验证固态硬盘掉电保护功能的测试方法技术

本发明专利技术提供了一种验证固态硬盘掉电保护功能的测试方法，包括获取硬件信号验证测试数据、获取系统功能验证测试数据和获取可靠性验证测试数据，并判断相应测试数据是否满足预设条件的步骤。本发明专利技术的有益效果在于：提供了一种通过多个验证测试流程快速验证固态硬盘掉电保护功能可靠性的方法，该方法具有流程简单、低时间复杂度和易于实现的优点，尤其适合当前固态硬盘测试项目比较多的测试环境。

【技术实现步骤摘要】
验证固态硬盘掉电保护功能的测试方法
本专利技术涉及计算机
，尤其是指一种验证固态硬盘掉电保护功能的测试方法。
技术介绍
为了提高电子盘的读写性能，大部分固态硬盘控制器通过内部集成RAM或外部扩展RAM方式增加缓存，每次计算机系统内存的数据写到固态硬盘时，都先写到固态硬盘的缓存中，固态硬盘控制器再将缓存中的数据写入到NANDFlash中。因此，在电源没有任何保护措施的情况下，如果固态硬盘突然掉电(即外部供电在突发意外情况下发生浪涌或断电)，将会造成缓存中的数据完全丢失，轻则丢失数据，重则导致系统崩溃。为了防止这种情况发生，需要增加一种机制，称之为掉电保护，用于预防固态硬盘缓存中的数据丢失。掉电保护增加了两部分功能，一部分是电压检测模块，用于检测外部电压过低时，向固态硬盘控制器产生中断；另一部分功能则是电源储能模块，用于在外部电压过低时能够给固态硬盘提供足够长时间的续航能力。当电压检测模块检测到外部电压过低时，将产生一个中断给固态硬盘控制器，同时电源储能模块启动供电，固态硬盘控制器接收到中断之后将固态硬盘缓存中的数据保存至NANDFlash中。整个过程中，电源储能模块的持续续航能力足以保证固态硬盘控制器将缓存中的数据完全保存至NANDFlash中，从而实现掉电保护。增加掉电保护功能，将大大增加固态硬盘的使用安全性，可以满足对数据完整性要求较高的应用场合，如航空航天系统，国防军用系统，电力系统，银行证券系统等。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是：提供一种流程简单，可靠性高的验证固态硬盘掉电保护功能的方法。为了解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案为：一种验证固态硬盘掉电保护功能的测试方法，包括获取硬件信号验证测试数据、获取系统功能验证测试数据和获取可靠性验证测试数据，并判断相应测试数据是否满足预设条件的步骤。进一步的，所述硬件信号验证测试包括获取掉电保护IC上下电时序测试数据和获取掉电保护时备电时序测试数据的步骤；所述系统功能验证测试包括获取电容充放电时间数据和获取电容容量检测数据的步骤。进一步的，所述可靠性验证测试包括获取电容常温寿命测试数据、获取电容低温寿命测试数据和获取电容高温寿命测试数据的步骤。进一步的，在所述获取掉电保护IC上下电时序测试数据的步骤中，包括抓取固态硬盘上电时的上电信号波形及抓取固态硬盘异常断电时的断电信号波形,并判断所述信号波形是否符合预设条件的步骤。进一步的，在所述获取掉电保护时备电时序测试数据的步骤中，包括抓取固态硬盘在异常断电时的时序波形,并判断波形是否符合预设值的步骤。进一步的，在所述获取电容充放电时间数据的步骤中，包括测量电容从低电平到高电平所需的充电时间和从高电平到监测电压点的放电时间,并判断充电时间和放电时间是否符合预设值的步骤。进一步的，在所述获取电容充放电时间数据的步骤之后，还包括获取模拟电容老化后备电时间测试数据，并判断备电时间是否符合预设条件的步骤。进一步的，在所述获取电容容量检测数据的步骤中，包括获取电容容值检测精度，并判断精度是否符合预设条件的步骤。进一步的，在所述获取掉电保护IC上下电时序测试数据的步骤中，还包括验证掉电保护电压监测点是否能触发掉电保护功能的步骤。进一步的，在所述获取电容容量检测数据的步骤中，还包括验证电容检测功能测试的步骤。本专利技术的有益效果在于：提供了一种通过多个验证测试流程快速验证固态硬盘掉电保护功能可靠性的方法，该方法具有流程简单、低时间复杂度和易于实现的优点，尤其适合当前固态硬盘测试项目比较多的测试环境。附图说明下面结合附图详述本专利技术的具体结构：图1为本专利技术的测试流程图。具体实施方式为详细说明本专利技术的
技术实现思路
、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。实施例1请参阅图1，一种验证固态硬盘掉电保护功能的测试方法，包括获取硬件信号验证测试数据、获取系统功能验证测试数据和获取可靠性验证测试数据，并判断相应测试数据是否满足预设条件的步骤。其中，所述硬件信号验证测试包括获取掉电保护IC上下电时序测试数据和获取掉电保护时备电时序测试数据并判断相应测试数据是否满足预设条件的步骤；所述系统功能验证测试包括获取电容充放电时间数据和获取电容容量检测数据并判断相应测试数据是否满足预设条件的步骤。本实施例中，根据固态硬盘的特点设计针对性的测试流程，可快速验证固态硬盘掉电保护功能的可靠性。从上述描述可知，本专利技术的有益效果在于：提供了一种通过多个验证测试流程快速验证固态硬盘掉电保护功能可靠性的方法，该方法具有流程简单、低时间复杂度和易于实现的优点，尤其适合当前固态硬盘测试项目比较多的测试环境。实施例2在实施例1的基础上，所述可靠性验证测试包括获取电容常温寿命测试数据、获取电容低温寿命测试数据和获取电容高温寿命测试数据，并判断相应测试数据是否满足预设条件的步骤。本实施例中，获取电容常温、低温和高温寿命测试数据的具体步骤包括：A1、获取常温电容寿命测试数据的具体步骤如下：在常温(25℃)下，将待测固态硬盘作为从盘外挂在服务器上并能进行读写操作，待测固态硬盘的固件需要有调试窗口输出电容值。(若固件不支持，则将电容拆卸下来量测电容容值)。软硬件联合设计出掉电保护电容的初始值A。将待测固态硬盘在常温(25℃)环境下进行3000次上下电后，待测固态硬盘的固件电容检测出的电容值B，其中A-B的差值不超过A的10％。A2、获取低温电容寿命测试数据的具体步骤如下：在低温(0℃)环境下，将待测固态硬盘作为从盘外挂在服务器上并能进行读写操作，待测固态硬盘的固件需要有调试窗口输出电容值。(若固件不支持，则将电容拆卸下来量测电容容值)。软硬件联合设计出掉电保护电容的初始值A。将待测固态硬盘在低温(0℃)环境下进行3000次上下电后，待测固态硬盘的固件电容检测出的电容值B，其中A-B的差值不超过A的10％。A3、获取高温电容寿命测试数据的具体步骤如下：在高温(60℃)环境下，将待测固态硬盘作为从盘外挂在服务器上并能进行读写操作，待测固态硬盘的固件需要有调试窗口输出电容值。(若固件不支持，则将电容拆卸下来量测电容容值)。软硬件联合设计出掉电保护电容的初始值A。将待测固态硬盘在高温(60℃)环境下进行3000次上下电后，待测固态硬盘的固件电容检测出的电容值B，其中A-B的差值不超过A的10％。实施例3在实施例2的基础上，在所述获取掉电保护IC上下电时序测试数据的步骤中，包括抓取固态硬盘上电时的上电信号波形及抓取固态硬盘异常断电时的断电信号波形,并判断所述信号波形是否符合预设条件的步骤。本实施例中，B1、抓取固态硬盘上电时的上电信号波形的具体步骤如下：在服务器上安装Linux系统，将待测固态硬盘作为从盘外挂在服务器上，校准示波器和探头及通道间的deskew(校正好后，不动示波器的设置，不换探头，就不用重新校正)，并设置好示波器的各参数，找到待测试点。测试点：VB、Vin、Vstorage、PGs。给待测固态硬盘上电，示波器设置为“Single”单次触发，抓取待测固态硬盘的上电波形，量测两两信号之间的时序，保证芯片的上电时序符合datasheet要求，判断各信号在上升过程中边沿无回沟、无台阶，如果无回沟无台阶，则通过该项测试。B2、抓取固态硬盘异常断电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种验证固态硬盘掉电保护功能的测试方法，其特征在于:包括获取硬件信号验证测试数据、获取系统功能验证测试数据和获取可靠性验证测试数据，并判断相应测试数据是否满足预设条件的步骤。

