【技术实现步骤摘要】
键帽结构组装不良测试机
本技术涉及一种键帽结构组装不良测试机，属于键帽测试机
技术介绍
键盘一般是由键板与键帽组合而成的，键帽通常通过四周的剪刀脚卡扣结构卡合在键板上，并位于相应的按键上方。组装过程中容易出现各类卡扣不良，如：未卡合上、卡扣力度不足、卡扣易掉落等，这类问题直接影响消费者的操作。为了避免键帽的卡扣不良，在键帽安装后，需要对其进行拉拔力测试，即对键帽施加一定大小的作用力向外拉键帽，如果键帽四角的卡扣依然良好则表示键帽卡扣良好。现有技术中，常用人工扣键帽的拉拔测试，这种方式具有成本高、效率低、结果准确性差的问题，无法满足现代工业生产的要求，还有采用机械设备进行自动检测，如使用刷key机，在组装好的键盘键帽上正方，用一块柔性硅胶下降到键帽上方并干涉接触，然而这种检测方法存在检出率很低且会对良品造成损伤等不足；或是使用顶key机，在组装好的键盘键帽下正方，在每个key的正下方装上对应探针，用探针的压缩行程量来控制探针的弹力，从而把不良的键帽顶出键帽整体结构，因为整个不良的判断是靠人工目测完成而需要很明显的键帽脱离，由于键盘的多变性和探针的疲劳耐力有...
【技术保护点】
1.键帽结构组装不良测试机，其特征是，包括X轴向移动装置以及检测头组件，所述检测头组件通过连接装置安装在所述X轴向移动装置上，在所述X轴向移动装置作用下沿水平方向移动，所述检测头组件包括压力传感器(41)以及与其相连的检测头(42)，所述检测头(42)顶面为坡面，沿所述X轴向移动装置行进方向由高至低分布，所述检测头(42)用于插入键帽一侧底部。
【技术特征摘要】
1.键帽结构组装不良测试机，其特征是，包括X轴向移动装置以及检测头组件，所述检测头组件通过连接装置安装在所述X轴向移动装置上，在所述X轴向移动装置作用下沿水平方向移动，所述检测头组件包括压力传感器(41)以及与其相连的检测头(42)，所述检测头(42)顶面为坡面，沿所述X轴向移动装置行进方向由高至低分布，所述检测头(42)用于插入键帽一侧底部。2.根据权利要求1所述的键帽结构组装不良测试机，其特征是，还包括Y轴向移动装置，沿Y轴向安装有若干组所述检测头组件，所述检测头(42)以Y轴向为中心线左右对称设置，若干组所述检测头组件分为多列错开分布，所述Y轴向移动装置用于使若干组所述检测头组件沿Y轴向与待检键盘相对移动。3.根据权利要求2所述的键帽结构组装不良测试机，其特征是，还包括间隙调节装置，所述间隙调节装置用于调节每个所述检测头组件在Y轴向上的位置。4.根据权利要求3所述的键帽结构组装不良测试机，其特征是，所述间隙调节装置包括沿Y轴向移动的电机...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘利刚，谭志辉，黄得力，
申请(专利权)人：昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。