一种测试针组件及其组成的测试接触片制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测试针组件及其组成的测试接触片。测试针组件包括至少两组并排设置的测试针组，所述测试针组包括第一测试针主体和设置在第一测试针主体上方的第二测试针主体；所述第一测试针主体上设有第一测试针头，所述第二测试针主体上设有位于第一测试针头右侧的第二测试针头，所述第一测试针主体与第二测试针主上均设有测试板接触面。测试接触片，包括测试接触片基板，及其上设置的至少一个上述测试针组件。本实用新型专利技术结构简单，成本低廉，使用时测试针组的两个测试针头同时与产品引脚相接触并进行测试，而测试针组件至少包括两组并排设置的测试针组，测试时则至少有四个测试针头与产品引脚相接触，极大地解决了测试针组件与产品引脚接触失效的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种测试针组件及其组成的测试接触片
本技术涉及一种用于半导体产品测试的机械结构，尤其涉及一种由其组成的测试接触片。
技术介绍
在半导体产品制造工艺完成前，需要进入最终测试阶段，最终测试是利用测试机台（Tester）,分选机(Handler)，测试板(DUTBoard)与测试接触片（TestFinger）之间的搭配组合来测试每一个产品，测试机的测试线连接到测试板上的线路上，测试板上的线路连接到测试接触片的测试针的一端，测试针的另一端再与半导体产品的引脚直接接触，进而对产品进行测试。在制造过程中引脚与测试针的接触面上容易产生毛刺，同时引脚的接触面也容易生成不规则面，从而容易导致测试针与引脚接触失效，产品则被误判为不合格，因此降低了产品的合格率，对产品也造成了极大的浪费。
技术实现思路
本技术的目的之一在于针对上述不足，提供一种测试针组件，以期待解决现有测试半导体产品时测试针与产品引脚的接触失效问题。本技术还提供一种测试针组件组成的测试接触片。技术的目的通过下述技术方案实现：一种测试针组件，包括至少两组并排设置的测试针组，所述测试针组包括第一测试针主体和设置在第一测试针主体上方的第二测试针体；本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试针组件，其特征在于：包括至少两组并排设置的测试针组，所述测试针组包括第一测试针主体（1）和设置在第一测试针主体（1）上方的第二测试针主体（2）；所述第一测试针主体（1）上设有第一测试针头（3），所述第二测试针主体（2）上设有位于第一测试针头（3）右侧的第二测试针头（4），所述第一测试针主体（1）与第二测试针主体（3）上均设有测试板接触面（5）。

【技术特征摘要】
1.一种测试针组件，其特征在于：包括至少两组并排设置的测试针组，所述测试针组包括第一测试针主体（1）和设置在第一测试针主体（1）上方的第二测试针主体（2）；所述第一测试针主体（1）上设有第一测试针头（3），所述第二测试针主体（2）上设有位于第一测试针头（3）右侧的第二测试针头（4），所述第一测试针主体（1）与第二测试针主体（3）上均设有测试板接触面（5）。2.根据权利要求1所述的一种测试针组件，其特征在于：所述第一测试针头（3）上设有第一测试针头接触面（6），所述第二测试针头（4）上设有第二测试针头接触面（7）。3.根据权利要求2所述的一种测试针组件，其特征在于：所述第一测试针头接触面（6）与第二测试针头接触面（7）之间...

【专利技术属性】
技术研发人员：周峰，
申请(专利权)人：四川峰哲精密设备有限公司，
类型：新型
国别省市：四川,51