【技术实现步骤摘要】
γ射线吸收参数测量装置
本技术涉及一种γ射线吸收参数测量装置，属于放射线测试领域。
技术介绍
γ射线穿过材料后，沿原来入射方向的γ射线的强度会逐渐减少，强度按指数规律衰减，这称为γ射线的吸收。入射的γ射线强度减弱一半时所对应的吸收材料的厚度为“半吸收厚度”，这表示了材料对γ射线的吸收能力。在开发和遴选γ射线的屏蔽材料过程中，材料的吸收参数决定了材料的屏蔽效果，因此γ射线吸收参数的测量具有重要意义。
技术实现思路
本技术的目的是为了能够测量不同材料的γ射线吸收参数而提供一种γ射线吸收参数测量装置。本技术的目的是这样实现的：一种γ射线吸收参数测量装置，其特征在于，包括底座16、设置在底座16上的滑道15、设置在滑道15上的滑块支撑座12、设置在滑块支撑座12上的放射源11、设置在底座16上的支撑架9、设置在支撑架9内顶面上的下部准直器10、设置在支撑架9上的料位体4、设置在料位体4上的上部支架3、设置在上部支架3上的上部准直器2、设置在上部准直器2上的探测器1，在滑道15上设置有水平仪13；所述下部准直器10、放射源11和滑块支撑座12在所述支撑架9内。本技术还包括这样一些结...
【技术保护点】
1.一种γ射线吸收参数测量装置，其特征在于，包括底座(16)、设置在底座(16)上的滑道(15)、设置在滑道(15)上的滑块支撑座(12)、设置在滑块支撑座(12)上的放射源(11)、设置在底座(16)上的支撑架(9)、设置在支撑架(9)内顶面上的下部准直器(10)、设置在支撑架(9)上的料位体(4)、设置在料位体(4)上的上部支架(3)、设置在上部支架(3)上的上部准直器(2)、设置在上部准直器(2)上的探测器(1)，在滑道(15)上设置有水平仪(13)；所述下部准直器(10)、放射源(11)和滑块支撑座(12)在所述支撑架(9)内。
【技术特征摘要】
1.一种γ射线吸收参数测量装置，其特征在于，包括底座(16)、设置在底座(16)上的滑道(15)、设置在滑道(15)上的滑块支撑座(12)、设置在滑块支撑座(12)上的放射源(11)、设置在底座(16)上的支撑架(9)、设置在支撑架(9)内顶面上的下部准直器(10)、设置在支撑架(9)上的料位体(4)、设置在料位体(4)上的上部支架(3)、设置在上部支架(3)上的上部准直器(2)、设置在上部准直器(2)上的探测器(1)，在滑道(15)上设置有水平仪(13)；所述下部准直器(10)、放射源(11)和滑块支撑座(12)在所述支撑架(9)内。2.根据权利要求1所述的一种γ射线吸收参数测量装置，其特征在于，所述料位体(4)的内部设有减波板(6)，减波板(6)为塑料材质制作成的环形结构，且减波板(6)上均匀设置小圆孔且构成蜂窝状；减波板(6)的内径大于探测器(1)的直径，减波板(6)的外径小于料位体...
【专利技术属性】
技术研发人员：彭帮保，吕强，田瑞峰，王庆宇，刘辉兰，刘阳，聂晓强，
申请(专利权)人：哈尔滨工程大学，
类型：新型
国别省市：黑龙江,23
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