【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】含有全氟(聚)醚改性酰胺硅烷化合物的组合物
本专利技术涉及一种含有全氟(聚)醚改性酰胺硅烷化合物和羧酸酯化合物而成的表面处理剂。
技术介绍
已知某种含氟硅烷化合物在用于基材的表面处理时,可以提供优异的拨水性、拨油性、防污性等。由含有含氟硅烷化合物的表面处理剂得到的层(以下,也称为“表面处理层”),作为所谓的功能性薄膜,已被施用于例如玻璃、塑料、纤维、建筑材料等各种各样的基材。作为这样的含氟硅烷化合物,已知有在分子主链中具有全氟(聚)醚基、经由含有酰胺键的有机基团,与含氟硅烷化合物的末端或末端部具有能够水解的基团的Si原子结合的全氟(聚)醚改性酰胺硅烷化合物(参照专利文献1~3)。将含有该全氟(聚)醚改性酰胺硅烷化合物的表面处理剂适用于基材时,与Si原子结合的能够水解的基团在与基材之间以及化合物之间发生反应而结合,能够形成表面处理层。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开平11-29585号公报专利文献2:日本特开2000-14399号公报专利文献3:日本特开2000-327772号公报
技术实现思路
专利技术要解决的技术问题由含有全氟(聚)醚改性酰胺硅烷化合物的表面处理剂得到的层,即使为薄膜也能够发挥拨水性、拨油性、防污性等功能,因此,已被合适地用于要求透光性和透明性的眼镜和触摸面板等光学部件。特别是在这些用途中,要求摩擦耐久性,使得即使经受反复摩擦,也能够维持这样的功能。本专利技术的目的在于,提供一种具有拨水性、拨油性、防污性、防水性并且能够形成具有高摩擦耐久性的层的含有全氟(聚)醚改性酰胺硅烷化合物而成的组合物。用于解决技术问题的技术方案本专利技术的专利 ...
【技术保护点】
1.一种表面处理剂,其特征在于:含有至少1种下述式(1)所示的全氟(聚)醚改性酰胺硅烷化合物和至少1种下述式(2)所示的羧酸酯化合物,相对于式(1)所示的全氟(聚)醚改性酰胺硅烷化合物和式(2)所示的羧酸酯化合物的总含量,式(2)所示的羧酸酯化合物的含量为4.1mol%以上35mol%以下,
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.09.08 JP 2016-1758421.一种表面处理剂,其特征在于:含有至少1种下述式(1)所示的全氟(聚)醚改性酰胺硅烷化合物和至少1种下述式(2)所示的羧酸酯化合物,相对于式(1)所示的全氟(聚)醚改性酰胺硅烷化合物和式(2)所示的羧酸酯化合物的总含量,式(2)所示的羧酸酯化合物的含量为4.1mol%以上35mol%以下,式(1)中:Rf1表示可以被1个或1个以上的氟原子取代的碳原子数1~16的烷基;PFPE1各自独立地表示-(OC6F12)a-(OC5F10)b-(OC4F8)c-(OC3F6)d-(OC2F4)e-(OCF2)f-,其中,a、b、c、d、e和f各自独立地为0以上200以下的整数,a、b、c、d、e和f之和至少为1,标有a、b、c、d、e或f并用括号括起来的各重复单元的存在顺序在式中是任意的;X1表示单键或2价的有机基团;R1各自独立地表示-X2-SiRa1l1Rb1m1Rc1n1;X2表示2价的有机基团;Ra1在每次出现时各自独立地表示-Z1-SiRa2l2Rb2m2Rc2n2;Z1在每次出现时各自独立地表示氧原子或2价的有机基团;Ra2在每次出现时各自独立地表示Ra1’;Ra1’的意义与Ra1相同;Ra1中,经由Z1基连结成直链状的Si最多为5个;Rb2在每次出现时各自独立地表示羟基或能够水解的基团;Rc2在每次出现时各自独立地表示氢原子或低级烷基;l2在每次出现时各自独立地为0~3的整数;m2在每次出现时各自独立地为0~3的整数;n2在每次出现时各自独立地为0~3的整数;Rb1在每次出现时各自独立地表示羟基或能够水解的基团;Rc1在每次出现时各自独立地表示氢原子或低级烷基;l1在每次出现时各自独立地为0~3的整数;m1在每次出现时各自独立地为0~3的整数;n1在每次出现时各自独立地为0~3的整数;R2各自独立地表示氢原子、低级烷基或苯基;p为1或2;其中,式(1)中存在至少1个Rb1或Rb2,式(2)中:R3表示烃基;R4表示有机基团。2.如权利要求1所述的表面处理剂,其特征在于:Rf1为碳原子数1~16的全氟烷基。3.如权利要求1或2所述的表面处理剂,其特征在于:PFPE1为下述式(a)、(b)或(c):-(OC3F6)d-(a)式(a)中,d为1以上200以下的整数,-(OC4F8)c-(OC3F6)d-(OC2F4)e-(OCF2)f-(b)式(b)中,c和d各自独立地为0以上30以下的整数;e和f各自独立地为1以上200以下的整数;c、d、e和f之和为10以上200以下的整数;标有下标c、d、e或f并用括号括起来的各重复单元的存在顺序在式中是任意的,-(R6-R7)q-(c)式(c)中,R6为OCF2或OC2F4;R7为选自OC3F6、OC4F8、OC5F10和OC6F12中的基团,或者为选自这些基团中的2个或3个基团的组合;q为2~100的整数。4.如权利要求1~3中任一项所述的表面处理剂,其特征在于:X1的2价的有机基团为-(CR82)k1-(O)k2-(NR9)k3-,式中:R8各自独立地为氢原子或氟原子;R9各自独立地表示氢原子、苯基或C1-6烷基;k1为1~20的整数;k2为0~10的整数;k3为0~10的整数;其中,标有k1、k2或k3并用括号括起来的各重复单元的存在顺序在式中是任意的。5.如权利要求1~4中任一项所述的表面处理剂,其特征在于:X2的2价的有机基团为-(CR102)k4-(O)k5-(NR11)k6-,式中:R10各自独立地为氢原子或氟原子;R11各自独立地表示氢原子、苯基或C1-6烷基;k4为1~20的整数;k5为0~10的整数;k6为0~10的整数;其中,标有k4、k5或k6并用括号括起来的各重复单元的存在顺序在式中是任意的。6.如权利要求1~5中任一项所述的表面处理剂,其特征在于:X1为-(CF2)k1’-或-(CF2)k1’-(O)k2’-,式中:k1’为1~6的整数;k2’为1~3的整数;其中,标有k1’或k2’并用括号括起来的各重复单元的存在顺序在式中是任意的,X2为-(CH2)k4’-或-(CH2)k4’-Ok5’-,式中:k4’为1~6的整数;k5’为1~3的整数;其中,标有k4’或k5’并用括号括起来的各重复单元的存在顺序在式中任意的。7.如权利要求1~6中任一项所述的表面处理剂,其特征在于:R2为碳原子数1~3个的烷基或苯基。8.如权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员:三桥尚志,野村孝史,能势雅聪,内藤真人,
申请(专利权)人:大金工业株式会社,
类型:发明
国别省市:日本,JP
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