述温度测量装置测量所述牙科烘箱中的温度作为实际温度。
技术介绍
最近，感应式高温炉开始用于牙科修复体的烧结，上釉和干燥。与电阻加热炉相比，感应炉在速度方面具有优势。在该过程期间对温度的精确调节对于上釉特别重要，原因是即使很小的温度偏差也会导致差的结晶结果并且可能导致强度降低或轮廓熔合。为了监测的目的，因此在烘箱内部的过程期间借助于温度测量装置(例如热电偶)测量温度。然而，温度测量装置必须定期校准，原因是显示温度和烘箱中实际存在的温度之间的偏差(也称为漂移)也会发生，特别是由于老化过程。为了校准，校准元件典型地布置在烘箱的炉腔中并被加热。例如，可以使用具有限定的温度-收缩率的烧结环。也已知的是利用材料(例如银)的限定熔点，通过将由该材料组成的校准元件引入烘箱中，将烘箱尽可能精确地加热到材料的熔化温度并随后检查校准元件的状态。另一种已知的变型...
【技术保护点】
1.一种用于借助于至少一个校准元件(6)校准牙科烘箱(2)的温度测量装置(1)的方法，‑其中，在加热时段(dt)期间，在所述牙科烘箱(2)中将所述至少一个校准元件(6)从起始温度(TA)加热到结束温度(TE)，‑其中，在加热时段(dt)期间，借助于所述温度测量装置(1)测量所述牙科烘箱(3)中的温度作为实际温度(T)，其特征在于‑所述至少一个校准元件(6)具有至少一种测量材料(7)，‑所述测量材料具有在第一转变温度(TC1)下发生的可逆相转变，‑所述第一转变温度(TC1)高于所述起始温度(TA)并且低于所述结束温度(TE)，‑所述相转变导致所述牙科烘箱(2)的至少一个第一参...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.04.15 DE 102016206447.91.一种用于借助于至少一个校准元件(6)校准牙科烘箱(2)的温度测量装置(1)的方法，-其中，在加热时段(dt)期间，在所述牙科烘箱(2)中将所述至少一个校准元件(6)从起始温度(TA)加热到结束温度(TE)，-其中，在加热时段(dt)期间，借助于所述温度测量装置(1)测量所述牙科烘箱(3)中的温度作为实际温度(T)，其特征在于-所述至少一个校准元件(6)具有至少一种测量材料(7)，-所述测量材料具有在第一转变温度(TC1)下发生的可逆相转变，-所述第一转变温度(TC1)高于所述起始温度(TA)并且低于所述结束温度(TE)，-所述相转变导致所述牙科烘箱(2)的至少一个第一参数(I)的突变，-在加热时段(dt)内测量所述牙科烘箱(2)的第一参数(I)，并且在加热时段(dt)期间识别所述第一参数(I)的至少一个第一突变(dI1)，-其中确定当所述第一参数(I)的第一突变(dI1)发生时由所述温度测量装置(1)测量的第一实际温度值(T1)与所述第一转变温度(TC1)的偏差，并且根据所述偏差校正所述温度测量装置(1)的实际温度(T)。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个校准元件包括至少一种第一测量材料(7)和第二测量材料(8)，或者包括第一测量材料(7)的至少一个第一校准元件和包括第二测量材料(8)的第二校准元件在所述牙科烘箱(2)中同时被加热，-其中所述第一测量材料(7)具有第一转变温度(TC1)，并且所述第二测量材料(8)具有不同于所述第一转变温度(TC1)的第二转变温度(TC2)，-其中对于每个测量材料(7、8)，识别在加热时段(dt)期间所述第一参数(I)的突变(dI1、dI2)，并且相应地确定在所述第一参数(I)的相应突变(dI1、d...
【专利技术属性】
技术研发人员：C库尔茨，
申请(专利权)人：西诺德牙科设备有限公司，
类型：发明
国别省市：德国,DE
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