【技术特征摘要】
1.一种验证固态硬盘掉电保护功能的测试方法，其特征在于:包括获取硬件信号验证测试数据、获取系统功能验证测试数据和获取可靠性验证测试数据，并判断相应测试数据是否满足预设条件的步骤。2.如权利要求1所述的验证固态硬盘掉电保护功能的测试方法，其特征在于：所述硬件信号验证测试包括获取掉电保护IC上下电时序测试数据和获取掉电保护时备电时序测试数据并判断相应测试数据是否满足预设条件的步骤；所述系统功能验证测试包括获取电容充放电时间数据和获取电容容量检测数据并判断相应测试数据是否满足预设条件的步骤。3.如权利要求2所述的验证固态硬盘掉电保护功能的测试方法，其特征在于：所述可靠性验证测试包括获取电容常温寿命测试数据、获取电容低温寿命测试数据和获取电容高温寿命测试数据，并判断相应测试数据是否满足预设条件的步骤。4.如权利要求3所述的验证固态硬盘掉电保护功能的测试方法，其特征在于：在所述获取掉电保护IC上下电时序测试数据的步骤中，包括抓取固态硬盘上电时的上电信号波形及抓取固态硬盘异常断电时的断电信号波形,并判断所述信号波形是否符合预设条件的步骤。5.如权利要求4所述的验证固态硬盘掉电保护功能的测试方法，其特征在于：在所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：李创锋，张威，
申请(专利权)人：深圳市金泰克半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44